[發明專利]嵌入式系統的測試方法、測試裝置和測試系統

在審

• 申請號: 201410354460.4
• 申請日: 2014-07-23
• 公開（公告）號: CN105335177A
• 公開（公告）日: 2016-02-17
• 發明（設計）人: 周博;郭平日;李奇峰;楊云
• 申請（專利權）人: 比亞迪股份有限公司
• 主分類號: G06F9/445
• 分類號: G06F9/445
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 張大威

1.一種嵌入式系統的測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

獲取嵌入式系統中待測設備的驅動程序、故障發生模擬程序和測試程序，并寫入嵌入式系統；

根據所述測試程序對所述故障發生模擬程序進行配置以使所述故障發生模擬程序生成測試實例；

所述嵌入式系統執行所述驅動程序以運行所述待測設備；以及

通過所述故障發生模擬程序根據所述測試實例對所述嵌入式系統中的待測設備進行修改，并對所述待測設備進行測試。

2.如權利要求1所述的嵌入式系統的測試方法，其特征在于，在所述嵌入式系統處于測試狀態時，控制所述故障發生模擬程序啟動，在所述嵌入式系統處于工作狀態時，控制所述故障發生模擬程序關閉并鎖定。

3.如權利要求1所述的嵌入式系統的測試方法，其特征在于，所述對所述故障發生模擬程序進行配置以使所述故障發生模擬程序生成測試實例具體包括：

根據測試方案和測試類型對所述故障發生模擬程序進行配置以生成所述測試實例。

4.如權利要求3所述的嵌入式系統的測試方法，其特征在于，所述對所述待測設備進行測試具體包括：

采集所述待測設備的錯誤通知；

對所述錯誤通知進行分析，并結合所述測試方案生成測試結果。

5.一種嵌入式系統的測試裝置，其特征在于，包括：

故障發生模擬程序模塊，用于根據測試程序生成測試實例，并在所述嵌入式系統運行待測設備時，根據所述測試實例對所述嵌入式系統中的待測設備進行修改；

測試模塊，用于對所述待測設備進行測試。

6.如權利要求5所述的嵌入式系統的測試裝置，其特征在于，所述故障發生模擬程序模塊包括：

使能子模塊，用于對所述故障發生模擬程序模塊進行開啟或關閉控制；

功能配置子模塊，用于根據所述測試程序生成測試實例。

7.如權利要求6所述的嵌入式系統的測試裝置，其特征在于，所述故障發生模擬程序模塊還包括：

測試類型選擇子模塊，用于根據所述測試程序中的測試方案選擇測試類型。

8.如權利要求6所述的嵌入式系統的測試裝置，其特征在于，在所述嵌入式系統處于測試狀態時，所述使能子模塊控制所述故障發生模擬程序模塊啟動，在所述嵌入式系統處于工作狀態時，所述使能子模塊控制所述故障發生模擬程序模塊關閉。

9.如權利要求7所述的嵌入式系統的測試裝置，其特征在于，所述測試模塊采集所述待測設備的錯誤通知，并對所述錯誤通知進行分析，以及結合所述測試方案生成測試結果。

10.一種嵌入式系統的測試系統，其特征在于，包括如權利要求5-9中任一項所述的嵌入式系統的測試裝置。