[發明專利]一種電容觸控傳感器測試儀

有效

• 申請號: 201410305651.1
• 申請日: 2014-06-30
• 公開（公告）號: CN104034989B
• 公開（公告）日: 2017-06-06
• 發明（設計）人: 唐志娟
• 申請（專利權）人: 蘇州茂鼎電子科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及電子技術行業中的一種測試設備，尤其是涉及一種電容觸控傳感器測試儀。

背景技術

在電子技術領域中，隨著電子產品和元器件的廣泛使用，國內電子產品的技術和性能也在不斷的發展和提高，國內相關行業對元器件的檢測技術的要求也在不斷提高，特別是為了確保元器件使用時其自身技術參數的性能需要獲得可靠的數據，目前，再對元器件進行測試大多采用ARM處理器，只能對單一元件進行檢測，且測量速度較慢，獲得的數值有偏差。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是提供一種能夠高效、準確、快捷的進行顯示以便后期數據分析的電容觸控傳感器測試儀。

本發明解決其技術問題所采取的技術方案是：一種電容觸控傳感器測試儀，包括DSP處理器，以及與DSP處理器連接的源程序存儲器、校正接口、靜態隨機存儲器、第一CPLD邏輯器件和第二CPLD邏輯器件實現信號的輸出以及反饋，所述的第一CPLD邏輯器件與掃描卡控制接口、掉電自動存儲器以及通訊電路連接實現信號的輸出以及反饋，所述的通訊電路與GPIB/RS2332接口連接實現信號的輸出以及反饋；所述的第二CPLD邏輯器件分別與直接數字頻率合成器DDS、程控放大電路、程控I/V轉換電路、輸出選擇開關以及數模轉換D/A連接實現信號傳遞；所述的直接數字頻率合成器DDS將信號傳遞給主LFP低通電路，所述的主LFP低通電路分別將信號傳遞給輸出程控放大電路以及四組模擬乘法器，所述的數模轉換D/A將信號分別傳遞給二極體測試恒壓恒流輸出電路以及輸出程控放大電路；所述的輸出選擇開關接收到第二CPLD邏輯器件的信號并對二極體測試恒壓恒流輸出電路、輸出程控放大電路以及DCR恒流電路選擇接收，之后將接收信號傳遞給掃描卡；所述的掃描卡接收掃描卡控制接口以及輸出選擇開關的信號對被檢測物進行檢測并將被檢測物的信號傳遞給差分測量電路以及程控I/V轉換電路，所述的差分測量電路將信號傳遞給電子選擇開關；所述的程控I/V轉換電路接收到第二CPLD邏輯器件以及掃描卡的信號傳遞給電子選擇開關，所述的電子選擇開關將選擇后的信號傳遞給程控放大電路，所述的程控放大電路接收到第二CPLD邏輯器件以及電子選擇開關輸出的信號輸出到四組模擬乘法器內處理；模擬乘法器內的信號通過支LFP低通電路傳遞給ADC模數轉化器之后反饋給第二CPLD邏輯器件。

進一步地，為了方便輸出報警信號，所述的DSP處理器與蜂鳴器連接。

進一步地，所述的DSP處理器與用于控制開始或停止測量并且送出判定結果信號的控制判定電路連接。

本發明的有益效果是：采用了上述測量電路之后，DSP處理器發出測量信號，被測物體通過掃描卡測量到的信號傳遞到程控放大器轉換成合適測量的電壓信號，再由主LFP低通電路將獲得的模擬信號通過ADC數模轉換器轉化為數字信號，并通過DSP處理器處理活動準確度較高的阻抗、電感量、電容量等，測試高效快捷，方便觀察、計量以及后期分析。

附圖說明：

圖1是本發明的電路原理框圖；

圖2是本發明DSP處理器的電路圖；

圖3是本發明源程序存儲器的電路圖；

圖4是本發明靜態隨機存儲器的電路圖；

圖5是本發明校正接口的電路圖；

圖6是本發明掉電自動存儲器的電路圖；

圖7是本發明掃描卡控制接口的電路圖；

圖8是本發明二極體測試恒壓恒流輸出電路圖；

圖9是本發明直接數字頻率合成器DDS的電路圖；

圖10是本發明主LFP低通電路圖；

圖11是本發明差分測量電路圖；

圖12是本發明程控I/V轉換電路圖。

具體實施方式：

下面結合附圖對本發明作詳細的描述。