[發明專利]一種數控機床標準軌跡測試分析系統

有效

• 申請號: 201410340624.8
• 申請日: 2014-07-17
• 公開（公告）號: CN104122840B
• 公開（公告）日: 2017-02-01
• 發明（設計）人: 姜歌東;竇成東;史建強;王恪典;陶濤;張東升;沈健;徐仁愷
• 申請（專利權）人: 西安交通大學
• 主分類號: G05B19/406
• 分類號: G05B19/406
• 代理公司: 西安智大知識產權代理事務所61215
• 代理人: 賀建斌

1.一種數控機床標準軌跡測試分析系統，由硬件和軟件兩部分組成，其特征在于：硬件部分采集數控機床的內置編碼器、光柵尺信號和外置位置傳感器信號，能夠實現同步采集多通道信號；軟件部分進行標準軌跡測試分析，完成標準圓軌跡測試、空間圓軌跡測試、菱形軌跡測試以及直線往復測試，獲取圓誤差圖譜、空間圓誤差圖譜、菱形誤差圖譜以及傳動誤差圖譜，實現數控機床的運動精度和運動特性檢測。

2.根據權利要求1所述的一種數控機床標準軌跡測試分析系統，其特征在于：所述同步采集多通道信號是指能夠實現1vpp信號、TTL信號、Endat信號的多信號格式同步采集，同步采集最高采樣頻率10KHz，最低采樣頻率500Hz。

3.根據權利要求1所述的一種數控機床標準軌跡測試分析系統，其特征在于：所述標準軌跡測試分析軟件有標準圓軌跡測試模塊、空間圓軌跡測試模塊、菱形軌跡測試模塊以及直線往復測試模塊組成，各個測試模塊由參數設置、數據采集、實驗分析、實驗報告四部分組成。

4.根據權利要求1所述的一種數控機床標準軌跡測試分析系統，其特征在于：所述標準圓軌跡測試是指獲取兩軸運動圓軌跡，完成對反向間隙、反響越沖、橫向間隙、伺服不匹配、比例不匹配、進給率、中心偏置和圓度等8項動態誤差的分析，并繪制機床的圓誤差圖譜。

5.根據權利要求1所述的一種數控機床標準軌跡測試分析系統，其特征在于：所述空間圓軌跡測試是指獲取三軸運動空間圓軌跡，完成空間圓度、反向間隙、反向越沖等動態誤差的分析，并繪制機床的空間圓誤差圖譜。

6.根據權利要求1所述的一種數控機床標準軌跡測試分析系統，其特征在于：所述菱形軌跡測試是指獲取兩軸運動菱形軌跡，完成對輪廓誤差的分析，并繪制機床菱形誤差圖譜。

7.根據權利要求1所述的一種數控機床標準軌跡測試分析系統，其特征在于：所述直線往復測試是指獲取單軸勻速往返信息，完成對反向間隙、傳動誤差的分析，并繪制機床傳動誤差圖譜。