[發明專利]基于原始投影信息的CL掃描裝置投影旋轉中心標定方法

有效

• 申請號: 201410344494.5
• 申請日: 2014-07-18
• 公開（公告）號: CN104132950A
• 公開（公告）日: 2014-11-05
• 發明（設計）人: 梁麗紅;林樹青;鄭暉;代淮北
• 申請（專利權）人: 中國特種設備檢測研究院
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04
• 代理公司: 北京永創新實專利事務所 11121
• 代理人: 李有浩

1.一種基于原始投影信息的CL掃描裝置投影旋轉中心標定方法，所述CL掃描裝置包括有射線源(1)、掃描平臺(4)、平板探測器(6)、弧形導軌(8)；其特征在于該標定方法包括有下列實施步驟：

步驟一：將被檢測樣品(3)置于掃描平臺(4)上，調整掃描平臺的升降位置，以保證被檢測樣品的投影不超出平板探測器(6)的成像平面(7)；

步驟二：啟動CL掃描裝置的旋轉控制指令，被檢測樣品(3)在掃描平臺(4)的帶動下旋轉360度；掃描平臺(4)步進旋轉，步進角為0.5°～1°；掃描平臺(4)每旋轉過一個步進角，平板探測器(7)采集樣品的一個投影，所述投影記為Prⁱ(x,y)，x表示X軸上的坐標變量，y表示Y軸上的坐標變量，其中i表示投影的編號，即i＝1,2,3,......T，T代表投影的總數；

步驟三：被檢測樣品(3)旋轉360度后，平板探測器(7)將采集到的投影合成為一幅圖像，即橢圓投影軌跡(11)，所述橢圓投影軌跡記為P(x,y)；P(x,y)滿足的關系為P(x,y)=1TΣi=1TPri(x,y);]]>

步驟四：將P(x,y)沿X軸方向進行鏡像變換，得到另一橢圓投影P(x,y)^Mirror，求取P(x,y)和P(x,y)^Mirror在X方向上的二維互相關函數R(τ,y)，R(τ,y)的計算式為：

R(τ,y)=1N∫0NP(x,y)P(2x0-N+x+τ,y)dx]]>

x表示X軸上的坐標變量；

y表示Y軸上的坐標變量；

τ表示互相關函數自變量；

x₀表示投影旋轉中心點；

dx表示坐標變量x的差分變量；

N表示橢圓軌跡投影P(x,y)在X軸方向上的長度；

步驟五：將二維互相關函數R(τ,y)沿y方向進行積分，消去y變量，得到一維函數Q^ACF(2x₀-N+τ)，函數Q^ACF(2x₀-N+τ)的值隨變量τ的變化而變化，該一維函數Q^ACF(2x₀-N+τ)的計算式如為：

QACF(2x0-N+τ)=1M∫0MRACF(2x0-N+τ,y)dy]]>

RACF(2x0-N+τ,y)=R(τ,y)=1N∫0NP(x,y)P(2x0-N+x+τ,y)dx]]>

步驟六：統計函數Q^ACF(2x₀-N+τ)的最大值，當Q^ACF(2x₀-N+τ)取最大值時，自變量τ的對應值記為τ'，則有投影旋轉中心x0的值為