[發(fā)明專利]一種紫外光通信發(fā)射端機可見光抑制比測試方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410363300.6
• 申請日: 2014-07-28
• 公開（公告）號: CN104135319A
• 公開（公告）日: 2014-11-05
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 孫權(quán)社;王少水;朱興邦;王國權(quán);趙發(fā)財;鄭祥亮;韓忠
• 申請（專利權(quán)）人: 中國電子科技集團公司第四十一研究所
• 主分類號: H04B10/07
• 分類號: H04B10/07;G01J3/28
• 代理公司: 北京眾合誠成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11246
• 代理人: 龔燮英

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于紫外光通信收發(fā)模塊校準技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及的是一種紫外光通信發(fā)射端機可見光抑制比測試方法。

背景技術(shù)

紫外光通信作為一種新型的軍事通信系統(tǒng)，具有低竊聽率、高抗干擾性、全方位性、易組網(wǎng)等優(yōu)點，成為國內(nèi)外各軍事強國爭先研究的焦點。紫外光通信系統(tǒng)理想的光源在日盲區(qū)應(yīng)具有較窄帶寬，目前可適用于紫外光通信的光源有紫外氣體放電燈(如低壓汞燈)、紫外激光器、紫外LED。其中紫外激光器和紫外LED的光譜均具有較窄的帶寬，而且沒有多余的譜線，是比較理想的紫外通信用光源，但是紫外激光器價格昂貴、光路調(diào)試復(fù)雜、體積大等因素限制了其實用化；而紫外LED的功率較小，無法達到光通信的傳輸能量要求。

氣體放電燈成為工程化紫外光通信系統(tǒng)的發(fā)光光源，利用放電燈進行光學(xué)傳輸?shù)乃枷朐诤芏喙_的專利中都有提及，如1975年公開的Martin?R.Dachs申請的美國專利3900404；1985年公開的Shinichi?Nakada申請的日本專利JP60032443；1997年公開的Michael?Smith申請的美國專利5657145。我國的紫外光通信起步較晚，但是在本領(lǐng)域也有很多相關(guān)的已授權(quán)專利或申請公開的發(fā)明專利和實用新型專利，如2007年公開的中國科學(xué)院上海光機所申請的名為“紫外光通信系統(tǒng)”的發(fā)明和實用新型專利，對應(yīng)專利號分別為ZL?200610116264.9，ZL?200620046090.9；北京郵電大學(xué)于2012年申請公開的名為“一種紫外光通信方法和紫外光通信系統(tǒng)”和“紫外光通信的方法和發(fā)射機”的發(fā)明專利，對應(yīng)申請?zhí)柗謩e為201210076043.9，201210076410.5；中國人民解放軍國防科學(xué)技術(shù)大學(xué)于2012年申請公開的名為“一種基于無極紫外通信的信號發(fā)射裝置及方法”，對應(yīng)申請?zhí)枮?01210282383.7。以上的專利主要介紹了以氣體放電燈作為發(fā)射端機光源的紫外光通信系統(tǒng)組成及工作過程，并沒有對發(fā)射端機光源的光譜輻射的測試需求及測試方法進行描述。

由于氣體放電燈具有寬光譜或多譜線，在日盲區(qū)邊界甚至可見光波段有一定的輻射能量，大大降低了紫外光通信的保密性。為了抑制光源的可見光成分，一般在光源輸出口放置濾光片，即使經(jīng)過濾光，光源在日盲區(qū)以外的其它譜段仍可能存在很強的輻射，為保證紫外光通信系統(tǒng)的保密性，必須對紫外光源的可見光成分進行監(jiān)測，由于發(fā)射端機工作時，光源發(fā)射的是調(diào)制光，所以直接采用輻射計或功率計測量發(fā)射機的總輻射強度和可見光段輻射強度均比較困難。目前尚未查到紫外調(diào)制光源能量分布的測試方法。

現(xiàn)階段能夠測量紫外輻射的儀器主要有紫外光譜儀、紫外輻射照度計、紫外光功率計等，均不能實現(xiàn)“可見光抑制比”的測量，主要存在以下幾個方面的缺陷：

(1)紫外光譜儀：紫外光譜儀是指測量范圍涵蓋紫外波段的光譜分析儀，多采用光柵分光；采用光電倍增管、紫外加強Si探測或CCD進行探測；具有波長校準功能，波長精度小于0.2nm。但是沒有光輻射校準功能，輸出信號沒有考慮探測器的光譜響應(yīng)率、光柵的衍射效率等因素的影響，不能準確測試光源的光譜輻射。

(2)紫外輻射照度計：一般含有帶通玻璃濾光器或干涉濾光器，使其工作于特定的波長范圍，如320nm～390nm、365nm、290nm～320nm及253.7nm。因此，紫外輻射照度計僅適用于測量紫外某一波段的輻射能量，而對整個紫外波段甚至可見光波段能量束手無策。

(3)紫外光功率計：一般采用Si作為探測器材料，可測量200nm～1100nm范圍的光功率，但是每次只能在一個波長點測量，不能測量寬光譜或多譜線的光源。

上述中紫外輻射照度計、紫外光功率計主要測試連續(xù)光，而發(fā)射端機工作時處于調(diào)制狀態(tài)，使得測試結(jié)果不可靠。

因此，現(xiàn)有技術(shù)存在缺陷，需要改進。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種紫外光通信發(fā)射端機可見光抑制比測試方法。

本發(fā)明的技術(shù)方案如下：

一種紫外光通信發(fā)射端機可見光抑制比測試方法，其中，包括以下步驟：

步驟1：驅(qū)動待測發(fā)射機發(fā)射調(diào)制信號，利用校準后的紫外光譜儀對調(diào)制信號220nm～780nm波段光譜進行掃描，得到220nm～380nm紫外波段和380nm～780nm可見光波段的輻射能量分布；

步驟2：通過積分方法計算分別求得380nm～780nm可見光段的光譜輻射能量和220nm～780nm整個譜段的全部光譜總輻射能量；