[發(fā)明專利]OLED像素驅(qū)動(dòng)電路、靜電釋放保護(hù)電路及檢測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410306880.5
• 申請(qǐng)日: 2014-06-30
• 公開（公告）號(hào): CN104112426A
• 公開（公告）日: 2014-10-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蔡韜
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海天馬有機(jī)發(fā)光顯示技術(shù)有限公司;天馬微電子股份有限公司
• 主分類號(hào): G09G3/32
• 分類號(hào): G09G3/32;G09G3/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種OLED像素驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于，包括：

多條相互交錯(cuò)排列的掃描線和數(shù)據(jù)線；

第一缺陷檢測(cè)單元，與所述掃描線或所述數(shù)據(jù)線的第一端點(diǎn)電連接；

其中，所述第一端點(diǎn)位于所述掃描線或數(shù)據(jù)線的一端。

2.如權(quán)利要求1所述的像素驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于，所述第一缺陷檢測(cè)單元為一有機(jī)發(fā)光二極管，所述有機(jī)發(fā)光二極管與公共地端連接。

3.如權(quán)利要求2所述的像素驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于，所述有機(jī)發(fā)光二極管包含與所述數(shù)據(jù)線或掃描線同層設(shè)置的陽極，覆蓋在所述陽極上的有機(jī)發(fā)光層，以及覆蓋在所述有機(jī)發(fā)光層上的陰極，其中，所述有機(jī)發(fā)光二極管的陰極與公共地端連接。

4.如權(quán)利要求1所述的像素驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于，所述每條數(shù)據(jù)線的一端都電連接一第一缺陷檢測(cè)單元；或者所述每條掃描線的一端都電連接一第一缺陷檢測(cè)單元。

5.如權(quán)利要求1所述的像素驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于，還包括：設(shè)置在所述數(shù)據(jù)線或掃描線的第一端點(diǎn)的一靜電釋放保護(hù)電路，以及設(shè)置在所述靜電釋放保護(hù)電路內(nèi)的第二缺陷檢測(cè)單元。

6.如權(quán)利要求5所述的像素驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于，靜電釋放保護(hù)電路包括：

靜電放電單元，接收來自所述像素驅(qū)動(dòng)電路的數(shù)據(jù)線或驅(qū)動(dòng)線的電壓并提供靜電保護(hù)；電源線；開關(guān)晶體管；

其中，所述缺陷檢測(cè)單元通過電源線連接所述開關(guān)晶體管的柵極，所述缺陷檢測(cè)單元連接所述開關(guān)晶體管第一電極，所述開關(guān)晶體管的第二電極連接像素驅(qū)動(dòng)電路的數(shù)據(jù)線或掃描線。

7.如權(quán)利要求6所述的像素驅(qū)動(dòng)電路，其特征在于，所述第二缺陷檢測(cè)單元為有機(jī)發(fā)光二極管,所述有機(jī)發(fā)光二極管的陽極連接所述開關(guān)晶體管的柵極，所述有機(jī)發(fā)光二極管的陰極連接開關(guān)晶體管的第一電極。

8.一種靜電釋放保護(hù)電路，其特征在于，所述靜電釋放保護(hù)電路位于顯示面板的非顯示區(qū)域，包括：

靜電放電單元，接收來自顯示面板像素驅(qū)動(dòng)電路的掃描線或數(shù)據(jù)線的電壓并給予靜電保護(hù)；

電源線；

開關(guān)晶體管；

第二缺陷檢測(cè)單元；

其中，所述第二缺陷檢測(cè)單元通過電源線連接所述開關(guān)晶體管的柵極，所述缺陷檢測(cè)單元連接所述開關(guān)晶體管第一電極，所述開關(guān)晶體管的第二電極連接像素驅(qū)動(dòng)電路的數(shù)據(jù)線。

9.如權(quán)利要求8所述的靜電釋放保護(hù)電路，其特征在于，所述第二缺陷檢測(cè)單元為有機(jī)發(fā)光二極管，所述有機(jī)發(fā)光二極管的陽極連接所述開關(guān)晶體管的柵極，所述有機(jī)發(fā)光二極管的陰極連接開關(guān)晶體管的第一電極。

10.一種顯示面板，其特征在于，包括：

掃描驅(qū)動(dòng)器，所述掃描驅(qū)動(dòng)器與若干條掃描線連接于掃描線的第二端點(diǎn)，用于提供掃描信號(hào)；

數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)器，所述數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)器與若干條數(shù)據(jù)線連接于數(shù)據(jù)線的第二端點(diǎn)，用于提供數(shù)據(jù)信號(hào)；

多個(gè)如權(quán)利要求1所述的像素驅(qū)動(dòng)電路，所述像素驅(qū)動(dòng)電路呈矩陣排列，其中，所述數(shù)據(jù)線或掃描線的第二端點(diǎn)位于對(duì)應(yīng)第一端點(diǎn)的另一端。

11.一種用于權(quán)利要求10所述的顯示面板的缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，包括如下步驟：

提供一光學(xué)檢測(cè)裝置；

利用掃描線發(fā)送檢測(cè)信號(hào)至對(duì)應(yīng)行的缺陷檢測(cè)單元，和/或利用數(shù)據(jù)線發(fā)送檢測(cè)信號(hào)至對(duì)應(yīng)列的缺陷檢測(cè)單元，所述缺陷檢測(cè)單元為有機(jī)發(fā)光二極管；

利用所述光學(xué)檢測(cè)裝置檢測(cè)所述的像素驅(qū)動(dòng)電路的數(shù)據(jù)線和/或掃描線對(duì)應(yīng)的有機(jī)發(fā)光二極管發(fā)光強(qiáng)度是否達(dá)到通過預(yù)定值，不發(fā)光或低于預(yù)定值則判斷該對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線或掃描線具有缺陷。

12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述檢測(cè)時(shí)間在檢測(cè)開始后至少60秒內(nèi)，所述發(fā)光強(qiáng)度的預(yù)定值設(shè)為4000坎德拉。