[發(fā)明專利]一種測(cè)試夾具誤差剔除方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410346148.0
• 申請(qǐng)日: 2014-07-21
• 公開（公告）號(hào): CN104111435B
• 公開（公告）日: 2017-03-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 胡亞楠;柳培忠;鄭志原;葉進(jìn)發(fā)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 福建火炬電子科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R35/00
• 分類號(hào): G01R35/00
• 代理公司: 廈門市精誠新創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司35218
• 代理人: 方惠春

1.一種測(cè)試夾具誤差剔除方法，是使用測(cè)試夾具夾持被測(cè)件進(jìn)行測(cè)量后，消除測(cè)試夾具對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，其特征在于：包括如下過程：

過程1：使用測(cè)試夾具夾持被測(cè)件進(jìn)行測(cè)量；然后將被測(cè)件與標(biāo)準(zhǔn)件組合為校驗(yàn)被測(cè)件，再次使用測(cè)試夾具夾持該校驗(yàn)被測(cè)件進(jìn)行測(cè)量；其中，該標(biāo)準(zhǔn)件是開路標(biāo)準(zhǔn)器件或開路標(biāo)準(zhǔn)器件；其中，短路標(biāo)準(zhǔn)器件等效于一個(gè)未使用的測(cè)試夾具，短路標(biāo)準(zhǔn)器件相當(dāng)于將一個(gè)金屬板覆蓋所有的接線端，使它們與測(cè)試夾具的地短路；

過程2：利用自動(dòng)端口延伸分別對(duì)被測(cè)件以及校驗(yàn)被測(cè)件進(jìn)行測(cè)試，得到測(cè)試夾具的參數(shù)、被測(cè)件的參數(shù)以及校驗(yàn)被測(cè)件的參數(shù)；

過程3：利用校驗(yàn)被測(cè)件的參數(shù)對(duì)被測(cè)件的參數(shù)進(jìn)行修正：被測(cè)件的參數(shù)和校驗(yàn)被測(cè)件的參數(shù)的比值記為A，首先判定校驗(yàn)被測(cè)件的參數(shù)和被測(cè)件的參數(shù)的比例是否在A的區(qū)域內(nèi)，如果在該區(qū)域內(nèi)，則該被測(cè)件的參數(shù)為準(zhǔn)確值，結(jié)束本次測(cè)試；如果不在該區(qū)域內(nèi)，則執(zhí)行過程4；

過程4：測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)件的參數(shù)獲得測(cè)試夾具的S參數(shù)矩陣，然后通過矩陣運(yùn)算對(duì)被測(cè)件的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行去嵌入處理，得到被測(cè)件和測(cè)試夾具的組合參數(shù)；然后利用將測(cè)試夾具的S參數(shù)矩陣，將測(cè)試夾具的組合參數(shù)拆分，獲得被測(cè)件的參數(shù)和測(cè)試夾具的參數(shù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試夾具誤差剔除方法，其特征在于：該方法還包括過程5：對(duì)過程2得到的被測(cè)件的參數(shù)C1以及過程4得到的被測(cè)件的參數(shù)C2進(jìn)行比對(duì)，獲得C1和C2的比值關(guān)系B；然后將過程4獲得的被測(cè)件的參數(shù)和測(cè)試夾具的參數(shù)進(jìn)行比值運(yùn)算，如果該比值運(yùn)算在比值關(guān)系B的范圍內(nèi)，則不對(duì)過程4得到的被測(cè)件的參數(shù)修正，結(jié)束本次測(cè)試；如果該比值運(yùn)算不在比值關(guān)系B的范圍內(nèi)，則采用比值關(guān)系B對(duì)過程4得到的被測(cè)件的參數(shù)進(jìn)行修正。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試夾具誤差剔除方法，其特征在于：過程5中，采用比值關(guān)系B對(duì)過程4得到的被測(cè)件的參數(shù)進(jìn)行修正的方法，是將比值關(guān)系B與過程2得到的被測(cè)件的參數(shù)相乘獲得。