[發明專利]一種OLED激光磨邊裝置

有效

• 申請號: 201410347293.0
• 申請日: 2014-07-21
• 公開（公告）號: CN104124401B
• 公開（公告）日: 2016-11-09
• 發明（設計）人: 向欣;禹浩榮;任海;樸章鎬
• 申請（專利權）人: 四川虹視顯示技術有限公司
• 主分類號: H01L51/56
• 分類號: H01L51/56
• 代理公司: 成都宏順專利代理事務所(普通合伙) 51227
• 代理人: 周永宏

技術領域

本發明屬于OLED顯示技術領域，特別涉及一種OLED激光磨邊裝置。

背景技術

OLED顯示技術具有自發光的特性，采用非常薄的有機材料涂層和玻璃基板，當有電流通過時，這些有機材料就會發光，而且OLED顯示屏幕可視角度大，并且能夠節省電能。現在在OLED基板切割裂片工序中常常在X/Y兩個垂直切割線方向交匯處即Cell邊角位置發生脆裂，這種缺陷導致電極損傷與綁定工藝的不良產生。隨著消費市場對顯示器件厚度的要求越來越薄，此種不良情況出現的幾率也大大增加。同時現在采用的砂輪磨邊工序，經常會產生靜電擊穿OLED器件電極。增大了加工難度，同時降低了生產良品率。

發明內容

本發明旨在提供一種OLED激光磨邊裝置，很好的解決了上述問題，結果簡單，使用方便，不會出現OLED基板脆裂和擊穿OLED器件的情況，提高了生產效率同時增大了生產的良品率，保證了加工精度。

本發明的技術方案是：一種OLED激光磨邊裝置，包括激光器定位部件，旋轉托盤部件，CCD檢測部件和托盤裝載部件，激光定位部件安裝于旋轉托盤部件后側，托盤裝載部件安裝于旋轉托盤部件前側，CCD檢測部件安裝與旋轉托盤部件左右兩側。CCD，英文全稱：Charge-coupled?Device，中文全稱：電荷耦合元件。可以稱為CCD圖像傳感器。CCD是一種半導體器件，能夠把光學影像轉化為數字信號。CCD上植入的微小光敏物質稱作像素。一塊CCD上包含的像素數越多，其提供的畫面分辨率也就越高。CCD的作用就像膠片一樣，但它是把光信號轉換成電荷信號。CCD上有許多排列整齊的光電二極管，能感應光線，并將光信號轉變成電信號，經外部采樣放大及模數轉換電路轉換成數字圖像信號。

進一步的，所述激光定位部件包括定位機臺，定位機臺上安裝有升降臺，升降臺上設置有調節滑塊，調節滑塊上安裝有激光器和顯微鏡。由于OLED器件較小，且加工精度要求很高，所以采用顯微鏡來觀察位置，保證了對位的準確性，提高了加工精度。激光器和顯微鏡可以上下和前后多個方向移動，便于調節激光器和顯微鏡的位置，使其與OLED器件對位。

進一步的，所述激光器與顯微鏡固定連接。可以同步完成移動，保證了精度，避免了多次調節的麻煩。

進一步的，所述旋轉托盤部件包括底座、機臺，所述機臺底部安裝有伺服旋轉電機，伺服旋轉電機與底座固定連接。機臺上部夾裝有托盤治具。托盤治具上還包括治具蓋板。托盤治具可根據工藝生產要求將OLED器件放置其上。OLED器件在托盤治具安裝前由操作人員安放，并使用治具蓋板鎖緊固定。托盤治具尺寸根據OLED器件尺寸設計，安裝完成后OLED器件磨邊位置位于托盤治具外延，以保證在激光磨邊過程中激光與托盤治具不會相交。機臺底部安裝的伺服旋轉電機，用于精確控制托盤治具的轉動角度和轉動速度。

進一步的，所述CCD檢測部件包括兩個左右對稱設置的升降裝置，升降裝置間設置有兩個升降桁架，升降桁架左右兩側各安裝有一對對位CCD和檢測CCD。對位CCD用于檢測OLED器件在激光磨邊前的安裝位置是否準確，檢測CCD用于OLED器件在激光磨邊后的實際效果。OLED器件上是有由光刻工序制作出來的用于CCD對位檢測的標識。升降桁架位于機臺上方。

進一步的，所述托盤裝載部件包括關節機械手，關節機械手安裝在軌道上。關節機械手可以在軌道上移動，可以在多個磨邊裝置間運行切換。

進一步的，所述關節機械手末端設置有卡夾。卡夾與托盤治具形狀相適配，不同的托盤治具可以選擇不同的卡夾。

本發明的有益效果是：通過OLED激光磨邊裝置，包括激光器定位部件，旋轉托盤部件，CCD檢測部件和托盤裝載部件，采用激光磨邊，提高了加工精度，不會出現OLED基板脆裂和擊穿OLED器件的情況，增大了生產的良品率；而采用在顯微鏡下來對位找準，進一步提高了精度，保證了準確性；CCD檢測可以更好的對位與檢測，避免了一些認為的失誤；而采用關節機械手的設計，大大的提高了生產效率。

附圖說明

圖1是本發明的結構示意圖；

圖中：11.定位機臺，12.升降臺，13.調節滑塊，14激光器，15.顯微鏡，21.托盤治具，22.機臺，31.升降裝置，32.升降桁架，33.對位CCD，34.檢測CCD，41關節機械手，42.軌道，43.卡夾。

具體實施方式

為了使本發明的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖，對本發明進行進一步詳細說明。