[發明專利]一種高壓支柱瓷絕緣子超聲相控陣檢測用參考試塊

有效

• 申請號: 201410349881.8
• 申請日: 2014-07-22
• 公開（公告）號: CN104122328B
• 公開（公告）日: 2018-08-21
• 發明（設計）人: 張昕;李軍;苗興;袁芳;楊景健;高健;楊占君;李玉鵬;王斌;趙明忠;白濤;孫小平;席家福;王欣;董開松
• 申請（專利權）人: 國家電網公司;國網甘肅省電力公司;國網甘肅省電力公司電力科學研究院
• 主分類號: G01N29/04
• 分類號: G01N29/04
• 代理公司: 北京中恒高博知識產權代理有限公司 11249
• 代理人: 姜萬林

本發明公開了一種高壓支柱瓷絕緣子超聲相控陣檢測專用參考試塊。試塊采用φ1mm通孔與深度為3mm、4mm、5mm月牙槽作為檢測系統調試人工缺陷反射體；具有儀器調試內部、表面及近表面同時顯示，一次完成的優點；月牙槽反射體符合真實裂紋特征；不設置模擬瓷瓶弧面，通過實測表格進行弧度補償，克服了在實際檢測工作中多種規格瓷瓶需采用多種規格試塊，分別進行儀器調整的缺點，大大提高了工作效率。本發明所述專用參考試塊，可以解決目前高壓支柱瓷絕緣子超聲相控陣檢測無專用參考試塊的問。

技術領域

本發明涉及材料無損檢測技術領域，具體地，涉及一種高壓支柱瓷絕緣子(以下簡稱“瓷瓶”)超聲相控陣檢測專用參考試塊。

背景技術

瓷瓶超聲相控陣檢測至今尚無專用參考試塊，本發明設計、開發制作的試塊主要應用于此項工作檢測系統性能校準和檢測結果評判。利用超聲相控陣檢測縱波扇形掃查方式，對“瓷瓶”檢測范圍內的內部缺陷、表面及近表面缺陷進行檢測。

目前，超聲相控陣檢測瓷瓶內部缺陷、表面及近表面缺陷沒有相關的產品可供使用。原有的《支柱瓷絕緣子及瓷套超聲波檢測》一書中所確定的JBX-1試塊和傳統的超聲波檢測瓷瓶的試塊，無論從儀器調整和缺陷評判角度考慮，均已無法滿足超聲相控陣瓷瓶檢測需要。

發明內容

本發明的目的在于，針對上述問題，提出一種高壓支柱瓷絕緣子超聲相控陣檢測專用參考試塊，以解決瓷瓶超聲相控陣檢測無參考試塊的問題，實現了校準難度小、檢測結果直觀、精度高和誤判率低的優點。

為實現上述目的，本發明采用的技術方案是：開發設計一種適合瓷瓶超聲相控陣檢測用參考試塊，采用月牙槽人工反射體作為表面及近表面缺陷檢測基準靈敏度調整依據，采用φ1mm通孔作為內部缺陷檢測基準靈敏度調整依據，用于超聲相控陣檢測高壓支柱瓷絕緣子的試塊本體，實現以下功能：

1.調整檢測系統掃描速度；

2.確定檢測靈敏度；

3.制作檢測DAC曲線；

4.對缺陷進行評定。

所述試塊分為I區、II區和III區三個區域。

進一步地，在所述試塊Ⅰ區設置8個φ1mm通孔，儀器調整時，從試塊本體上、下兩端面分別入射，距探測面垂直深度范圍為30-180mm，間距10mm；用于縱波入射檢測瓷瓶內部缺陷時檢測靈敏度調整和DAC曲線制作；

在所述試塊Ⅰ區上下兩檢測面分別設置一個表面開口的模擬裂紋月牙槽，槽長度30mm,寬度為0.4±0.02mm，最大深度5±0.02mm；作為表面及近表面缺陷檢測靈敏度調整和DAC曲線制作時的參考反射體。

進一步地，在所述試塊Ⅱ區設有9個φ1mm通孔，呈1/4圓周分布，半徑為50mm，用于相控陣檢測角度增益補償驗證，也用于作為現場臨時角度補償曲線制作依據。

進一步地，在所述試塊Ⅲ區設置有2個月牙槽，規格分別為寬度為0.4±0.02mm，最大深度分別為3±0.02mm和4±0.02mm，作為實際檢測時表面及近表面缺陷反射對比依據；也能夠起到檢測系統表面缺陷(近表面)最大檢測靈敏度驗證作用。

本發明的其它特征和優點將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實施本發明而了解。

下面通過附圖和示例，對本發明的技術方案做進一步的詳細描述。

附圖說明

附圖用來提供對本發明的進一步理解，并且構成說明書的一部分，與本發明的實例一起用于解釋本發明，并不構成對本發明的限制。在附圖中：

圖1為本發明高壓支柱瓷絕緣子超聲相控陣檢測專用參考試塊中檢測部位的結構示意圖；