[發明專利]一種用于模擬憶阻元件的實驗裝置

有效

• 申請號: 201410357989.1
• 申請日: 2014-07-25
• 公開（公告）號: CN104134383B
• 公開（公告）日: 2017-01-04
• 發明（設計）人: 李力行;梁涵卿;董文凱;季一寧;鄧忻依
• 申請（專利權）人: 華北電力大學（保定）
• 主分類號: G09B23/18
• 分類號: G09B23/18
• 代理公司: 石家莊冀科專利商標事務所有限公司13108
• 代理人: 李羨民,高錫明

1.一種用于模擬憶阻元件的實驗裝置，其特征是，它包括積分電路、V/I變換電路、非線性電阻和反饋電路，所述V/I變換電路包括兩個運算放大器和五個電阻，第一運算放大器（F1）的同相輸入端經第一電阻（R1）接積分電路的輸出端，反相輸入端經第二電阻（R2）接地并經第三電阻（R3）接其輸出端，輸出端依次經第四電阻（R4）和非線性電阻接地，第二運算放大器（F2）接成電壓跟隨器，其輸入端接于第四電阻（R4）和非線性電阻之間，輸出端經第五電阻（R5）接第一運算放大器（F1）的同相輸入端。

2.根據權利要求1所述的用于模擬憶阻元件的實驗裝置，其特征是，所述反饋電路包括微分電容（C1）、兩個運算放大器和三個電阻，第三運算放大器（F3）的同相輸入端經第六電阻（R6）接地，反相輸入端經第七電阻（R7）接其輸出端并經第八電阻（R8）接于第四電阻（R4）和非線性電阻之間，第四運算放大器（F4）采用AD844，其同相輸入端接第三運算放大器（F3）的輸出端，反相輸入端經微分電容（C1）接地，TZ端接積分電路的輸入端。

3.根據權利要求1或2所述的用于模擬憶阻元件的實驗裝置，其特征是，所述積分電路包括第五運算放大器（F5）、積分電容（C2）和第九電阻（R9），第五運算放大器（F5）采用AD844，其同相輸入端為積分電路的輸入端，反相輸入端經第九電阻（R9）接地，TZ端經積分電容（C2）接地。

4.根據權利要求3所述的用于模擬憶阻元件的實驗裝置，其特征是，所述非線性電阻由二極管（D）和兩個電阻連接而成，第十電阻（R10）與二極管（D）串聯連接后再與第十一電阻（R11）并聯連接。