[發明專利]一種測量顆粒物質量濃度的方法

有效

• 申請號: 201410345559.8
• 申請日: 2014-07-21
• 公開（公告）號: CN104122180A
• 公開（公告）日: 2014-10-29
• 發明（設計）人: 王桐;霍昱;何春雷;曹莉
• 申請（專利權）人: 青島眾瑞智能儀器有限公司
• 主分類號: G01N15/06
• 分類號: G01N15/06
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種測量顆粒物質量濃度的方法，其特征在于：處理器（13）控制采樣泵（8）使氣流從顆粒物收集單元進入，收集大氣顆粒物信息并判斷是否需對儀器進行校準，如果需要校準，則啟動β射線校準模塊，對光散射測量模塊的參數值進行校準，待參數校準完畢后再開啟光散射測量模塊；如不需要校準，則直接通過光散射測量模塊進行測量，測量結果由輸入輸出模塊（14）顯示；輸入輸出模塊(14)、溫濕度傳感器（15）、大氣壓傳感器（16）連接處理器（13）；所述顆粒物收集單元包括PM2.5/PM10切割器（1）、高效過濾器（12）以及與兩者連接的電磁閥（2）；所述β射線校準模塊包括濾膜（5）和與濾膜連接的β源（6）、β射線檢測器（10）及濾膜轉換電機（9）；所述光散射測量模塊包括光學檢測腔（3）及與之連接的光源（4）、散射光檢測器（11）；所述PM2.5/PM10切割器（1）、電磁閥（2）、光散射測量模塊的光學檢測腔（3）、β射線校準模塊的濾膜（5）、采樣泵（8）安裝在同一氣路上。

2.根據權利要求1所述的測量顆粒物質量濃度的方法，其特征在于：所述光源（4）為白色LED光源，所述散射光檢測器（11）為光電倍增管；所述光散射測量模塊通過控制光源（4）的發光強度和其模塊內放大器的放大增益使光散射測量模塊與β射線校準模塊的精度和量程保持相同。

3.根據權利要求1所述的測量顆粒物質量濃度的方法，其特征在于：所述電磁閥（2）在校零時接通高效過濾器（12），去除大氣中的顆粒物，保證校零精度；在測量顆粒物濃度時接通PM2.5/PM10切割器（1）。

4.根據權利要求1所述的測量顆粒物質量濃度的方法，其特征在于：所述濾膜轉換電機（9）用于改變濾膜（5）的角度，在校準時，使濾膜（5）垂直于氣路，使得顆粒物可以沉積到濾膜（5）之上供后續稱重校準；在測量顆粒物濃度時，使濾膜（5）方向與氣路平行，保證氣路的暢通。

5.根據權利要求1所述的測量顆粒物質量濃度的方法，其特征在于：所述β源（6）為C14放射源，β射線檢測器（10）為熒光檢測光電倍增管。

6.根據權利要求1所述的測量顆粒物質量濃度的方法，其特征在于：所述β射線校準模塊的濾膜（5）和采樣泵（8）之間還設置有流量計（7）。