[發明專利]一種電阻負載系數的自校準測試方法

有效

• 申請號: 201410357458.2
• 申請日: 2014-07-25
• 公開（公告）號: CN104375109B
• 公開（公告）日: 2017-12-29
• 發明（設計）人: 李正坤;王剛;張鐘華;魯云峰;韓冰;賀青
• 申請（專利權）人: 中國計量科學研究院
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00;G01R1/44;G01R27/08
• 代理公司: 北京冠和權律師事務所11399
• 代理人: 趙曉艾,章彥奇

1.一種電阻負載系數的自校準測試方法，其能夠進行電阻負載系數的自校準及其他電阻負載系數的測試，其特征在于，用同一阻值和型號的多個小型電阻元件串并聯而成為不同的整體四線電阻，使得整體四線電阻的電流引線中通電流時，所述整體四線電阻的電阻元件的電壓降一樣，從而使得每個電阻元件的負載一樣，其中，不同的整體四線電阻中各個電阻元件上的電壓成一固定比值ξ，所述固定比值ξ不隨DCC電橋輸出電壓的變化而變化，所用的小型電阻元件應事先進行測試，保證其溫度特性一致；

其中，用不同的串并聯方式構造兩個不同結構的整體四線電阻A和B，當這兩個整體四線電阻用DCC電橋進行比較測量時，整體四線電阻A和整體四線電阻B電壓引線上的電壓是相等的，但整體四線電阻A中的電阻元件和整體四線電阻B中的電阻元件的負載不同；

構成整體四線電阻A和整體四線電阻B后，負載系數自校準測試步驟如下：

(1)用DCC電橋測定整體四線電阻A和整體四線電阻B的比例γ₁；

(2)改變電阻A和電阻B輸入電壓的大小，再次用DCC電橋測量整體四線電阻A和整體四線電阻B的比例γ₂，在整個測量過程中DCC電橋處于不重啟的工作狀態；

(3)利用所得的兩個比例值γ₁和γ₂計算出整體四線電阻A和整體四線電阻B的負載系數。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，完成了上述的負載系數自校準測試后，整體四線電阻A和整體四線電阻B中的任一個均可作為負載系數已知的參考電阻，再利用DCC電橋測量其他被測電阻的負載系數。