[發(fā)明專利]LED產(chǎn)品質(zhì)量檢測分類系統(tǒng)及其檢測分類方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410315880.1
• 申請日: 2014-07-03
• 公開（公告）號: CN104089758A
• 公開（公告）日: 2014-10-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉石神;呂慧峰;陳要玲;劉從峰;張晶晶;王偉輝
• 申請（專利權(quán)）人: 常州光電技術(shù)研究所
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京中濟(jì)緯天專利代理有限公司 11429
• 代理人: 徐琳淞

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種LED產(chǎn)品質(zhì)量快速分類系統(tǒng)及其檢測方法，尤其涉及一種能同時(shí)針對大批量LED芯片或燈具的質(zhì)量進(jìn)行快速定性檢測的系統(tǒng)及其檢測分類方法。

背景技術(shù)

發(fā)光二極管簡稱為LED，它的問世被譽(yù)為人類照明史上的一次革命，是未來發(fā)展的趨勢。LED產(chǎn)品分為LED芯片和LED燈具，LED芯片和燈具的質(zhì)量控制和工藝穩(wěn)定性受到種種條件和因素的影響，任何一個環(huán)節(jié)的疏漏都會導(dǎo)致產(chǎn)品不良率迅速升高，且難以及時(shí)發(fā)現(xiàn)。因此有效、便捷、迅速地測量大批量LED芯片和燈具的質(zhì)量，將其中的殘次品迅速剔除，對于企業(yè)降低成本，提高產(chǎn)品質(zhì)量等方面都具有十分重要的意義。而現(xiàn)有的LED產(chǎn)品產(chǎn)品質(zhì)量檢測裝置大都存在結(jié)構(gòu)復(fù)雜、測試慢、測試結(jié)果不準(zhǔn)確等問題，而且只能對LED芯片或者LED燈具進(jìn)行檢測，沒有通用性，增加了檢測的成本。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的第一個目的是解決傳統(tǒng)設(shè)備無法快速剔除大量LED芯片或燈具中殘次品以及沒用通用性的缺點(diǎn)，提供一種既能檢測LED芯片又能檢測LED燈具的LED產(chǎn)品質(zhì)量的快速檢測分類系統(tǒng)。

實(shí)現(xiàn)本發(fā)明第一個目的的技術(shù)方案是一種LED產(chǎn)品質(zhì)量檢測分類系統(tǒng)，包括開關(guān)、樣品電源、樣品臺、光譜儀和電腦；所述開關(guān)連接樣品電源和電腦；所述樣品電源包括直流電源和交流電源；所述樣品電源的輸出端連接樣品臺的輸入端；所述樣品臺包括芯片樣品臺和燈具樣品臺；所述直流電源的輸出端連接芯片樣品臺；所述交流電源的輸出端連接燈具樣品臺；所述光譜儀為光纖光譜儀，其光纖探頭對準(zhǔn)樣品臺；所述光譜儀的輸出端連接電腦；所述電腦的輸出端連接樣品電源。

所述光譜儀還包括光闌。

所述直流電源為可編程直流電源；所述交流電源包括微處理器和USB繼電器，所述微處理器控制USB繼電器的通斷，所述USB繼電器的輸出端連接燈具樣品臺。

所述芯片樣品臺和燈具樣品臺均有多個。

所述樣品臺底部設(shè)置傳送帶。

本發(fā)明的第二個目的是提供一種LED產(chǎn)品質(zhì)量檢測分類系統(tǒng)的檢測分類方法，該方法能快速有效地對LED產(chǎn)品進(jìn)行在線檢測和分類。

實(shí)現(xiàn)本發(fā)明第二個目的的技術(shù)方案是一種LED產(chǎn)品質(zhì)量檢測分類系統(tǒng)的檢測分類方法，包括開關(guān)、樣品電源、樣品臺、光譜儀和電腦；所述樣品電源包括可編程的直流電源和交流電源；所述樣品臺包括芯片樣品臺和燈具樣品臺；所述開關(guān)同時(shí)連接電腦、直流電源和交流電源；所述電腦同時(shí)連接直流電源、交流電源以及光譜儀；所述直流電源通過電腦控制輸出不同大小的恒定電流；；所述交流電源包括微處理器和USB繼電器，所述電腦控制微處理器進(jìn)而控制USB繼電器的通斷，；所述光譜儀為光纖光譜儀，其光纖探頭對準(zhǔn)芯片樣品臺或燈具樣品臺，采集光譜信息并傳輸至電腦；

其檢測分類的方法為：

步驟一：將樣品放在樣品臺上；

步驟二：根據(jù)樣品選擇測試軟件，輸入樣品的電流電壓以及區(qū)分產(chǎn)品等級的數(shù)值參數(shù)；

步驟三：開始測試，樣品電源給樣品供電，樣品點(diǎn)亮；同步地，光譜儀開始工作，按時(shí)間間隔同步地采集樣品的光譜數(shù)據(jù)并傳輸給電腦；采集結(jié)束，關(guān)閉樣品電源，樣品熄滅；

步驟四：電腦計(jì)算分析光譜數(shù)據(jù)，與步驟二中輸入的區(qū)分產(chǎn)品等級的標(biāo)準(zhǔn)比較，得到該樣品的質(zhì)量等級；

步驟五：取下已測樣品，換上新樣品，重復(fù)步驟一至步驟四。

所述步驟一中，若樣品為LED芯片，將樣品放置在芯片樣品臺，將芯片樣品臺的輸入端與直流電源連接；所樣品為LED燈具，將樣品放置在燈具樣品臺，將燈具樣品臺的輸入端與交流電源連接；所述步驟二中，若樣品為LED芯片，選擇直流測試軟件；若樣品為LED燈具，選擇交流測試軟件。

所述步驟二中，區(qū)分產(chǎn)品等級的參數(shù)為峰值波長偏移量的大小；所述步驟四中，電腦計(jì)算步驟三測試的光譜數(shù)據(jù)的峰值波長，并將峰值波長與點(diǎn)亮?xí)r間進(jìn)行指數(shù)函數(shù)擬合，計(jì)算出樣品被點(diǎn)亮瞬時(shí)和測試結(jié)束時(shí)的峰值波長偏移量，根據(jù)峰值波長偏移量的大小落入的步驟二中設(shè)定的等級區(qū)間來對被測樣品進(jìn)行分級。

所述光譜儀包括光闌；所述步驟四中，所計(jì)算出的峰值波長若過小或過大，則調(diào)節(jié)光闌開孔大小后重新測試，直到峰值波長處于正常范圍；所述步驟五中，在測試同一批次樣品時(shí)，不再調(diào)節(jié)光闌。

所述步驟三中，在對一個樣品進(jìn)行測試的同時(shí)，用樣品臺夾裝下一個待測樣品。