[發(fā)明專利]一種基于區(qū)域分割的星敏感器標(biāo)定方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410319195.6 | 申請(qǐng)日: | 2014-07-04 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104166985B | 公開(公告)日: | 2017-03-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 程會(huì)艷;鄭然;武延鵬;鐘俊;孫大開;周建濤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京控制工程研究所 |
| 主分類號(hào): | G06T7/00 | 分類號(hào): | G06T7/00;G01C25/00 |
| 代理公司: | 中國航天科技專利中心11009 | 代理人: | 安麗 |
| 地址: | 100080 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 區(qū)域 分割 敏感 標(biāo)定 方法 | ||
1.一種基于區(qū)域分割的星敏感器標(biāo)定方法,其特征在于步驟如下:
(1)將星敏感器放置于上;
(2)以均勻的角度轉(zhuǎn)動(dòng)兩軸轉(zhuǎn)臺(tái),同時(shí)對(duì)單星模擬器進(jìn)行成像觀測(cè),成像觀測(cè)的具體方法為:獲取單星模擬器模擬的星點(diǎn)在星敏感器像平面上的位置坐標(biāo)以及兩軸轉(zhuǎn)臺(tái)的角度坐標(biāo),即得到一個(gè)成像點(diǎn)的數(shù)據(jù),勻速轉(zhuǎn)動(dòng)轉(zhuǎn)臺(tái)m次,可獲得m個(gè)成像點(diǎn)數(shù)據(jù),將這些成像點(diǎn)作為基準(zhǔn)網(wǎng)格點(diǎn),其中m為正整數(shù);
(3)根據(jù)步驟(2)得到的基準(zhǔn)網(wǎng)格點(diǎn)和星敏感器視場(chǎng)大小將星敏感器視場(chǎng)劃分為n個(gè)相互獨(dú)立的校正區(qū)域,并根據(jù)每個(gè)校正區(qū)域所包含基準(zhǔn)網(wǎng)格點(diǎn)的平面位置坐標(biāo)和角度坐標(biāo),為每個(gè)校正區(qū)域生成一組校正函數(shù);
(4)在不超出基準(zhǔn)網(wǎng)格點(diǎn)分布邊界的范圍內(nèi)選擇測(cè)試點(diǎn),用于檢驗(yàn)校正函數(shù)的標(biāo)校精度;
(5)根據(jù)步驟(4)中的測(cè)試點(diǎn)位置判定其所屬的校正區(qū)域,并利用相應(yīng)的校正函數(shù)進(jìn)行計(jì)算轉(zhuǎn)臺(tái)的角度坐標(biāo),將計(jì)算結(jié)果與步驟(2)中獲取的兩軸轉(zhuǎn)臺(tái)的角度坐標(biāo)進(jìn)行比較,計(jì)算各測(cè)試點(diǎn)標(biāo)校后的殘余誤差;
(6)判斷所有測(cè)試點(diǎn)的殘余誤差是否滿足誤差要求,若滿足則該組校正函數(shù)可用于后續(xù)星敏感器系統(tǒng)誤差的校正,否則進(jìn)入步驟(2)重新劃分基準(zhǔn)網(wǎng)格點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種星敏感器的標(biāo)定方法,其特征在于:所述步驟(3)中校正函數(shù)生成的具體方法如下:
根據(jù)每個(gè)校正區(qū)域包含的網(wǎng)格點(diǎn)在成像面上的位置坐標(biāo)與對(duì)應(yīng)的兩軸轉(zhuǎn)臺(tái)角度坐標(biāo)之間轉(zhuǎn)換關(guān)系,采用數(shù)據(jù)擬合的方法得到每個(gè)校正區(qū)域的基準(zhǔn)網(wǎng)格點(diǎn)從成像面坐標(biāo)到轉(zhuǎn)臺(tái)坐標(biāo)之間的轉(zhuǎn)換函數(shù),即校正函數(shù)。
校正函數(shù)一般為多項(xiàng)式,其階數(shù)與校正區(qū)域個(gè)數(shù)n、每個(gè)校正區(qū)域的基準(zhǔn)網(wǎng)格點(diǎn)數(shù)相關(guān)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種星敏感器的標(biāo)定方法,其特征在于:所述步驟(5)中殘余誤差的具體實(shí)現(xiàn)方法如下:
(1)獲得第i個(gè)測(cè)試點(diǎn)平面位置坐標(biāo),其中i初值為1,且小于等于測(cè)試點(diǎn)總數(shù)N,其中N為正整數(shù);
(2)判斷第i個(gè)測(cè)試點(diǎn)所屬校正區(qū)域,記第i個(gè)測(cè)試點(diǎn)所在區(qū)域?yàn)閖,j初值為1,且小于等于測(cè)試點(diǎn)總數(shù)N;
(3)利用第j個(gè)校正區(qū)域的校正函數(shù)計(jì)算該測(cè)試點(diǎn)校正后的角度坐標(biāo);
(4)將該測(cè)試點(diǎn)校正后角度坐標(biāo)與相應(yīng)的兩軸轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)量的角度坐標(biāo)進(jìn)行比較;
(5)計(jì)算該測(cè)試點(diǎn)的殘余誤差;
(6)重復(fù)步驟(1)到步驟(5),依次計(jì)算N個(gè)測(cè)試點(diǎn)的殘余誤差;
(7)統(tǒng)計(jì)所有測(cè)試點(diǎn)殘余誤差的最大值、最小值和平均值,并依次計(jì)算95%測(cè)試點(diǎn)的殘余殘差、90%測(cè)試點(diǎn)的殘余殘差和85%測(cè)試點(diǎn)的殘余殘差的最大值。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種星敏感器的標(biāo)定方法,其特征在于:所述的m為289;所述的n為225。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京控制工程研究所,未經(jīng)北京控制工程研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410319195.6/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 可測(cè)量片外橫向偏導(dǎo)的橫向偏差三敏感柵叉指金屬應(yīng)變片
- 可測(cè)量偏置位置軸向偏導(dǎo)的軸向偏差三敏感柵叉指金屬應(yīng)變片
- 可測(cè)量偏置敏感柵中心軸向偏導(dǎo)的軸向偏差三敏感柵叉指金屬應(yīng)變片
- 可測(cè)量偏置敏感柵外側(cè)軸向偏導(dǎo)的軸向偏差三敏感柵叉指金屬應(yīng)變片
- 可測(cè)量偏置敏感柵中心橫向偏導(dǎo)的橫向偏差三敏感柵叉指金屬應(yīng)變片
- 三軸硅微加速度計(jì)
- 三軸硅微加速度計(jì)
- 一種用于大噸位傳感器的自定位應(yīng)變計(jì)
- 用于簡(jiǎn)化懸臂梁傳感器的全橋箔式電阻應(yīng)變計(jì)
- 一種敏感文件管理方法





