[發(fā)明專利]一種改善GaN基LED效率下降的外延結(jié)構(gòu)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410356966.9 | 申請(qǐng)日: | 2014-07-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104134732A | 公開(公告)日: | 2014-11-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 琚晶;馬后永;李起鳴;徐慧文;孫傳平 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 映瑞光電科技(上海)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L33/26 | 分類號(hào): | H01L33/26;H01L33/06 |
| 代理公司: | 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 鄭瑋 |
| 地址: | 201306 上海市*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 改善 gan led 效率 下降 外延 結(jié)構(gòu) | ||
1.一種改善GaN基LED效率下降的外延結(jié)構(gòu),所述結(jié)構(gòu)包括襯底和依次堆疊在襯底上的GaN底層、超晶格應(yīng)力釋放層、多量子阱層、P型InGaN插入層、P型電子阻擋層以及P型GaN層。
2.如權(quán)利要求1所述的改善GaN基LED效率下降的外延結(jié)構(gòu),其特征在于,所述P型InGaN插入層為脈沖式Mg摻雜,In的組分從0%至7%漸變;所述P型InGaN插入層的厚度為3nm~12nm,Mg摻雜濃度范圍是1e18cm-3~1e19cm-3。
3.如權(quán)利要求1所述的改善GaN基LED效率下降的外延結(jié)構(gòu),其特征在于,所述電子阻擋層為pAlGaN、或者由pAlGaN/pGaN組成的超晶格結(jié)構(gòu),所述電子阻擋層的厚度為30~80nm。
4.如權(quán)利要求1所述的改善GaN基LED效率下降的外延結(jié)構(gòu),其特征在于,所述P型GaN層中鎂的摻雜濃度范圍是1e19cm-3~6e20cm-3,所述P型GaN層的厚度為30nm~50nm。
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