[發明專利]直接轉換的X 射線探測器

在審

• 申請號: 201410360181.9
• 申請日: 2014-07-25
• 公開（公告）號: CN104345330A
• 公開（公告）日: 2015-02-11
• 發明（設計）人: T.埃爾格勒;A.弗羅因德;B.克賴斯勒;C.施羅特;S.沃思
• 申請（專利權）人: 西門子公司
• 主分類號: G01T1/24
• 分類號: G01T1/24;G01T7/00
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 熊雪梅

1.一種用于探測X射線輻射的直接轉換的X射線探測器或X射線探測器模塊，具有：為探測X射線輻射而使用的直接轉換器(1)；至少一個至少部分在X射線輻射的輻射方向上在所述直接轉換器(1)前布置的準直器(2)；以及至少一個輻射源(6)，其布置在所述直接轉換器(1)側面并且以附加的輻射間接照射所述直接轉換器(1)，其中，所述至少一個準直器(2)在面向所述直接轉換器(1)的側面具有至少一個反射層(3)，在該反射層處將附加的輻射反射到所述直接轉換器(1)上，并且具有冷卻裝置(7)，通過該冷卻裝置能夠冷卻所述至少一個輻射源(6)。

2.按照權利要求1所述的X射線探測器，其中，所述準直器(2)至少部分地由導熱材料構成，并且所述至少一個輻射源(6)被集成在至少一個冷卻器(7)中，所述冷卻器與所述準直器(2)導熱地連接。

3.按照權利要求1或2所述的X射線探測器，其中，所述準直器(2)至少部分地由導熱材料構成，并且所述至少一個輻射源(6)被集成在至少一個冷卻器(7)中，所述冷卻器是所述準直器(2)的集成組成部分。

4.按照上述權利要求中任一項所述的X射線探測器，其中，所述準直器(2)由金屬構成，并且具有金屬薄片或者金屬格柵。

5.按照上述權利要求中任一項所述的X射線探測器，其中，所述至少一個輻射源(6)被構造成一個或多個發光二極管。

6.按照上述權利要求中任一項所述的X射線探測器，其中，所述輻射源(6)被構造成用于發射紅外線輻射。

7.按照上述權利要求中任一項所述的X射線探測器，其中，在所述直接轉換器(1)的至少兩個側面上布置有至少兩個輻射源(6)。

8.按照上述權利要求中任一項所述的X射線探測器，其中，在所述直接轉換器(1)與所述至少一個準直器(2)之間構造了用于附加的輻射的間隙(5)。

9.按照上述權利要求中任一項所述的X射線探測器，其中，所述X射線探測器被構造成用于在CT系統(10)中使用的計算機斷層造影X射線探測器。