[發明專利]一種檢測抗磁性的設備有效
| 申請號： | 201410334115.4 | 申請日： | 2014-07-14 |
| 公開（公告）號： | CN105277815B | 公開（公告）日： | 2017-11-21 |
| 發明（設計）人： | 劉全春;周紅峰;郭增橋;王新蕾 | 申請（專利權）人： | 國家電網公司;北京南瑞智芯微電子科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京中譽威圣知識產權代理有限公司11279 | 代理人： | 郭振興,王正茂 |
| 地址： | 100031 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 檢測 抗磁性 設備 | ||
1.一種檢測抗磁性的設備，其特征在于，包括：承載被檢測設備的檢測臺，測量被檢測設備的抗磁角度的第一角度刻度盤，測量被檢測設備的抗磁性和抗磁距離的檢測頭，為所述檢測臺提供支撐的支架；
所述第一角度刻度盤為圓環形，在所述第一角度刻度盤的圓環上設置有可在所述圓環上滑動的檢測頭；
所述檢測臺的兩端沿著所述第一角度刻度盤的直徑方向穿過所述第一角度刻度盤的圓環后分別與所述支架連接；
所述檢測頭包括：角度指針滑塊、伸縮桿和磁鋼；
所述伸縮桿的一端連接所述磁鋼，另一端連接所述角度指針滑塊；
所述角度指針滑塊設置在所述第一角度刻度盤的圓環上，并沿著所述圓環滑動。
2.根據權利要求1所述的設備，其特征在于，還包括：測量第一角度刻度盤的旋轉角度的第二角度刻度盤；
所述檢測臺的其中一端通過所述第二角度刻度盤與所述支架連接。
3.根據權利要求2所述的設備，其特征在于，所述第二角度刻度盤上有角度刻度。
4.根據權利要求1或2所述的設備，其特征在于，所述檢測臺上設置有多個螺紋通孔。
5.根據權利要求1或2所述的設備，其特征在于，所述第一角度刻度盤的圓環上有角度刻度。
6.根據權利要求1或2所述的設備，其特征在于，還包括滾動軸承；
所述檢測臺的兩端分別通過所述滾動軸承穿過所述第一角度刻度盤的圓環以使所述第一角度刻度盤圍繞所述檢測臺旋轉。
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