[發明專利]粒子計數器

在審

• 申請號: 201410339882.4
• 申請日: 2014-07-16
• 公開（公告）號: CN104075967A
• 公開（公告）日: 2014-10-01
• 發明（設計）人: 劉義剛
• 申請（專利權）人: 蘇州貝昂科技有限公司
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02;G01N15/06
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 王寶筠

技術領域

本發明涉及一種測量氣體內所含塵埃粒子數的測試儀器，尤其涉及一種通過氣體中塵埃粒子散射光進行測量的粒子計數器。

背景技術

目前塵埃粒子計數器的主要原理為，利用塵埃粒子在光束中產生的光散射現象，來測量塵埃粒子產生的散射光強度而推知粒子的尺寸和空氣中所含的塵埃粒子的濃度。

在現有技術中，塵埃粒子計數器主要由照明系統、散射光收集系統、光電轉換器、氣路系統等組成。其中，散射光收集系統和氣路系統的軸線相交于光敏感中心點，工作時，氣路系統將被測空氣吸入粒子計數器中的光敏感區，其中塵埃粒子在光束照射下產生與粒子尺寸成比例的散射信號。散射光信號被散射光收集系統接收后入射于光電轉換器上，光電轉換器輸出與散射光強度成正比的電信號，后續信號處理系統根據此電信號的幅度給出粒子尺寸和空氣中塵埃粒子的濃度。

但是，由于塵埃粒子的散射光信號是極其微弱的，所以不允許雜光進入光電轉換器，否則測量結果將是不可信的。為了保證測量精度，所述粒子計數器的外殼往往設置的非常復雜。例如，氣路系統的入風口設置在外殼的背面，可以使得待測氣體進行九十度的偏轉，以使得待測氣體攪拌更加均勻。但是入風口設置在外殼背面的結構不僅增加了粒子計數器外殼的復雜程度，而且使得外殼存在非常嚴重的漏光現象。

發明內容

為了克服現有的技術問題，本發明的目的在于提供一種結構簡便，不易漏光的粒子計數器。

為了實現上述目的，本發明提供一種粒子計數器，該粒子計數器用于探測和確定氣體中所含的粒子數量以及粒子大小，該粒子計數器通過對測定區域內的氣體照射激光，并根據該測定區域內存在的粒子所產生的散射光對粒子進行計數。該粒子計數器包括殼體、氣體通道、激光發射器和光感測器，所述殼體包括前殼和后殼，所述前殼和后殼相互扣合，所述后殼的頂端設置有入風口，所述后殼的底端設置有出風口，所述待測氣體由所述入風口抽入該粒子計數器內；氣體通道設置于所述前殼和所述后殼之間，所述氣體通道與所述入風口和所述出風口連通；激光發射器設置于所述殼體內部，該激光發射器產生激光光束，所述激光光束與所述氣體通道相互交叉形成測定區域；光感測器設置于所述測定區域的下面，所述光感測器直接收集所述測定區域內氣體存在的粒子所產生的散射光；其中，所述氣體通道為自上而下的貫穿結構，待測氣體可直接從所述后殼的頂端進入該粒子計數器內。

較佳的，在所述的粒子計數器中，所述氣體通道靠近入風口的一端設置有第一擋光板，所述待測氣體由入風口進入并碰到所述第一擋光板。

較佳的，在所述的粒子計數器中，所述氣體通道還具有第二擋光板，所述第二擋光板與所述第一光板相鄰，并與所述第一擋光板的末端形成漏斗形的第一噴嘴。

較佳的，在所述的粒子計數器中，所述第二擋光板上還具有向下突出的第二噴嘴，所述第二噴嘴靠近所述測定區域。

較佳的，在所述的粒子計數器中，所述后殼的底端還設置有負壓風機，所述負壓風機抽動所述氣體通道內的待測氣體的流動。

較佳的，在所述的粒子計數器中，所述激光光束為聚焦光束，所述聚焦光束的聚焦點位于所述測定區域內。

較佳的，在所述的粒子計數器中，所述激光發射器還包括用于固定激光發射器的激光座和用于切割光束的擋片。

較佳的，在所述的粒子計數器中，所述后殼內與所述激光發射器相對的一側設置有光吸收部。

較佳的，在所述的粒子計數器中，所述的光吸收部為梯形結構，所述梯形結構的尺寸沿所述激光光束前進方向上從小變到大。

較佳的，在所述的粒子計數器中，所述的光感測器包括光電二極管。

與現有技術相比，所述氣體通道為自上而下的貫穿結構，從而使得待測氣體可直接從所述后殼的頂端進入該粒子計數器內，并且所述激光發射器發出的激光光束為水平方向的，因而水平方向前進的激光光束不會從上下貫穿結構的氣體通道內產生漏光。另外，所述入風口設置于所述后殼的頂端，從而使得所述后殼的結構更加簡潔，避免了所述后殼突出的入風口結構。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據提供的附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明一具體實施例的結構示意圖；

圖2為本發明一具體實施例前殼和后殼分離結構示意圖；

圖3為本發明一具體實施例的側視剖面圖；