[發(fā)明專利]光學(xué)檢測(cè)機(jī)臺(tái)間共享設(shè)定參數(shù)的設(shè)定方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410359003.4 | 申請(qǐng)日: | 2014-07-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105277566B | 公開(公告)日: | 2017-11-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 汪光夏;陳輝毓 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 牧德科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司44202 | 代理人: | 段建軍 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光學(xué) 檢測(cè) 機(jī)臺(tái) 共享 設(shè)定 參數(shù) 方法 | ||
1.一種光學(xué)檢測(cè)機(jī)臺(tái)間自動(dòng)設(shè)定參數(shù)的設(shè)定方法,其特征在于包含:
基準(zhǔn)灰度值取得步驟,提供一標(biāo)準(zhǔn)片至基準(zhǔn)光學(xué)檢測(cè)機(jī)臺(tái)中,通過該基準(zhǔn)光學(xué)檢測(cè)機(jī)臺(tái)的光源裝置照射該標(biāo)準(zhǔn)片以借由該基準(zhǔn)光學(xué)檢測(cè)機(jī)臺(tái)的取像裝置取得該標(biāo)準(zhǔn)片在照射下的基準(zhǔn)圖像,自該基準(zhǔn)圖像取得對(duì)應(yīng)的基準(zhǔn)灰度值和基準(zhǔn)光源輸出設(shè)定值;
測(cè)試灰度值取得步驟,提供該標(biāo)準(zhǔn)片至其他光學(xué)檢測(cè)機(jī)臺(tái)中,通過其他光學(xué)檢測(cè)機(jī)臺(tái)的光源裝置照射該標(biāo)準(zhǔn)片以借由其他光學(xué)檢測(cè)機(jī)臺(tái)的取像裝置取得該標(biāo)準(zhǔn)片在照射下的測(cè)試圖像,自該測(cè)試圖像取得對(duì)應(yīng)的測(cè)試灰度值;
光源裝置調(diào)整步驟,根據(jù)該測(cè)試灰度值與該基準(zhǔn)灰度值的比較對(duì)應(yīng)調(diào)整其他光學(xué)檢測(cè)機(jī)臺(tái)的光源裝置的輸出光強(qiáng)度,直至該測(cè)試灰度值與該基準(zhǔn)灰度值的差值滿足預(yù)設(shè)條件;其中,該預(yù)設(shè)條件為該測(cè)試灰度值與該基準(zhǔn)灰度值的差值的絕對(duì)值必須小于一預(yù)定值,且在未小于該預(yù)定值時(shí)進(jìn)一步判斷該測(cè)試灰度值是否大于該基準(zhǔn)灰度值,在該測(cè)試灰度值大于該基準(zhǔn)灰度值時(shí)降低其他光學(xué)檢測(cè)機(jī)臺(tái)對(duì)應(yīng)的光源裝置的光源輸出設(shè)定值,以及在該測(cè)試灰度值小于該基準(zhǔn)灰度值時(shí)增加其他光學(xué)檢測(cè)機(jī)臺(tái)對(duì)應(yīng)的光源裝置的光源輸出設(shè)定值;及
光源裝置設(shè)定步驟,根據(jù)該光源裝置調(diào)整步驟中的滿足該預(yù)設(shè)條件下的輸出光強(qiáng)度,記錄其他光學(xué)檢測(cè)機(jī)臺(tái)的光源裝置的光源輸出設(shè)定值以作為對(duì)應(yīng)的其他光學(xué)檢測(cè)機(jī)臺(tái)的校正參數(shù)。
2.如權(quán)利要求1所述的設(shè)定方法,其特征在于,在該光源裝置設(shè)定步驟完成后,以該標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)待調(diào)整的另一其他光學(xué)檢測(cè)機(jī)臺(tái)再次進(jìn)行該測(cè)試灰度值取得步驟、該光源裝置調(diào)整步驟及該光源裝置設(shè)定步驟,以完成所有待調(diào)整的其他光學(xué)檢測(cè)機(jī)臺(tái)的校正參數(shù)的設(shè)定。
3.如權(quán)利要求1或2所述的設(shè)定方法,其特征在于,在該基準(zhǔn)光學(xué)檢測(cè)機(jī)臺(tái)及其他光學(xué)檢測(cè)機(jī)臺(tái)具有多個(gè)光源裝置時(shí),針對(duì)單一光源裝置依序取得該基準(zhǔn)光學(xué)檢測(cè)機(jī)臺(tái)的光源裝置在該標(biāo)準(zhǔn)片下的基準(zhǔn)灰度值,以供其他光學(xué)檢測(cè)機(jī)臺(tái)對(duì)應(yīng)的光源裝置依序地對(duì)應(yīng)設(shè)定。
4.如權(quán)利要求3所述的設(shè)定方法,其特征在于,該基準(zhǔn)光源輸出設(shè)定值的取得是借由提供一電路板至該基準(zhǔn)光學(xué)檢測(cè)機(jī)臺(tái)中,并基于取得正確的該電路板的影像的條件下,對(duì)該基準(zhǔn)光學(xué)檢測(cè)機(jī)臺(tái)的光源裝置所設(shè)定的輸出光強(qiáng)度,以作為該基準(zhǔn)光源輸出設(shè)定值。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于牧德科技股份有限公司,未經(jīng)牧德科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410359003.4/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種織物瑕疵檢測(cè)方法
- 下一篇:顯微成像裝置及與顯微鏡配合使用的裝置
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
- 服務(wù)器、系統(tǒng)及信息共享方法
- 一種信息共享系統(tǒng)及信息共享方法
- 一種移動(dòng)終端的數(shù)據(jù)無線共享方法及該移動(dòng)終端
- 一種桌面共享系統(tǒng)及方法
- 一種用于共享移動(dòng)汽車電池的方法
- 一種基于物聯(lián)網(wǎng)的移動(dòng)共享方法及移動(dòng)共享系統(tǒng)
- 一種數(shù)據(jù)共享方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 基于云平臺(tái)的數(shù)據(jù)共享方法、裝置、共享平臺(tái)及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 確定共享乘坐度量
- 設(shè)備功能共享方法、裝置、終端及存儲(chǔ)介質(zhì)





