[發(fā)明專(zhuān)利]帶恒溫槽的晶體振蕩器無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410336429.8 | 申請(qǐng)日: | 2014-07-15 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104426477A | 公開(kāi)(公告)日: | 2015-03-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 卜部文夫 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 日本電波工業(yè)株式會(huì)社 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H03B5/04 | 分類(lèi)號(hào): | H03B5/04 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205 | 代理人: | 臧建明 |
| 地址: | 日本東京涉谷區(qū)笹*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 恒溫槽 晶體振蕩器 | ||
交叉引用
本發(fā)明基于并主張于2013年8月23號(hào)提出的日本專(zhuān)利申請(qǐng)2013-172975號(hào)的優(yōu)先權(quán),該申請(qǐng)的全文以引用的方式并入本文。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種帶恒溫槽的晶體振蕩器,特別是涉及一種可改善相對(duì)于頻率的溫度特性的帶恒溫槽的晶體振蕩器。
背景技術(shù)
[現(xiàn)有的技術(shù)]
現(xiàn)有的帶恒溫槽的晶體振蕩器(Oven?Controlled?Crystal?Oscillator,OCXO)包括使溫度保持為固定的溫度槽,并將晶體振子收納在所述恒溫槽內(nèi)而進(jìn)行不易受到外部溫度影響的穩(wěn)定的振蕩。
而且,在現(xiàn)有的OCXO中,有的是使具有不同頻率及不同溫度梯度(temperature?gradient)的兩個(gè)振子進(jìn)行振蕩,使用不同頻率的差分來(lái)進(jìn)行恒溫槽的溫度控制。
所述OCXO是利用頻率差因溫度而產(chǎn)生的變化呈線性的現(xiàn)象來(lái)使恒溫槽的溫度保持為固定。
[現(xiàn)有的OCXO的構(gòu)造:圖4]
其次,一邊參考圖4,一邊對(duì)現(xiàn)有的OCXO進(jìn)行說(shuō)明。圖4是現(xiàn)有的OCXO的截面說(shuō)明圖。
現(xiàn)有的OCXO如圖4所示,在印刷基板34的表面搭載有第1振子31,在印刷基板34的背面搭載有第2振子32,此外,在印刷基板34的表面及背面,安裝有振蕩電路、加熱器(heater)、溫度控制電路等。
而且,印刷基板34借由多個(gè)引線端子(lead?terminal)而固定在底座(base)33上,并且以覆蓋第1振子31及第2振子32、印刷基板34等的方式而設(shè)置罩體(case)35。
恒溫槽30由底座33及罩體35所形成,利用頻率差檢測(cè)部對(duì)第1振子31與第2振子32的頻率差進(jìn)行檢測(cè),借由溫度控制電路根據(jù)檢測(cè)頻率差對(duì)加熱器進(jìn)行控制,以使恒溫槽30內(nèi)的溫度保持為固定的方式而進(jìn)行運(yùn)行。
[現(xiàn)有的OCXO的電路:圖5]
其次,一邊參考圖5,一邊對(duì)現(xiàn)有的OCXO進(jìn)行說(shuō)明。圖5是現(xiàn)有的OCXO的電路圖。
現(xiàn)有的OCXO如圖5所示,使來(lái)自第1振子1的振蕩輸出輸入至振蕩電路3及振蕩輸出端子14,使來(lái)自第2振子2的振蕩輸出輸入至振蕩電路4。
再者,第1振子1及第2振子2是使用AT切割的晶體振子,第1振子1的振蕩頻率與第2振子2的振蕩頻率的相對(duì)于溫度的變化為不同。
并且,振蕩輸出端子14將振蕩輸出向外部加以輸出。
振蕩電路3、振蕩電路4將所輸入的信號(hào)加以放大而輸出至異或(Exclusive?OR,ExOR)電路15。
ExOR電路15獲得所輸入的信號(hào)的異或,并輸出至頻率差檢測(cè)部6。
頻率差檢測(cè)部6根據(jù)由ExOR電路15獲得的異或?qū)︻l率的差分進(jìn)行檢測(cè),并輸出至溫度控制電路8。
溫度控制電路8根據(jù)來(lái)自頻率差檢測(cè)部6的頻率差分的信息,借由加熱器等進(jìn)行恒溫槽30內(nèi)的溫度控制。
[AT切割的晶體振子的特性:圖6]
其次,一邊參考圖6,一邊對(duì)現(xiàn)有的OCXO中的使用AT切割的晶體振子作為第1振子及第2振子的情況下的特性進(jìn)行說(shuō)明。圖6是使用AT切割的晶體振子作為第1振子及第2振子的情況下的第1振子與第2振子的振蕩頻率差的溫度特性圖。在圖6中,橫軸表示振子溫度,縱軸表示量化頻率差。
如圖6所示,使用AT切割的晶體振子作為第1振子1及第2振子2的情況下,振子的相對(duì)于溫度(振子溫度)的頻率差的特性對(duì)應(yīng)于1比1,從而可利用溫度控制電路將恒溫槽溫度控制為任意溫度。
[SC切割/IT切割的晶體振子的特性:圖7]
再者,一邊參考圖7,一面對(duì)使用SC切割/IT切割等二次旋轉(zhuǎn)切割的晶體振子作為第1振子及第2振子,且使第1振子以C模式(C?mode)進(jìn)行振蕩,使第2振子以B模式(B?mode)進(jìn)行振蕩的情況下的特性進(jìn)行說(shuō)明。圖7表示第1振子與第2振子的振蕩頻率差因溫度而產(chǎn)生的變化。
[相關(guān)技術(shù)]
再者,相關(guān)的現(xiàn)有技術(shù)有如下:日本專(zhuān)利特開(kāi)2013-051676號(hào)公報(bào)“晶體振蕩器”(日本電波工業(yè)股份有限公司)[專(zhuān)利文獻(xiàn)1]、日本專(zhuān)利特開(kāi)平04-068903號(hào)公報(bào)“具有溫度探測(cè)功能的振蕩器及晶體振蕩元件以及溫度檢測(cè)方法”(朝日電波工業(yè)股份有限公司)[專(zhuān)利文獻(xiàn)2]、日本專(zhuān)利特開(kāi)2004-048686號(hào)公報(bào)“高穩(wěn)定壓電振蕩器”(東洋通信機(jī)股份有限公司)[專(zhuān)利文獻(xiàn)3]。
在專(zhuān)利文獻(xiàn)1中揭示了,在晶體振蕩器中,對(duì)第1振子與第2振子的振蕩頻率的差分進(jìn)行檢測(cè),并將所述差分供給至環(huán)路濾波器(loop?filter),對(duì)恒溫槽內(nèi)的加熱器進(jìn)行控制。
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