[發(fā)明專利]一種測脂電路及體脂秤有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410351153.0 | 申請日: | 2014-07-23 |
| 公開(公告)號: | CN104083168A | 公開(公告)日: | 2014-10-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張悅 | 申請(專利權(quán))人: | 繽刻普銳(北京)科技有限責(zé)任公司 |
| 主分類號: | A61B5/053 | 分類號: | A61B5/053 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100094 北京市西城區(qū)新*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 電路 體脂秤 | ||
1.一種測脂電路,其特征在于:它包括依次連接的振蕩電路、反相交流放大電路、電阻選擇電路、電壓采樣電路和峰值取樣電路,其中所述振蕩電路輸出的交流信號經(jīng)過所述反相交流放大電路的放大后,形成具有一定波形和頻率的交流電壓;所述電阻選擇電路中第一測試電阻Rt、第二測試電阻Rt’和測量電極依次串聯(lián)成串聯(lián)電路,所述交流電壓加在所述串聯(lián)電路的兩端;所述電壓采樣電路可采集測量電極兩端的電壓、第二測試電阻Rt’兩端的電壓、第一測試電阻Rt和第二測試電阻Rt’兩端的電壓,并將所述電壓輸入所述峰值取樣電路;所述峰值取樣電路輸出所述電壓的峰值;
流過所述串聯(lián)電路的電流為I,所述峰值取樣電路中的二極管壓降為VD,測量加在所述測量電極之間的人體電阻Rb的步驟包括:
1)測試所述第一測試電阻Rt和第二測試電阻Rt’,在所述峰值取樣電路的輸出端獲得第一輸出電壓:
V1=I×(Rt+Rt’)-VD?????(1)
2)測試所述第二測試電阻Rt’,在所述峰值取樣電路的輸出端獲得第二輸出電壓:
V2=I×(Rt’)-VD?????(2)
3)測試所述人體電阻Rb,在所述峰值取樣電路的輸出端獲得第三輸出電壓:
V3=I×Rb-VD?????(3)
4)可計算出所述人體電阻Rb:
Rb=Rt×K+(Rt+Rt’)?????(4)
其中,K=(V3-V1)/(V1-V2);
考慮所述第一測試電阻Rt的等效偏移ΔR1和第二測試電阻Rt’的等效偏移ΔR2后,方程(4)變?yōu)?/p>
Rb=(Rt+ΔR1)×K+(Rt+Rt’)+ΔR2????(5)
5)將第一外部測試電阻Rcal1=Rt+Rt’放置到所述測量電極之間,并在所述峰值取樣電路的輸出端測得第一測試電壓Vc1;
6)將第二外部測試電阻Rcal2=Rt’放置到所述測量電極之間,并在所述峰值取樣電路的輸出端測得第二測試電壓Vc2;
7)將所述第一外部測試電阻Rcal1、所述第二外部測試電阻Rcal2、所述第一測試電壓Vc1、所述第二測試電壓Vc2代入方程(5)中,得到:
ΔR1=(Rt×(Vc1-Vc2))/(V1-V2)-Rt
ΔR2=((Vc1-V1)/(Vc1-Vc2))×Rt
將所述第一測試電阻Rt的等效偏移ΔR1和第二測試電阻Rt’的等效偏移ΔR2的值儲存起來,并在實際測量人體電阻Rb時代入方程(5)中可得到人體電阻Rb的精確數(shù)值。
2.如權(quán)利要求1所述的一種測脂電路,其特征在于:所述振蕩電路包括第一電阻、第二電阻、第三電阻、第四電阻、第一運算放大器、第一電容、第二電容和第三電容;所述第一電阻連接在第一運算放大器正輸入端和輸出端之間;所述第四電阻連接在所述第一運算放大器的負(fù)輸入端和輸出端之間;所述第二電阻和第三電阻串聯(lián)后與所述第一電容并聯(lián)成一混聯(lián)電路,且所述混聯(lián)電路連接在電源與接地點之間,所述第二電阻和第三電阻的中點連接所述第一運算放大器的正輸入端;所述第二電容連接在所述第一運算放大器的負(fù)輸入端和接地點之間;所述第一運算放大器的輸出端通過所述第三電容連接所述反相交流放大電路中的第五電阻。
3.如權(quán)利要求1所述的一種測脂電路,其特征在于:所述反相交流放大電路包括第五電阻、第六電阻、第七電阻、第八電阻、第四電容、第五電容和第二運算放大器;所述第六電阻和第五電容并聯(lián)后構(gòu)成的并聯(lián)電路連接在所述第二運算放大器的輸出端和負(fù)輸入端之間;所述第二運算放大器的輸出端連接第五電阻;所述第七電阻和第八電阻串聯(lián)后的串聯(lián)電路連接在電源與接地點之間,且所述第四電容與第八電阻并聯(lián)。
4.如權(quán)利要求1所述的一種測脂電路,其特征在于:所述電阻選擇電路還包括并聯(lián)在所述第一測試電阻兩端的第一開關(guān)組、并聯(lián)在所述第二測試電阻兩端的第二開關(guān)組、并聯(lián)在所述測量電極兩端的第三開關(guān)組;所述第一測試電阻、第二測試電阻、一對測量電極依次串聯(lián)后再與所述第五電容并聯(lián)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于繽刻普銳(北京)科技有限責(zé)任公司,未經(jīng)繽刻普銳(北京)科技有限責(zé)任公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410351153.0/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類





