[發明專利]對檢查對象進行高分辨率微分相襯成像的X射線拍攝系統

有效

• 申請號: 201410320900.4
• 申請日: 2014-07-04
• 公開（公告）號: CN104274198B
• 公開（公告）日: 2018-12-14
• 發明（設計）人: M.霍黑塞爾;K.克林根貝克
• 申請（專利權）人: 西門子公司
• 主分類號: A61B6/03
• 分類號: A61B6/03;G01N23/04
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 任宇

1.一種用于對檢查對象(6)進行微分相襯成像的X射線拍攝系統，該X射線拍攝系統具有：至少一個用于產生準相干的X射線(12)的X射線發射器(3)；帶有輻射敏感的、對射線成像有效的輸入面的和布置成陣列的像素的X射線成像探測器(4)；布置在所述檢查對象(6)與所述X射線成像探測器(4)之間的衍射或相位光柵(17)、為所述衍射或相位光柵(17)對應配設的檢偏器光柵(18)和用于控制X射線成像探測器(4)且接收以及處理所述X射線成像探測器(4)的圖像信號的圖像系統(8)，其特征在于，所述衍射或相位光柵(17)和所述檢偏器光柵(18)的尺寸為，使得它們遮蓋X射線成像探測器(4)的輸入面的僅一部分，所述圖像系統(8)構造為，使得讀出并處理所述X射線成像探測器(4)的輸入面的、由所述衍射或相位光柵(17)和檢偏器光柵(18)遮蓋的部分作為用于相襯成像的部分區域并且讀出并且處理所述X射線成像探測器(4)的其余區域以便基于吸收X射線的成像。

2.按權利要求1所述的X射線拍攝系統，其特征在于，所述衍射或相位光柵(17)和所述檢偏器光柵(18)可移動地布置成，使得它們能引入所述X射線(12)的光路中和/或通過所述X射線成像探測器(4)的成像的輸入面能定位在不同的部分區域上。

3.按權利要求1或2所述的X射線拍攝系統，其特征在于，所述衍射或相位光柵(17)和所述檢偏器光柵(18)能作為一個單元共同地在所述X射線成像探測器(4)之前直接引入或定位。

4.按權利要求1或2所述的X射線拍攝系統，其特征在于，所述X射線成像探測器(4)的部分區域具有比其余區域更高的分辨率。

5.按權利要求1或2所述的X射線拍攝系統，其特征在于，PCI探測器(25)作為用于相襯成像的X射線成像探測器能在用于吸收成像的X射線成像探測器(4)之前引入所述X射線(12)的光路，所述PCI探測器(25)具有與所述衍射或相位光柵(17)和檢偏器光柵(18)相似的尺寸。

6.按權利要求5所述的X射線拍攝系統，其特征在于，所述PCI-探測器(25)和所述衍射或相位光柵(17)和檢偏器光柵(18)的尺寸為5cm×5cm。

7.按權利要求5所述的X射線拍攝系統，其特征在于，所述衍射或相位光柵(17)、檢偏器光柵(18)和所述PCI探測器(25)能手動地和/或電機驅動地共同地引入所述光路(12)或定位。

8.按權利要求5所述的X射線拍攝系統，其特征在于，所述PCI探測器(25)與所述衍射或相位光柵(17)和所述檢偏器光柵(18)在結構上連接。

9.按權利要求5所述的X射線拍攝系統，其特征在于，所述PCI探測器(25)通過電纜(27)和/或通過無線的接口與所述圖像系統(8)連接。

10.按權利要求5所述的X射線拍攝系統，其特征在于，所述PCI探測器(25)按面積具有比更大的X射線成像探測器(4)更小的像素，以便能實現更高的位置分辨率。

11.按權利要求5所述的X射線拍攝系統，其特征在于，所述PCI探測器(25)設計成量子計數探測器。

12.按權利要求5所述的X射線拍攝系統，其特征在于，為所述衍射或相位光柵(17)、所述檢偏器光柵(18)和/或所述PCI探測器(25)配設有允許所述衍射或相位光柵(17)和檢偏器光柵(18)和/或所述PCI探測器(25)朝所述X射線發射器(3)的管焦點(11)定向的設備。

13.按權利要求5所述的X射線拍攝系統，其特征在于，在所述PCI探測器(25)上安設致動器(29)，其能夠實現所述PCI探測器(25)在兩個空間方向上傾斜(30)。