[發明專利]一種太陽能硅片切割工藝無效
| 申請號: | 201410358445.7 | 申請日: | 2014-07-25 |
| 公開(公告)號: | CN104118069A | 公開(公告)日: | 2014-10-29 |
| 發明(設計)人: | 張力峰 | 申請(專利權)人: | 蘇州晶櫻光電科技有限公司 |
| 主分類號: | B28D5/04 | 分類號: | B28D5/04;B28D7/00 |
| 代理公司: | 張家港市高松專利事務所(普通合伙) 32209 | 代理人: | 陳曉岷 |
| 地址: | 215612 江蘇省蘇州市張*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 太陽能 硅片 切割 工藝 | ||
技術領域
本發明涉及一種切割工藝,特別是指一種太陽能硅片切割工藝。?
背景技術
太陽能硅片的切割一般都是利用硅棒在多線切割機切割成硅片,在切割的過程中都要用到切割用砂漿,而目前一般都是采用PEG切割液與碳化硅微粉混合而成,然在混合之前需要對碳化硅微粉在烘箱內烘干去除水分才可使用;且在混合時依舊會受到環境中濕度的影響,濕度過高時攪拌的砂漿中的碳化硅容易抱團,造成切割良率下降。另外,切割完成后的硅片的清洗需要消耗大量的水和化學清洗液才能去除PEG切割液和其他雜質,造成原料的浪費。另外PEG切割液的價格比較昂貴。?
發明內容
本發明所要解決的技術問題是:提供一種太陽能硅片切割工藝,該切割工藝利用DEG切割液與碳化硅混合成砂漿加入到多線切割機中進行切片,無需對碳化硅進行烘烤,避免抱團現象,同時便于清洗,減少清潔水和化學清洗液的用量。?
為解決上述技術問題,本發明的技術方案是:一種太陽能硅片切割工藝,其包括以下步驟:?
A、砂漿的配置:將碳化硅與DEG切割液按照重量比1:0.9-1:1.2的范圍加入配置罐內進行攪拌至少三個小時,攪拌持續要砂漿用完為止:?
B、將配置好的砂漿加入多線切割機的漿料罐中,利用多線切割機對硅棒進行切割,在切割時利用冷卻水先對砂漿冷卻到18-20℃之間,然后再加入硅棒切割位置;?
C、將切割好的硅片利用清潔水進行預清洗;?
D、將預清洗后的硅片放入到清洗機中進行再次清洗,清洗時添加清洗劑去除DEG切割液殘留和其他雜質;?
E、對硅片進行檢測后包裝。?
其中,優選的,所述步驟A中碳化硅的粒徑在6.5-7um。?
其中,優選的,所述步驟B中多線切割機使用的鋼線為110um或115um或120um。?
其中,優選的,所述步驟C中預清洗所使用的清潔水為自來水。?
其中,優選的,所述清潔劑為KOH或NP-10清潔劑。?
采用了上述技術方案后,本發明的效果是:由于采用了DEG切割液與碳化硅進行混合成砂漿,而DEG切割液為水性切割液,DEG的吸水性小于PEG,流動性優于PEG,那么在混合攪拌之前中碳化硅無需烘干去除水分,碳化硅依舊不會抱團,避免因抱團造成切割良率下降的現象發生。而在切割時冷卻溫度控制在18-20℃之間可以確保砂漿粘附適中,增加鋼線帶砂能力,提高切割效果。切割完成后的先用清潔水預清洗可以清理硅片上絕大部分的DEG殘留,DEG為水性切割液,易用清潔水清洗,節省了清潔水和化學清潔劑。?
具體實施方式
下面通過具體實施例對本發明作進一步的詳細描述。?
一種太陽能硅片切割工藝,其包括以下步驟:?
A、砂漿的配置:將碳化硅與DEG切割液按照重量比1:0.9-1:1.2的范圍加入配置罐內進行攪拌至少三個小時,攪拌持續要砂漿用完為止:一般優選的碳化硅與DEG切割液的重量比為,碳化硅的粒徑在6.5-7um,攪拌三個小時候才可以用于切割,DEG切割液與碳化硅在配置罐內充分攪拌,無需預先烘烤碳化硅,節省了工時,無需烤箱投入,節省了功耗,降低成本。DEG(甘二醇)切割液是一種水性切割液,流動性好于PEG,吸水性小于PEG,在25℃時,DEG的粘度為24.5Pa.s,而PEG的粘度為38Pa.s。?
B、將配置好的砂漿加入多線切割機的漿料罐中,利用多線切割機對硅棒進?行切割,在切割時利用冷卻水對硅棒切割位置進行冷卻,冷卻溫度在18-20℃之間,一般溫度在19℃時最優,而DEG切割液溫度下降其粘度會上升,因此,利用該特性,使切割溫度在19℃時,DEG粘度增加切割帶砂能力與目前普通P?EG切割時的帶砂能力接近,彌補了因粘度較低而帶來的切割力下降的影響。多線切割機使用的鋼線為110um或115um或120um。可根據切割硅片的厚度來進行選擇。?
C、將切割好的硅片利用清潔水進行預清洗;所使用的清潔水一般采用自來水即可,清潔水的預清洗可沖洗硅片上的大部分可見雜質和DEG切割液,由于DEG切割液是水性切割液,因此便于清潔,用水量減少。?
D、將預清洗后的硅片放入到清洗機中進行再次清洗,清洗時添加清洗劑去除DEG切割液殘留和其他雜質;所述清潔劑為KOH或NP-10清潔劑。此步驟主要目的是清洗一些不可見雜質,例如各種離子雜質,還有少量殘留的DEG切割液,硅粉和碳化硅顆粒。?
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