[發明專利]再現裝置和再現方法有效
| 申請號: | 201410354469.5 | 申請日: | 2014-07-23 |
| 公開(公告)號: | CN104347090B | 公開(公告)日: | 2018-11-20 |
| 發明(設計)人: | 齊藤公博;關口浩司 | 申請(專利權)人: | 索尼公司 |
| 主分類號: | G11B7/005 | 分類號: | G11B7/005;G11B7/24094 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人: | 余剛;吳孟秋 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 再現 裝置 方法 | ||
1.一種再現裝置,包括:
光學系統,通過對記錄介質照射從光源發出的光來獲得反映了槽脊和凹槽的兩個記錄信號的信號光并且從由所述光源發出的光生成參考光,在所述記錄介質中,信號被記錄在所述槽脊和所述凹槽兩者中;并且針對重疊光來生成相位差被給出為約0°的第一組的所述信號光和所述參考光、相位差被給出為約180°的第二組的所述信號光和所述參考光、相位差被給出為約90°的第三組的所述信號光和所述參考光以及相位差被給出為約270°的第四組的所述信號光和所述參考光,在所述重疊光中,所述信號光與所述參考光相互重疊;
光接收單元,通過第一光接收元件接收所述第一組的所述信號光和所述參考光的光、通過第二光接收元件接收所述第二組的所述信號光和所述參考光的光、通過第三光接收元件接收所述第三組的所述信號光和所述參考光的光、并且通過第四光接收元件接收所述第四組的所述信號光和所述參考光的光;以及
再現信號生成電路,計算第一差分信號和第二差分信號,所述第一差分信號是從所述第一光接收元件獲得的第一光接收信號與從所述第二光接收元件獲得的第二光接收信號之間的差,所述第二差分信號是從所述第三光接收元件獲得的第三光接收信號與從所述第四光接收元件獲得的第四光接收信號之間的差;并且通過利用所述第一差分信號和所述第二差分信號執行運算操作來生成再現信號,從所述再現信號去除所述參考光的相位偏差以及與所述槽脊和所述凹槽之間的臺階相對應的值的相位偏移。
2.根據權利要求1所述的再現裝置,
其中,通過利用反射鏡反射從所述光源發出的光來生成所述參考光。
3.根據權利要求1所述的再現裝置,
其中,當將作為從中提取了所述第一差分信號的低頻分量的信號的第一低頻信號設定為cosθ并且將作為從中提取了所述第二差分信號的低頻分量的信號的第二低頻信號設定為sinθ時,所述再現信號生成電路通過計算arctanθ來獲得所述信號光與所述參考光之間的相位偏差θ的值并且利用該θ值和所述相位偏移執行運算操作。
4.根據權利要求3所述的再現裝置,
其中,所述相位偏移約等于n是折射率,d是所述槽脊與所述凹槽之間的臺階,并且λ是光的波長。
5.根據權利要求4所述的再現裝置,
其中,當所述第一差分信號的值被設定為a并且所述第二差分信號的值被設定為b時,所述再現信號生成電路通過執行a·sin(ψ-θ(t))-b·cos(ψ-θ(t))的運算操作來獲得所述再現信號。
6.一種再現方法,包括:
利用光學系統,通過對記錄介質照射從光源發出的光來獲得反映了槽脊和凹槽的兩個記錄信號的信號光并且從由所述光源發出的光生成參考光,在所述記錄介質中,信號被記錄在所述槽脊和所述凹槽兩者中;并且針對重疊光生成相位差被給出為約0°的第一組的所述信號光和所述參考光、相位差被給出為約180°的第二組的所述信號光和所述參考光、相位差被給出為約90°的第三組的所述信號光和所述參考光以及相位差被給出為約270°的第四組的所述信號光和所述參考光,在所述重疊光中,所述信號光與所述參考光相互重疊;
通過第一光接收元件接收所述第一組的所述信號光和所述參考光的光,通過第二光接收元件接收所述第二組的所述信號光和所述參考光的光,通過第三光接收元件接收所述第三組的所述信號光和所述參考光的光,并且通過第四光接收元件接收所述第四組的所述信號光和所述參考光的光;以及
計算第一差分信號和第二差分信號,所述第一差分信號是從所述第一光接收元件獲得的第一光接收信號與從所述第二光接收元件獲得的第二光接收信號之間的差,所述第二差分信號是從所述第三光接收元件獲得的第三光接收信號與從所述第四光接收元件獲得的第四光接收信號之間的差;并且通過利用所述第一差分信號和所述第二差分信號執行運算操作來生成再現信號,從所述再現信號去除所述參考光的相位偏差以及與所述槽脊和所述凹槽之間的臺階相對應的值的相位偏移。
7.根據權利要求6所述的再現方法,
其中,通過利用反射鏡反射從所述光源發出的光來生成所述參考光。
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