[發明專利]電阻式觸摸屏的校準方法有效

申請號：	201410355371.1	申請日：	2014-07-24
公開（公告）號：	CN104111766B	公開（公告）日：	2017-06-20
發明（設計）人：	張明輝;劉勤能	申請（專利權）人：	福建聯迪商用設備有限公司
主分類號：	G06F3/045	分類號：	G06F3/045
代理公司：	福州市景弘專利代理事務所(普通合伙)35219	代理人：	林祥翔,呂元輝
地址：	350003 福建省福州市鼓***	國省代碼：	福建;35
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摘要：
搜索關鍵詞：	電阻觸摸屏校準方法
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【權利要求書】：

1.一種電阻式觸摸屏的校準方法，包括步驟：

在一批使用電阻式觸摸屏的電子設備產品中選取m臺電子設備，其中m≥1；

對每臺取出的電子設備的電阻式觸摸屏的進行測試，以獲取該電子設備的校準參數，所述校準參數包括電阻式觸摸屏上各點的物理坐標與邏輯坐標之間的函數關系參數，校準參數的獲取過程包括步驟：

在每臺取出的電子設備的電阻式觸摸屏上取n個的測試點，n≥2，

點觸各測試點，得到各測試點的邏輯坐標，

根據各測試點的物理坐標與邏輯坐標計算校準參數；

將校準參數或其平均值存入每一臺該批電子設備中；

校準參數包括X軸偏差系數k_x，Y軸偏差系數k_y，以及基準點的物理坐標與邏輯坐標，校準參數的獲取過程包括步驟：

在電阻式觸摸屏上取n個的測試點，n≥3，其中至少3個測試點的物理X坐標不同，且至少3個測試點的物理Y坐標不同，各測試點物理坐標分別表示為(X_a，Y_a)，(X_b，Y_b)……(X_n，Y_n)；

點觸各測試點，得到各測試點的邏輯坐標(X_La，Y_La)，(X_Lb，Y_Lb)……(X_Ln，Y_Ln)；

在測試點中，選取p對物理X坐標不同的測試點計算X軸偏差系數k_x，p≥1，選取q對物理Y坐標不同的測試點計算Y軸偏差系數k_y，q≥1，x軸偏差系數k_x的計算公式如下：其中ΔX_Li表示每對物理X坐標不同的點的邏輯X坐標差值，ΔX_i表示每對物理X坐標不同的點的物理X坐標差值，Y軸偏差系數k_y的計算公式如下：其中ΔY_Li表示每對物理Y坐標不同的點的邏輯Y坐標差值，ΔY_i表示每對物理Y坐標不同的點的物理Y坐標差值；

在測試點中選取一點C點(X_c，Y_c)點作為基準點，記錄該電子設備的校準參數如下：基準點C的物理坐標(X_c，Y_c)，基準點C的邏輯坐標(X_Lc，Y_Lc)，X軸偏差系數k_x以及Y軸偏差系數k_y；

取m臺電子設備的基準點C的邏輯坐標(X_Lc，Y_Lc)，X軸偏差系數k_x，以及Y軸偏差系數k_y，分別得到以上參數的平均值以及

將基準點C的物理坐標(X_c，Y_c)，基準點C的邏輯坐標的平均值X軸偏差系數平均值以及Y軸偏差系數平均值存入每一臺該批電子設備中。

2.根據權利要求1所述的電阻式觸摸屏的校準方法，其特征在于，點觸各測試點，得到各測試點的邏輯坐標(X_La，Y_La)，(X_Lb，Y_Lb)……(X_Ln，Y_Ln)之后，比較測試點之間的邏輯坐標的差值與物理坐標的差值之間的差異，若測試點的邏輯坐標的差值與物理坐標的差值之間的差異在預設范圍之內，則進行下一步驟，否則重復點觸各測試點，以重新得到各測試點的邏輯坐標(X_La，Y_La)，(X_Lb，Y_Lb)……(X_Ln，Y_Ln)，直至測試點的邏輯坐標的差值與物理坐標的差值的之間差異在預設范圍之內。