[發明專利]一種基于布里淵散射雙峰激勵式監測儀

在審

• 申請號: 201410337617.2
• 申請日: 2014-07-15
• 公開（公告）號: CN104089636A
• 公開（公告）日: 2014-10-08
• 發明（設計）人: 馬鵬程
• 申請（專利權）人: 鞍山鵬澤偉業科技有限公司
• 主分類號: G01D5/353
• 分類號: G01D5/353;G01K11/32;G01L1/24
• 代理公司: 鞍山嘉訊科技專利事務所 21224
• 代理人: 張群

1.一種基于布里淵散射雙峰激勵式監測儀，包括半導體激光器、耦合器一、耦合器二、耦合器三、偏振控制器一、偏振控制器二、微波光電調制器、光電探測器、脈沖發生器、微波混頻器、本地振蕩器、匹配濾波器、信息采集與處理器、單模光纖，其特征在于：

所述的半導體激光器與耦合器一的輸入端連接，耦合器一的一個輸出端與偏振控制器一連接，偏振控制器一與微波光電調制器連接，脈動發生器設置在微波光電調制器上，微波光電調制器與耦合器二的一個輸入端連接，耦合器二的一個輸出端與單模光纖連接，耦合器二的另一輸出端與耦合器三的一個輸入端連接；

耦合器一的另一個輸出端與偏振控制器二連接，偏振控制器二與耦合器三的另一個輸入端連接，耦合器三的輸出端與光電探測器、微波混頻器、匹配濾波器、信息采集與處理器依次連接，本地振蕩器設置在微波混頻器上。

2.根據權利要求1所述的一種基于布里淵散射雙峰激勵式監測儀，其特征在于，所述的光電探測器為PbSe探測器。

3.根據權利要求1所述的一種基于布里淵散射雙峰激勵式監測儀，其特征在于，所述的半導體激光器光源中心波長是1550nm。

4.利用權力要求1所述的基于布里淵散射雙峰激勵式監測儀監測的方法，其特征在于：

由半導體激光器發出的連續光經過耦合器一分成兩路，一路光作為本振光，經過偏振控制器二，到達耦合器三；另一路光經偏振控制器一后，由微波光電調制器的脈沖發生器作用調制成雙正弦脈動光，雙正弦脈動光波之間的時間間隔設定在小于一個聲子壽命時間，脈動光波經耦合器二進入單模光纖，產生的背向布里淵散射光進入耦合器三與本振光進行相干檢測，相干后高頻信號通過光電探測器、微波混頻器、本地振蕩器和匹配濾波器進行下變頻，再通過匹配濾波器進入信息采集與處理器。

5.根據權利要求4所述的一種基于布里淵散射雙峰激勵式監測儀，其特征在于，所述的微波光電調制器產生的脈沖光為脈動周期1.5ns，脈動間隔4ns的雙峰正弦脈動信號，實現了空間分辨率15cm，溫度/應力測量精度為±0.5℃/±15με的測量。

6.根據權利要求4所述的一種基于布里淵散射雙峰激勵式監測儀，其特征在于，所述的微波光電調制器產生的脈沖光為正弦正半周脈沖光。

7.根據權利要求1所述的一種基于布里淵散射雙峰激勵式監測儀，其特征在于，所述的單模光纖為G.625單模光纖，在光纖的四周用Φ10μm的聚丙烯腈PAN基碳纖維封裝，碳纖維間隙用環氧樹脂浸潤，由此形成單模光纖外涂敷層。