[發(fā)明專利]制造半導(dǎo)體器件的方法在審
申請?zhí)枺?/td> | 201410361182.5 | 申請日: | 2014-07-25 |
公開(公告)號: | CN104347437A | 公開(公告)日: | 2015-02-11 |
發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 宮木美典;山田勝 | 申請(專利權(quán))人: | 瑞薩電子株式會社 |
主分類號: | H01L21/58 | 分類號: | H01L21/58 |
代理公司: | 北京市金杜律師事務(wù)所 11256 | 代理人: | 王茂華;張寧 |
地址: | 日本神*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索關(guān)鍵詞: | 制造 半導(dǎo)體器件 方法 | ||
1.一種制造半導(dǎo)體器件的方法,包括以下步驟:
(a)提供布線襯底,所述布線襯底包括上表面、與所述上表面相對的下表面、設(shè)置在所述下表面上的第一器件區(qū)域、設(shè)置在所述下表面上且設(shè)置在所述第一器件區(qū)域附近的第二器件區(qū)域、設(shè)置在所述第一器件區(qū)域和所述第二器件區(qū)域之間的劃片區(qū)域、設(shè)置在所述下表面上并且設(shè)置在所述第一器件區(qū)域、所述第二器件區(qū)域和所述劃片區(qū)域周圍的外圍部分、設(shè)置在所述外圍部分中并且不設(shè)置在所述劃片區(qū)域的延伸線上的目標(biāo)標(biāo)記、以矩陣形狀設(shè)置在所述第一器件區(qū)域中的多個(gè)第一凸塊焊區(qū)、以矩陣形狀設(shè)置在所述第二器件區(qū)域中的多個(gè)第二凸塊焊區(qū)、以及形成在所述下表面之上使得露出所述第一凸塊焊區(qū)和所述第二凸塊焊區(qū)的絕緣膜;其中:
所述第一凸塊焊區(qū)具有第一最外外圍凸塊焊區(qū)行,所述第一最外外圍凸塊焊區(qū)行布置在所述第一凸塊焊區(qū)中的最外外圍行中并且最靠近所述劃片區(qū)域,
所述第二凸塊焊區(qū)具有第二最外外圍凸塊焊區(qū)行,所述第二最外外圍凸塊焊區(qū)行布置在所述第二凸塊焊區(qū)中的最外外圍行中并且最靠近所述劃片區(qū)域,以及
所述目標(biāo)標(biāo)記在平面圖中被設(shè)置在所述劃片區(qū)域的延伸線與所述第一最外外圍凸塊焊區(qū)行和所述第二最外外圍凸塊焊區(qū)行的延伸線中的每個(gè)延伸線之間,
(b)在所述步驟(a)之后,將第一半導(dǎo)體芯片和第二半導(dǎo)體芯片中的每一個(gè)安裝在所述布線襯底的上表面上;
(c)在所述步驟(b)之后,利用樹脂密封所述第一半導(dǎo)體芯片和所述第二半導(dǎo)體芯片;
(d)在所述步驟(c)之后,分別在所述第一凸塊焊區(qū)和所述第二凸塊焊區(qū)上形成多個(gè)第一外部端子和多個(gè)第二外部端子;以及
(e)在所述步驟(d)之后,基于所述目標(biāo)標(biāo)記指定所述劃片區(qū)域,并且沿著所述劃片區(qū)域切割所述布線襯底,其中
在所述步驟(e)中,使用劃片刀切割所述布線襯底。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制造半導(dǎo)體器件的方法,
其中在所述布線襯底的上表面之上形成絕緣膜;
其中在所述第一凸塊焊區(qū)和所述第二凸塊焊區(qū)的表面中的每個(gè)表面上形成鍍膜;
其中在形成所述鍍膜的步驟中,通過使用在所述劃片區(qū)域中形成的饋線來形成所述鍍膜;以及
其中在形成所述鍍膜之后,去除在所述布線襯底的所述劃片區(qū)域中形成的所述饋線和覆蓋所述饋線的所述絕緣膜。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制造半導(dǎo)體器件的方法,
其中在所述布線襯底的劃片區(qū)域中,設(shè)置用于鍍覆以電連接到所述第一凸塊焊區(qū)中的每一個(gè)和所述第二凸塊焊區(qū)中的每一個(gè)的饋線;以及
其中所述饋線覆蓋有所述絕緣膜。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制造半導(dǎo)體器件的方法,
其中所述目標(biāo)標(biāo)記包括第一圖案和第二圖案,所述第二圖案設(shè)置在所述第一圖案附近并且與所述第一圖案分開。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的制造半導(dǎo)體器件的方法,
其中所述第一圖案和所述第二圖案的尺寸彼此不同。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的制造半導(dǎo)體器件的方法,
其中所述第一圖案和所述第二圖案中的任一個(gè)具有第一延伸部分和第二延伸部分,所述第一延伸部分沿著所述劃片區(qū)域的延伸方向延伸,所述第二延伸部分與所述第一延伸部分相交。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的制造半導(dǎo)體器件的方法,
其中所述第一圖案和所述第二圖案中的每一個(gè)具有第一延伸部分和第二延伸部分,所述第一延伸部分沿著所述劃片區(qū)域的延伸方向延伸,所述第二延伸部分與所述第一延伸部分相交。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造