[發明專利]一種CMP片狀研磨修整器及其生產方法有效
| 申請號: | 201410313824.4 | 申請日: | 2014-07-03 |
| 公開(公告)號: | CN104084884A | 公開(公告)日: | 2014-10-08 |
| 發明(設計)人: | 鄒余耀 | 申請(專利權)人: | 南京三超金剛石工具有限公司 |
| 主分類號: | B24B53/12 | 分類號: | B24B53/12;B24B53/017 |
| 代理公司: | 江蘇圣典律師事務所 32237 | 代理人: | 朱慶華 |
| 地址: | 211124 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 cmp 片狀 研磨 修整 及其 生產 方法 | ||
1.一種CMP片狀研磨修整器,其包括修整本體,其特征在于,所述修整本體包括由外到內依次設置的超細磨粒層、中間層和基體層,所述中間層為低熔點金屬或結合劑,所述超細磨粒層通過低熔點金屬或結合劑與所述基體層連接。
2.一種CMP片狀研磨修整器的生產方法,其特征在于,包括步驟:
a)母板上預鍍超細磨粒;
在母板上預鍍超細磨粒后,再正式電鍍固定砂粒,形成超細磨粒層;
b)把固定在母板的超細磨粒層反轉后裝到基體層上;
使用夾具把固定在母板的超細磨粒裝到基體層上,接合時基體層和超細磨粒層尖端平行,所述基體層和所述超細磨粒層之間用低熔點金屬或結合劑連接;
c)除去母板;
d)化學處理,把15%的HCl與Na2B4O7混合,并升溫至50℃。
3.根據權利要求2所述的一種CMP片狀研磨修整器的生產方法,其特征在于,所述步驟a中的正式電鍍鍍層的厚度是超細磨粒粒徑的100%~200%。
4.根據權利要求2所述的一種CMP片狀研磨修整器的生產方法,其特征在于,所述步驟b中使用的低熔點金屬的熔點在200℃以下。
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