[發明專利]光學系統

在審

• 申請號: 201410320043.8
• 申請日: 2014-07-07
• 公開（公告）號: CN105319557A
• 公開（公告）日: 2016-02-10
• 發明（設計）人: 劉華唐;王錦祥;吳宛昀
• 申請（專利權）人: 信泰光學(深圳)有限公司;亞洲光學股份有限公司
• 主分類號: G01S17/08
• 分類號: G01S17/08
• 代理公司: 深圳市順天達專利商標代理有限公司 44217
• 代理人: 王小青

技術領域

本發明有關于一種光學系統，特別是有關于一種適用于測距儀的光學系統。

背景技術

一般測距儀可針對被測物發出訊號，此訊號傳至被測物表面時將被反射回到測距儀，測距儀內部的訊號接收裝置接收到此反射訊號后，即可利用訊號往返被測物所需時間換算出被測物距離。近年來有些測距儀，例如雷射瞄準鏡，其包括一套光學組合件來放大被測物影像，以方便使用者瞄準被測物。還有些測距儀，例如美國專利US7614156所揭露的弓箭用測距儀，除了有光學組合件用來放大被測物影像外，還包括影像感測裝置與液晶顯示器，可將放大的被測物影像顯示于液晶顯示器，以方便使用者觀測與瞄準。上述的光學組合件、影像感測裝置及液晶顯示器都將導致測距儀的體積與重量增加，不易于攜帶與使用。

發明內容

本發明要解決的技術問題在于，針對現有技術中測距儀的體積和重量增加、不易于攜帶和使用的缺陷，提供一種光學系統，以大幅減少測距儀的體積與重量。

本發明為解決其技術問題所采用的技術方案是，提供一種光學系統可包括發射器、接收器及穿透式顯示裝置。發射器發出訊號至被測物。接收器接收由被測物反射回來的訊號。穿透式顯示裝置顯示由測距儀所測得的被測物的距離，且被測物的影像直接通過穿透式顯示裝置直接被目視。

本發明的光學系統可更包括集光透鏡以及發射透鏡，設置于發射器與被測物之間。

其中發射器為半導體雷射或者為紅外線發射器。

本發明的光學系統可更包括集光透鏡以及發射透鏡，設置于接收器與被測物之間。

其中接收器為崩潰光二極管(APD)或者為光二極管(PD)。

其中穿透式顯示裝置為液晶顯示器(LCD)或者為有機發光二極管(OLED)。

或者本發明的光學系統實質上由發射器、接收器、復數個集光透鏡、復數個發射透鏡以及穿透式顯示裝置所組成。發射器發出訊號至被測物。接收器接收由被測物反射回來的訊號。集光透鏡以及發射透鏡設置于發射器與被測物之間以及接收器與被測物之間。穿透式顯示裝置顯示由測距儀所測得的被測物的距離，且被測物的影像直接通過穿透式顯示裝置直接被目視。

其中發射器為半導體雷射或者為紅外線發射器。

其中接收器為崩潰光二極管(APD)或者為光二極管(PD)。

其中穿透式顯示裝置為液晶顯示器(LCD)或者為有機發光二極管(OLED)。

實施本發明的光學系統，具有以下有益效果：使用者眼睛可隔著光學系統的顯示裝置直接目視并瞄準被測物，本發明的光學系統可不包含將被測物影像放大以供瞄準的光學組合件，以大幅減少測距儀的體積與重量，使測距儀易于攜帶與使用，并且能降低生產成本。

附圖說明

為使本發明的上述目的、特征、和優點能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例并配合附圖做詳細說明。

圖1是依據本發明的光學系統的一實施例的示意圖。

圖2是圖1中的光學系統的使用示意圖。

具體實施方式

請參閱圖1，圖1是依據本發明的光學系統的一實施例的示意圖。如圖所示，光學系統10包括顯示系統11、發射系統13及接收系統15。顯示系統11包括穿透式顯示裝置111、第一保護玻璃112及第二保護玻璃113。發射系統13包括發射器131、集光透鏡132及發射透鏡133。接收系統15包括接收器151、集光透鏡152及發射透鏡153。

使用時，將穿透式顯示裝置111對向被測區域(未圖標)，被測區域影像將直接通過穿透式顯示裝置111，使用者隔著穿透式顯示裝置111可直接目視被測區域，使用者再依所目視的被測區域將光學系統10對準其中被測物(未圖示)。接著發射系統13發出發射光131T至被測物，并且接收由被測物反射的反射光131R，再經后續的數據處理，將測出的被測物距離傳送至穿透式顯示裝置111供使用者檢視。

以下將說明使用時的光學路徑。請同時參閱圖1及圖2，圖2是圖1中的光學系統的使用示意圖。如圖2所示，使用時將光學系統10對向被測區域，使用者的眼睛20隔著穿透式顯示裝置111可直接目視被測區域，接著調整光學系統10使穿透式顯示裝置111對準被測區域中的被測物30，此時使用者的眼睛20隔著穿透式顯示裝置111可直接目視被測物30。