[發明專利]一種基于預掃描和非均勻采樣的薄層快速磁共振成像方法

有效

• 申請號: 201410313197.4
• 申請日: 2014-07-01
• 公開（公告）號: CN104042216A
• 公開（公告）日: 2014-09-17
• 發明（設計）人: 呂植成;周欣;孫獻平;蔣濱;葉朝輝;劉買利
• 申請（專利權）人: 中國科學院武漢物理與數學研究所
• 主分類號: A61B5/055
• 分類號: A61B5/055;G06T5/00;G06F19/00
• 代理公司: 武漢宇晨專利事務所 42001
• 代理人: 李鵬;王敏鋒

1.一種基于預掃描和非均勻采樣的薄層快速磁共振成像方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1、對需要掃描的各層進行單次預掃描，獲得各層k空間數據；步驟2、通過對預掃描結果的k空間數據進行統計，提取各層中大信號的位置信息；

步驟3、根據步驟2獲取的各層大信號的位置信息，為各層選擇在相同的頻率編碼和相位編碼數量下能夠覆蓋更多的大信號區域的非均勻采樣軌跡和軌跡參數；

步驟4、根據步驟3得到的非均勻采樣軌跡及軌跡參數對各層進行多次掃描；

步驟5、將步驟4中非均勻采樣獲得的數據分配到等間距均勻網格點上，通過傅里葉逆變換得到各層圖像。

2.根據權利要求1所述的一種基于預掃描和非均勻采樣的薄層快速磁共振成像方法，其特征在于，所述的步驟1中預掃描所采用的掃描軌跡為均勻笛卡爾采樣軌跡。

3.根據權利要求1所述的一種基于預掃描和非均勻采樣的薄層快速磁共振成像方法，其特征在于，所述的步驟2中對k空間數據進行統計的具體篩選標準包括：按照a的大小篩選、按照b的大小篩選、按照a的絕對值大小篩選、按照b的絕對值篩選、按照的大小篩選、按照a/b的大小篩選和按照a/b的絕對值的大小篩選；其中，a和b為k空間數據的實部和虛部，針對采集的目標物理量不同，采用不同的篩選標準進行篩選。

4.根據權利要求1所述的一種基于預掃描和非均勻采樣的薄層快速磁共振成像方法，其特征在于，所述的步驟3中使用的采樣序列為UTE類型的脈沖序列。

5.根據權利要求1所述的一種基于預掃描和非均勻采樣的薄層快速磁共振成像方法，其特征在于，所述的步驟3中的非均勻采樣軌跡包括：非均勻笛卡爾采樣軌跡、輻射形采樣軌跡、螺旋形采樣軌跡和漸開線形采樣軌跡。

6.根據權利要求1所述的一種基于預掃描和非均勻采樣的薄層快速磁共振成像方法，其特征在于，所述的步驟5中，對于非均勻采樣獲得的數據分配到等間距均勻網格點上采用點擴散函數法，使用的點擴散函數為卡塞爾-貝塞爾函數。