[發明專利]基于瞬態光柵效應的飛秒激光脈沖測量裝置

在審

• 申請號: 201410327593.2
• 申請日: 2014-07-10
• 公開（公告）號: CN104121994A
• 公開（公告）日: 2014-10-29
• 發明（設計）人: 劉軍;申雄;王鵬;李方家
• 申請（專利權）人: 中國科學院上海光學精密機械研究所
• 主分類號: G01J9/02
• 分類號: G01J9/02
• 代理公司: 上海新天專利代理有限公司 31213
• 代理人: 張澤純

1.一種基于瞬態光柵效應的飛秒激光脈沖測量裝置，特征在于其構成包括：沿光束輸入方向依次是第一凹面反射鏡(2)、凸面反射鏡(3)、四小孔光闌板(4)、可變中性衰減延時片(5)、三階非線性光學介質(6)、小孔光闌板(7)、第二凹面反射鏡(8)和高光譜精度的光譜儀(9)，所述的第一凹面反射鏡(2)中心具有一個小孔，所述的四小孔光闌板(4)具有呈正方形分布的四個小孔，所述第一凹面反射鏡(2)和所述凸面反射鏡(3)的反射面相對組成一個聚焦系統，待測飛秒激光光束(1)依次經過所述第一凹面反射鏡(2)的小孔、凸面反射鏡(3)、第一凹面反射鏡(2)并被所述聚焦系統聚焦，在所述凸面反射鏡和所述聚焦系統的焦平面之間放置所述的四小孔光闌板(4)，將所述聚焦光束分成四束分別稱為第一光束、第二光束、第三光束和第四光束，在所述的四小孔光闌板(4)和所述的焦平面之間在第四光束的光路上放置所述的可變中性衰減延時片(5)，對所述的第四光束進行衰減延時作為待測光，所述的第一光束、第二光束和第三光束在空氣中自由傳播，并在所述焦平面處的所述三階非線性光學介質(6)中，產生瞬態光柵效應形成瞬態光柵信號作為參考光，所述待測光經過所述的三階非線性光學介質(6)后與所述的參考光在空間重合一起依次經過所述的小孔光闌板(7)和所述的第二凹面反射鏡反射(8)后進入所述的高光譜精度的光譜儀(9)進行測量，獲得待測飛秒激光的自參考干涉光譜。

2.一種基于瞬態光柵效應的飛秒激光脈沖測量裝置，特征在于其構成包括：沿光束輸入方向依次是四小孔光闌板(2)、可變中性衰減延時片(3)、平面反射鏡(4)，第一凹面反射鏡(5)、三階非線性光學介質(6)、小孔光闌板(7)、第二凹面反射鏡(8)和高光譜精度的光譜儀(9)，所述的四小孔光闌板(2)具有呈正方形分布的四個小孔，所述的第一凹面反射鏡(5)中心具有一個小孔，所述的平面反射鏡(4)和第一凹面反射鏡(5)的反射面相對組成一個聚焦系統，待測飛秒激光光束(1)經所述四小孔光闌板(2)后分成四束，分別稱為第一光束、第二光束、第三光束和第四光束，所述的四束光依次經過第一凹面反射鏡(5)、平面反射鏡(4)并穿過第一凹面反射鏡(5)中心的小孔，被所述聚焦系統聚焦入所述聚焦系統的焦平面處放置的所述的三階非線性光學介質(6)，并在所述的三階非線性光學介質(6)中，所述的第一光束、第二光束和第三光束產生瞬態光柵效應形成瞬態光柵信號光波作為參考光，所述的第四光束經置于所述四小孔光闌板(2)和所述的平面反射鏡(4)之間的所述的可變中性衰減延時片(3)衰減延時后作為待測光與所述參考光在空間重合一起依次經過所述的小孔光闌板(7)和所述的第二凹面反射鏡(8)反射后進入所述的高光譜精度的光譜儀(9)進行測量，獲得待測飛秒激光的自參考干涉光譜。