[發明專利]一種充電管理IC電流校驗設備和方法

在審

• 申請號: 201410332350.8
• 申請日: 2014-07-14
• 公開（公告）號: CN104155591A
• 公開（公告）日: 2014-11-19
• 發明（設計）人: 陳思波;曹志文
• 申請（專利權）人: 惠州市藍微電子有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 任海燕

技術領域

本發明涉及一種校驗設備和方法，尤其涉及一種充電管理IC電流校驗設備和方法。

背景技術

目前，充電管理IC正被越來越廣泛地應用，充電管理IC涉及的領域包括充電器，汽車蓄電池和計算機等新能源領域，其廣闊的市場前景和可觀的商業價值使得開發與之相配套使用的設備具有重大意義。

現有傳統的對充電管理IC進行電流校驗的方法采用的是單通道手工夾具連接導通產品的方式。然而，一方面，單通道的校驗模式使得產品校驗效率低下、校驗設備可擴展性差，無法根據產品數量的實際情況靈活配置通道數量；另一方面，純手工夾具連接導通產品需要人工手工調節，操作過程煩瑣易錯，不便于自動化的管理和維護。因此，現有的對充電管理IC進行電流校驗的方法存在著可擴展性差、靈活性差、作業效率低下且不便于智能管理和維護等缺陷。

發明內容

本發明要解決的技術問題是提供一種多通道地智能地實現充電管理IC電流校驗的設備和方法，以實現充電管理IC電流校驗的高效性和智能性。

為了解決上述問題，本發明提出一種充電管理IC電流校驗設備，該設備包括：機架、安裝于機架上的驅動組件、測試針組件、測試夾具組件、測試通訊組件以及基準電源；所述驅動組件包括一安裝于機架上部向下設置的縱向氣缸以及橫向安裝于測試夾具組件下方的橫向氣缸，所述測試針組件安裝于縱向氣缸活塞桿端部；所述測試夾具組件橫向安裝于機架下部，用于承載以矩陣隊列形式排布的多個充電管理IC；所述縱向氣缸驅動測試針組件下移與測試夾具組件上的充電管理IC的測試點接觸；所述測試通訊組件包括多個設置有校準校驗電路的測試板，用于同時對多個充電管理IC進行校準校驗；其特征在于，所述充電管理IC電流校驗設備還包括：邏輯控制器，該邏輯控制器與機架上的驅動組件通訊連接，用于計算每個充電管理IC在平面坐標上的位置，并根據計算出的充電管理IC的位置軌跡控制縱向和橫向方向上的氣缸以一定周期和速度分別上下移動和前后移動。

優選地，所述邏輯控制器還用于控制打點標記組件自由移動；所述打點標記組件用于標記異常充電管理IC的位置，告知作業人員某通道產品異常。

優選地，所述打點標記組件為可自由移動的信號燈。

優選地，所述充電管理IC電流校驗設備還包括顯示及分析組件，用于在測試完電流信號后自動顯示出電流與電壓之間的關系分布圖，顯示電流信號的曲線分布圖，并分析判定充電管理IC的電壓電流特性。

優選地，所述充電管理IC電流校驗設備還包括參數設置界面，用于設置設備提供的加載于充電管理IC的電壓PV值、對應電流的上下限值、延時值以及校驗電流與否選擇信息。

優選地，所述充電管理IC電流校驗設備還包括模式轉換組件，用于根據實際需要在并行測試模式和串行測試模式間進行轉換。

優選地，所述充電管理IC電流校驗設備還包括通道自檢模塊，用于實現通道自檢功能，辨認當前通道的狀態情況和通道間的排布情況。

為了解決上述問題，本發明還提出一種充電管理IC電流校驗方法，該方法包括以下步驟：

a.設定3D坐標軸。

b.確定測試夾具組件上每個充電管理IC的平面坐標值以及縱向氣缸升起和下降的高度坐標值。

c.驅動按鈕，上電激活測試設備。

d.驅使橫向氣缸運動，以使得位于橫向氣缸上方的測試夾具組件以一定的速度和周期沿著計算好的平面內的坐標軌跡運動。

e.定位最前排充電管理IC于測試針組件正下方，縱向氣缸驅使測試針組件自動下壓，與充電管理IC上的測試點充分接觸。

f.測試設備驅使供給充電管理IC管腳端間電壓，直至充電管理IC達到充電保護狀態。

g.充電管理IC電子內置開關斷開，測試設備計算出當前精準的電流精度信號。

h.縱向氣缸彈起至一定高度。

i.循環測試步驟d至h，直至測試夾具組件移動至最后一排充電管理IC所在的位置，并相應的測試完所有充電管理IC，測試夾具組件復位至原位。

優選地，步驟a中，確定測試夾具組件上每個充電管理IC的平面坐標值的具體方法為：

a1.定位第一排充電管理IC的平面坐標值。

a2.定位最后一排充電管理IC的平面坐標值。

a3.輸入充電管理IC的排數，邏輯控制器根據a1和a2步驟計算出的坐標值以及該排數自動計算出每個充電管理IC的平面坐標值。

與現有技術相比，本發明具有如下優勢：