[發明專利]一種用于固定導磁性工件的工作臺及其光學計

有效

• 申請號: 201410345894.8
• 申請日: 2014-07-21
• 公開（公告）號: CN104075660B
• 公開（公告）日: 2017-01-25
• 發明（設計）人: 金玉萍;古忠濤;鄧涵
• 申請（專利權）人: 西南科技大學
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 成都九鼎天元知識產權代理有限公司51214
• 代理人: 卿誠,吳彥峰

技術領域

本發明涉及機械領域，尤其測量儀器領域，具體為一種用于固定導磁性工件的工作臺及其光學計。

背景技術

近年來，伴隨著現代制造業的快速發展，對于計量儀器的測量精度和測量效率提出了更高的要求。光學計是一種準確度較高的光學機械式儀器，是一種高精度的接觸式測量儀器，目前已廣泛應用于企業質量檢測部門與高校實驗室。

目前，光學計大多采用接觸式測量。在光學計的測量過程中，對被測零件的測量過程主要依靠手動控制方式完成。常見的光學計的分度值：1μm，示值變動量：0.1μm，讀數范圍：±100μm，采用手動控制方式對被測零件運動過程的穩定控制難度較大。在測量過程中，采用手動方式控制零件會出現以下問題：

1）手動控制難以保證在整個測量過程中被測零件始終與工作臺保持緊密接觸，獲得的測量結果與零件的真值相差較遠，測量準確度達不到儀器設計的測量精度；

2）在測量過程中，需要通過手控制零件，使零件在工作臺上與測帽接觸，從而對零件進行測量，而手對被測零件的運動無法做到穩定控制，導致在光學計顯示窗口中的數據波動較大，測量人員無法準確的讀出測量點數據，甚至由于手對零件控制不平穩，出現多個最大值點的情況；

3）由于采用手動控制方式，測量過程難以控制，所導致的數據不穩定等現象給測量過程帶來重復和不必要的操作，降低了測量效率，同時也極大影響了測量中儀器操作的方便性。

鑒于此，申請人希望提供一種新的用于固定導磁性工件的工作臺及采用其的光學計，以解決前述問題。

發明內容

本發明的目的在于：針對工件在測量過程中，手動控制方式對零件進行控制，被測工件運動過程的穩定控制難度較大，采用光學計測量時，測量準確度達不到儀器設計的測量精度，測量人員無法準確的讀出測量點數據，存在重復操作次數多、測量效率低、方便性差的問題，提供一種用于固定導磁性工件的工作臺及其光學計。本發明的工作臺通過組成部件之間的相互配合，能夠起到對導磁性工件的固定作用，使被測工件在移動、測量的過程中，始終與工作面間保持相對靜止，通過配合運動機構，能夠實現被測零件的平穩、緩慢運行，從而滿足光學計等儀器的需求。同時，本發明還提供基于固定導磁性工件的工作臺的光學計，該光學計不僅能夠穩定測量數據點的視窗數據顯示，提高測量數據的準確度，而且能夠方便對實驗數據的觀測與記錄，改善儀器可操作性能。本發明測量精度高，能夠滿足光學計的設計要求，可重復性好，測定結果穩定、準確、可靠，具有較好的應用前景。

為了實現上述目的，本發明采用如下技術方案：

一種用于固定導磁性工件的工作臺，包括固定基座、能產生磁性與消除磁性的可控磁性裝置、設置在可控磁性裝置上用于固定導磁性工件的定位裝置，所述定位裝置包括水平擋片、與水平擋片相連的豎直擋片，所述固定基座由非導磁材料制備而成，所述定位裝置由導磁材料制備而成，所述可控磁性裝置設置在固定基座上，所述可控磁性裝置的上端面為工作面，所述水平擋片設置在工作面上。

所述可控磁性裝置打開產生的磁力線穿過定位裝置，使磁性工件與定位裝置緊靠在一起。

所述水平擋片與豎直擋片之間采用一體成型，且水平擋片與豎直擋片之間相互垂直。

所述定位裝置為L型。

所述水平擋片與可控磁性裝置之間采用活動或固定連接。

所述可控磁性裝置為永磁式可控磁性裝置或電控式可控磁性裝置。

所述可控磁性裝置為磁性表座、永磁吸盤、電磁鐵中的一種。

所述固定基座由鋁合金或不銹鋼非導磁性材料制備而成，所述定位裝置由硅鋼片制成。

還包括能使可控磁性裝置相對固定基座移動的滑動機構。

所述滑動機構包括設置在固定基座上的滑動導軌、設置在可控磁性裝置下端面的凹槽，所述滑動導軌與凹槽相配合；

或所述滑動機構包括設置在固定基座上的凹槽、設置在可控磁性裝置下端面且與凹槽相配合的滑動導軌。

所述滑動導軌為直線滑軌、燕尾槽導軌、T形槽導軌的一種。

所述滑動導軌為燕尾槽導軌，所述燕尾槽導軌與凹槽之間設置有簧片。

還包括運動控制機構，所述運動控制機構為絲杠傳動機構或齒輪齒條傳動機構。

所述運動控制機構為直線運動控制機構。

所述絲杠傳動機構為螺紋絲杠傳動機構、T型絲杠傳動機構、滾珠絲杠傳動機構中的一種。