[發明專利]用于GaN膜中摻雜劑物質的電活化的方法有效
| 申請號: | 201410315563.X | 申請日: | 2014-07-03 |
| 公開(公告)號: | CN104282532B | 公開(公告)日: | 2018-09-25 |
| 發明(設計)人: | 克萊爾·阿格拉費伊 | 申請(專利權)人: | 法國原子能及替代能源委員會 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02 |
| 代理公司: | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人: | 張英;王玉桂 |
| 地址: | 法國*** | 國省代碼: | 法國;FR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 gan 摻雜 物質 活化 方法 | ||
1.一種用于GaN膜(3)中摻雜劑物質的電活化的方法,其特征在于,所述方法包括以下步驟:
a)提供包括支撐襯底(2)和含有摻雜劑物質的GaN膜(3)的疊層(1),
b)通過直接粘結將厚度大于2微米的屏蔽層(6)粘結至所述GaN膜(3)的表面,從而形成活化結構(7),以及
c)根據被構造成用于電活化至少一部分所述摻雜劑物質的條件,向所述活化結構(7)應用熱預算,
其中所述“直接粘結”是指直接粘結而不插入粘合劑材料。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,應用熱預算的步驟c)包括在高于1000℃的溫度下應用至少一種熱處理幾分鐘至幾天的時間段。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,應用熱預算的步驟c)包括在高于1200℃的溫度下應用至少一種熱處理幾分鐘至幾天的時間段。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法,其特征在于,應用熱預算的步驟c)包括應用幾種熱處理序位,每個序位在相同或不同的溫度以及相同或不同的時間段進行。
5.根據權利要求1至3中任一項所述的方法,其特征在于,所述方法在步驟a)之前包括步驟i),所述步驟i)包括在所述支撐襯底(2)上進行所述GaN膜(3)的外延生長。
6.根據權利要求5所述的方法,其特征在于,在外延生長的步驟i)期間摻雜所述GaN膜(3)。
7.根據權利要求1至3中任一項所述的方法,其特征在于,所述方法在步驟a)之前包括步驟j),所述步驟j)包括在所述GaN膜(3)中注入所述摻雜劑物質。
8.根據權利要求7所述的方法,其特征在于,注入的步驟j)包括n型摻雜劑和p型摻雜劑的注入。
9.根據權利要求1至3中任一項所述的方法,其特征在于,所述支撐襯底(2)由藍寶石構成并且所述屏蔽層(6)由藍寶石或氧化鋁構成,或者所述支撐襯底(2)由硅構成并且所述屏蔽層(6)由硅或玻璃構成。
10.根據權利要求1至3中任一項所述的方法,其特征在于,所述屏蔽層(6)由晶體材料構成。
11.根據權利要求1至3中任一項所述的方法,其特征在于,所述方法在粘結的步驟b)之前包括步驟k),所述步驟k)包括在源襯底(8)中注入離子物質,從而產生脆化平面(9),所述脆化平面將所述源襯底(8)的所述屏蔽層(6)和陰性襯底(10)劃界在其兩側。
12.根據權利要求1至3中任一項所述的方法,其特征在于,所述方法在粘結的步驟b)之前包括步驟m),所述步驟m)包括將保護層沉積在所述屏蔽層(6)上,所述保護層包含選自SiO2、Si3N4、AlN、Al2O3和無定形Si中的至少一種材料。
13.根據權利要求11所述的方法,其特征在于,所述方法在粘結的步驟b)之后包括步驟n),所述步驟n)包括應用被構造成用于在所述脆化平面(9)使所述源襯底(8)斷裂的斷裂熱處理,所述斷裂熱處理與應用熱預算的步驟c)同時進行。
14.根據權利要求1至3中任一項所述的方法,其特征在于,所述方法在應用熱預算的步驟c)之后包括步驟d),所述步驟d)包括除去所述屏蔽層(6),從而暴露摻雜的GaN膜(3)的頂面,并且在步驟d)之后包括步驟e),所述步驟e)包括由摻雜的GaN膜(3)生產應用于光電子學或功率裝置領域中的裝置。
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