[發明專利]基于FPGA的非安裝型存儲器測試裝置

有效

• 申請號: 201410340524.5
• 申請日: 2014-07-17
• 公開（公告）號: CN104516843B
• 公開（公告）日: 2018-04-20
• 發明（設計）人: 韓永勉
• 申請（專利權）人: 韓商聯測股份有限公司
• 主分類號: G06F13/38
• 分類號: G06F13/38
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司11002
• 代理人: 謝順星,張晶

技術領域

本發明涉及一種運用基于PCI Express(PCIe)的固態硬盤測試(SSD TEST)設備的驅動機制，更加詳細而言，涉及一種基于現場可編程門陣列(field-programmable gate array，FPGA)，而非基于PC的非安裝型測試裝置。

背景技術

現在，高速存儲器(High Speed Storage)中固態硬盤(Solid State Drive；SSD)備受關注。其中，基于PCI Express的固態硬盤與SAS SATA相比擁有大量的通訊處理能力，因此不僅擴大到如數據中心的企業用服務器，還擴大到個人固態硬盤市場。

另一方面，有關測試存儲器的裝置，除韓國公開專利10-2010-011469號(以下稱為“現有技術文獻”)以外，還有多個被申請和公開。

所述現有技術，包括：存儲器接口部，其維持與存儲器(storage)的連接；用戶接口部，其從用戶接收用于所述存儲測試的測試條件；測試模式生成部，其生成與從所述用戶接收的所述測試條件對應的用于所述存儲器測試的測試模式(test pattern)；以及測試控制部，其通過所述測試模式控制所述存儲器的測試。

但是，包括現有技術文獻的現有測試裝置，為了檢測出閃存陣列的不良(Fail)邏輯塊地址(Logic Block Address：LBA)，執行向固態硬盤裝置(SSD Device)寫入特定模式的數據，重新讀取，來比較數據是否有效。這種裝置中，將模式數據生成器和從模式生成器生成的數據存儲于緩沖器(期望數據緩沖器，expected data buffer)。該存儲數據從固態硬盤裝置重新讀取數據，與該數據緩沖器中的內容進行比較，來判斷是否不良。這種方式存在緩沖器可用容量受限的問題。

現今固態硬盤的容量達到數百千兆。為了測試這種裝置而擴展期望數據緩沖器的大小，會引起多種制約事項。例如，如果制定過小，則以小的數據模塊進行數據讀取/寫入(dataRead/Write)，因此整體測試時間延長。如果制定過大，雖然性能提高，但要求從系統的觀點來說無法容納的存儲容量。

并且，在基于安裝的測試環境的情況下，與基于安裝的測試環境相比，存在對測試設備驅動程序的命令處理的響應時間和測試時間延長的問題。

發明內容

(一)要解決的技術問題

本發明涉及一種運用基于PCI-Express的固態硬盤測試裝置的驅動機制，更加詳細而言，涉及一種基于FPGA而非基于PC的非安裝型存儲器測試裝置硬件驅動機制。

具體地，其目的在于，提供一種與安裝系統不同，以固態硬盤運用為目的，將所有系統的資源構成硬件，因此與基于安裝的測試環境相比，在測試設備驅動的命令處理時，能夠確保更快的響應時間和更快的測試時間，在同一時間內能夠測試大量固態硬盤的裝置。

(二)技術方案