[發明專利]相機模塊及其自動聚焦方法有效
| 申請號: | 201410331173.1 | 申請日: | 2014-07-11 |
| 公開(公告)號: | CN104914646B | 公開(公告)日: | 2018-01-26 |
| 發明(設計)人: | 白在皓;鄭新永;金裕倡;金暻準;金圣熏;尹熙洙;李重錫 | 申請(專利權)人: | 三星電機株式會社 |
| 主分類號: | G03B13/36 | 分類號: | G03B13/36;G02B7/36 |
| 代理公司: | 北京銘碩知識產權代理有限公司11286 | 代理人: | 魯恭誠,韓明星 |
| 地址: | 韓國京畿*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 相機 模塊 及其 自動 聚焦 方法 | ||
本申請要求分別于2014年3月12日和2014年4月10日提交到韓國知識產權局的第10-2014-0029260號和第10-2014-0043142號韓國專利申請的權益,所述兩個韓國專利申請的公開內容通過引用被全部包含于此。
技術領域
本公開涉及一種包括用于調節焦距的致動器的相機模塊及其自動聚焦方法。
背景技術
相機模塊包括用于調節焦距的致動器。在這樣的致動器中,致動器可包括用于產生電磁力的永磁體和線圈。然而,由于如上所述的致動器在根據永磁體和線圈的位置改變電磁力方面不具有均勻的線性度,所以可能難以精確地調節相機模塊的焦距。
發明內容
本公開的一些實施例可提供一種能夠可靠地調節焦距的相機模塊及其自動聚焦方法。
在根據本公開的示例性實施例的相機模塊中,在永磁體中形成中性區,從而可提高致動器的驅動可靠性和驅動線性度。
另外,在根據本公開的示例性實施例的相機模塊中,在永磁體的中性區中布置用于測量磁通量密度的感測傳感器,從而可提高致動器的驅動可靠性和驅動線性度。
根據本公開的一方面,提供一種相機模塊,所述相機模塊的焦距通過包括永磁體和線圈的致動器被調節,其中,在永磁體的一部分上面對用于感測磁通量密度的感測傳感器形成中性區,所述中性區空間地劃分所述永磁體的第一極性區和第二極性區。
根據本公開的另一方面,一種相機模塊包括:永磁體,形成在鏡筒處;線圈,被布置為面對所述永磁體;感測傳感器,被布置為面對中性區,所述中性區形成在永磁體的第一極性區與永磁體的第二極性區之間;圖像傳感器,包括相位差感測部件。
根據本公開的另一方面,一種相機模塊的自動聚焦方法包括:計算入射到圖像傳感器上的圖像的相位差;利用所述相位差計算用于對圖像進行成像的焦距;計算鏡筒的當前位置;將所述焦距與所述當前位置彼此比較,以確定鏡筒的運動位移。
附圖說明
通過下面結合附圖進行的詳細描述中,本公開的以上和其它方面、特點及其它優點將變得更加清楚地被理解,附圖中:
圖1是用于描述自動聚焦(AF)模式的曲線圖;
圖2是示出了相位差AF模式和對比度AF模式的線性度的曲線圖;
圖3是根據本公開的示例性實施例的相機模塊的結構圖;
圖4是圖3中所示的圖像傳感器的平面圖;
圖5是圖3中所示的圖像傳感器的另一實施例的平面圖;
圖6是圖3中所示的致動器的主要結構的平面圖;
圖7是圖3中所示的致動器的主要結構的正視圖;
圖8是圖3中所示的致動器的線圈的正視圖;
圖9是示出了圖3中所示的相機模塊的控制關系的結構圖;
圖10是示出了根據本公開的示例性實施例的相機模塊的自動聚焦方法的流程圖。
具體實施方式
以下,將參照附圖詳細的描述本公開的實施例。然而,本公開可以以多種不同的形式實施,并且不應該被解釋為限制于在此闡述的實施例。更確切地說,提供這些實施例以使本公開將是徹底的和完整的,并且將本公開的范圍充分地傳達給本領域技術人員。在附圖中,為了清楚起見,可能夸大元件的形狀和尺寸,并且將始終使用相同的標號來指示相同或相似的元件。
另外,在下文中,“高度”是指沿著大致與光軸方向平行的方向的長度,“寬度”是指沿著與光軸方向垂直的方向的長度。
將參照圖1描述自動聚焦(AF)模式。
在對比度AF模式的情況下,在移動電話的相機中使用致動器的自動聚焦模式可在不需附加裝備的情況下執行自動聚焦。然而,在該模式下,在由于高像素密度而導致將被處理的數據的容量增大的情況下,會增加自動聚焦的控制時間。
自動聚焦控制時間可以是影響對即時動作成像的質量的重要因素。通過利用紅外線的AF模式或者利用相位差(PD)的AF模式可減少自動聚焦控制時間。然而,由于為了使用該方法需要附加的硬件,所以會使在小型終端(例如,便攜式電話)中使用該方法變得困難。因此,本申請人開發了PD-AF模式,所述PD-AF模式在無需附加硬件的情況下通過在圖像傳感器中適當地設置位置傳感器而計算散焦量。為了便于參考,在相機模塊中,AF時間的差異可以是大約0.2S。
以下,將參照圖2簡要地描述相位差AF模式的現存問題。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于三星電機株式會社,未經三星電機株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410331173.1/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





