[發明專利]溫度測量裝置以及溫度測量方法

無效

• 申請號: 201410315783.2
• 申請日: 2011-04-01
• 公開（公告）號: CN104083151A
• 公開（公告）日: 2014-10-08
• 發明（設計）人: 后藤健次
• 申請（專利權）人: 精工愛普生株式會社
• 主分類號: A61B5/01
• 分類號: A61B5/01;G01K1/20;G01K7/42;G01K13/00
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 李輝;黃綸偉

1.一種溫度測量裝置，其特征在于，該溫度測量裝置包括：

第1表面溫度測量單元，其測量被測量對象的表面溫度作為第1表面溫度；

第1參照溫度測量單元，其測量與所述第1表面溫度的測量位置之間具有規定的熱阻值、且與外氣之間具有第1熱阻值的位置處的溫度作為第1參照溫度；

第1外氣溫度測量單元，其測量與所述第1參照溫度的測量位置之間具有所述第1熱阻值、且與外氣之間具有規定的熱傳遞系數的位置處的溫度作為第1外氣溫度；

第2表面溫度測量單元，其測量與所述第1表面溫度的測量位置不同的表面位置處的第2表面溫度；

第2參照溫度測量單元，其測量與所述第2表面溫度的測量位置之間具有規定的熱阻值、且與外氣之間具有與所述第1熱阻值不同的第2熱阻值的位置處的溫度作為第2參照溫度；

第2外氣溫度測量單元，其測量與所述第2參照溫度的測量位置之間具有所述第2熱阻值、且與外氣之間具有規定的熱傳遞系數的位置處的溫度作為第2外氣溫度；以及

外氣溫度運算單元，其使用所述第1表面溫度、所述第1參照溫度、所述第2表面溫度、所述第2參照溫度、所述第1外氣溫度以及所述第2外氣溫度的值，運算出外氣的外氣溫度。

2.根據權利要求1所述的溫度測量裝置，其特征在于，

在所述第1表面溫度的測量位置與所述第1參照溫度的測量位置之間、以及在所述第2表面溫度的測量位置與所述第2參照溫度的測量位置之間，設置有相同的具有所述規定的熱阻值的絕熱部，

在所述第1參照溫度的測量位置與外氣之間，設置有具有所述第1熱阻值的第1散熱控制部，

在所述第2參照溫度的測量位置與外氣之間，設置有具有所述第2熱阻值的第2散熱控制部，

所述第1散熱控制部的與外氣的接觸面、以及所述第2散熱控制部的與外氣的接觸面構成為，規定的熱傳遞系數相等。

3.根據權利要求1或2所述的溫度測量裝置，其特征在于，

該溫度測量裝置包括：

顯示裝置，其具有顯示部，該顯示部顯示由所述外氣溫度運算單元運算出的所述外氣溫度；以及

溫度計主體，其具有所述第1表面溫度測量單元、所述第2表面溫度測量單元、所述第1參照溫度測量單元、所述第2參照溫度測量單元、所述第1外氣溫度測量單元以及所述第2外氣溫度測量單元，

所述顯示裝置與所述溫度計主體分體地構成。

4.一種溫度測量方法，其特征在于，該溫度測量方法包括以下步驟：

測量被測量對象的表面溫度作為第1表面溫度；

測量與所述第1表面溫度的測量位置之間具有規定的熱阻值、且與外氣之間具有第1熱阻值的位置處的溫度作為第1參照溫度；

測量與所述第1參照溫度的測量位置之間具有所述第1熱阻值、且與外氣之間具有規定的熱傳遞系數的位置處的溫度作為第1外氣溫度；

測量與所述第1表面溫度的測量位置不同的表面位置處的第2表面溫度；

測量與所述第2表面溫度的測量位置之間具有規定的熱阻值、且與外氣之間具有與所述第1熱阻值不同的第2熱阻值的位置處的溫度作為第2參照溫度；

測量與所述第2參照溫度的測量位置之間具有所述第2熱阻值、且與外氣之間具有規定的熱傳遞系數的位置處的溫度作為第2外氣溫度；以及

使用所述第1表面溫度、所述第1參照溫度、所述第2表面溫度、所述第2參照溫度、所述第1外氣溫度以及所述第2外氣溫度的值，運算出外氣的外氣溫度。