[發明專利]基于級聯混沌序列構造測量矩陣的方法在審
| 申請號: | 201410325128.5 | 申請日: | 2014-07-10 |
| 公開(公告)號: | CN104113346A | 公開(公告)日: | 2014-10-22 |
| 發明(設計)人: | 李健;李智;粟娟;鮮義川 | 申請(專利權)人: | 四川大學 |
| 主分類號: | H03M7/40 | 分類號: | H03M7/40 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 610064 四*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 級聯 混沌 序列 構造 測量 矩陣 方法 | ||
1.一種基于級聯混沌序列構造測量矩陣的方法:其特征在于所述方法步驟如下:
????步驟一:選取適當的混沌序列構成級聯混沌序列,設定合適的參數使得所選混沌序列迭代表達式都能保證序列進入到混沌狀態;
步驟二:對所選混沌序列依次給定初始值開始迭代,迭代一定次數后生成序列V1,V2,V3...然后將生成的序列級聯成一個序列V=[V1,V2,V3...];
步驟三:對上述生成的序列V以間隔d抽樣并按列構造大小為N*N的矩陣;
步驟四:由上述生成的矩陣是一個方陣,我們可根據M值的不同依次選取從第一行到M行構造M*N矩陣,并對其歸一化得到測量矩陣????????????????????????????????????????????????,其表示為:??????
?????????。
2.根據權利要求1所述的一種基于級聯混沌序列構造測量矩陣的方法,其特征在于所選取的混沌序列沒有任何限制,混沌序列可以是一維,二維或者三維混沌序列。
3.根據權利要求1所述的一種基于級聯混沌序列構造測量矩陣的方法,其特征在于步驟一中所選擇的三個混沌序列的參數選擇一定要在滿足混沌狀態之內。
4.根據權利要求1所述的一種基于級聯混沌序列構造測量矩陣的方法,其特征在于步驟二中的初始值只能取混沌序列遍歷區間的某一個值,而不是隨意選取,其中所述的迭代次數是根據間隔d的取值和信號長度共同設定的迭代總次數,并對總迭代次數取平均而設置每一級的迭代次數。
5.根據權利要求1所述的一種基于級聯混沌序列構造測量矩陣的方法,其特征在于步驟三中的間隔d是根據實際情況事先計算好的。
6.根據權利要求1所述的一種基于級聯混沌序列構造測量矩陣的方法,其特征在于步驟四中M值是可控的,即是可根據實際情況自主選擇矩陣的大小,但此處的M是小于N的。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于四川大學,未經四川大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410325128.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種電子裝置
- 下一篇:基于模擬延遲鎖相環的時鐘產生器





