[發明專利]基于吻合度的模型正確性的評價方法有效
| 申請號: | 201410305053.4 | 申請日: | 2014-06-30 |
| 公開(公告)號: | CN104077485B | 公開(公告)日: | 2017-05-03 |
| 發明(設計)人: | 陳光達;楊冬娟;周金柱;孟娟;李維超;孟文輝;李勛;李明 | 申請(專利權)人: | 西安電子科技大學 |
| 主分類號: | G06F19/00 | 分類號: | G06F19/00 |
| 代理公司: | 北京世譽鑫誠專利代理事務所(普通合伙)11368 | 代理人: | 郭官厚 |
| 地址: | 712046*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 吻合 模型 正確性 評價 方法 | ||
1.基于吻合度的蒙皮天線力電耦合模型的正確性的評價方法,其特征在于,包括以下步驟:
(一)、建立模型的遞階層次結構:
按照各因素的隸屬度關系建立遞階層次結構,共分為頂層目標節點、中間層子節點、底層子子節點三個層次,其中,用蒙皮天線力電耦合模型的各輸出參數的吻合度作為底層子子節點,包括:應力吻合度x11、應變吻合度x12、位移吻合度x13、增益吻合度x21、波束寬度吻合度x22、駐波比吻合度x23和副瓣吻合度x24;用輸出參數所屬的各類綜合性能指標的吻合度作為中間層子節點,包括:力學特性的吻合度X1和電特性的吻合度X2;用能夠體現模型正確性的模型的總吻合度D作為頂層目標節點;
這樣就建立了蒙皮天線力電耦合模型的遞階層次結構,在該遞階層次結構中,上層節點對下層節點有支配作用,同一層因素相互獨立,其中:
Wi表示子節點i相對于頂層節點的權重,
w1i表示子子節點i相對于子節點1的權重,
w2j表示子子節點j相對于子節點2的權重;
(二)、計算遞階層次結構最底層子子節點各參數的單項吻合度:
(1)、在模型的大小及輸入參數已知的情況下,計算或仿真得到模型的輸出參數的理論計算值,其中,應力、應變和位移的理論計算值分別記為y11、y12、y13,增益、波束寬度、駐波比和副瓣的理論計算值分別記為y21、y22、y23、y24;
(2)、通過實驗測得相同輸入下該模型對應的輸出參數的實際測試值,其中,應力、應變和位移的實際測試值分別記為z11、z12、z13,增益、波束寬度、駐波比和副瓣的實際測試值分別記為z21、z22、z23、z24;
(3)、計算輸出參數的理論計算值與實際測試值之間的相對誤差,其中:
(4)、將相對誤差通過偏小型高斯分布函數映射為吻合度,計算單項指標吻合度的偏小型高斯分布曲線,計算公式如下:
x1m表示通過相對誤差△E1m映射得到的子子節點m的吻合度,
x2n表示通過相對誤差△E2n映射得到的子子節點n的吻合度,
x表示相對誤差誤差取值上下限,
一般取
(三)、計算子子節點各參數相對于子節點的權重:
利用層次分析法計算子子節點相對于各子節點的權重,在遞階層次結構中,為了方便后面的定量表示,一般從上到下用A、B、C...代表不同層次,同一層次從左到右用1、2、3、4…代表不同因素,計算子子節點相對于各子節點的權重具體包括如下步驟:
(1)、構造判斷矩陣:
在模型的遞階層次結構中,子節點每個元素作為判斷矩陣的第一個元素,隸屬于它的各子子節點的元素依次排列在其后的第一行和第1列,針對判斷矩陣的準則,對各個元素的重要性程度按1-9賦值;
(2)、判斷矩陣一致性檢驗:
a、由|λI-R|=0計算判斷矩陣R的最大特征根λmax,其中I為單位矩陣;
b、由得一致性指標C.I.;
c、查表確定相應的平均隨機一致性指標R.I.;
d、計算一致性比例C.R.并進行判斷:
當C.R.<0.1時,判斷矩陣的一致性可以接收;
當C.R.≥0.1時,判斷矩陣不符合一致性要求,需要對該判斷矩陣進行重新修正;
(3)、計算權重向量:
對滿足一致性的判斷矩陣,先進行列向量歸一化,再求行和歸一化,獲得每個指標的相對權重;
(四)、計算各子節點的吻合度:
根據步驟(二)得到的子子節點各參數的吻合度x11、x12、x13、x21、x22、x23、x24,以及根據步驟(三)得到的子子節點各參數的相對子節點的權重w11、w12、w13、w21、w22、w23、w24,計算得到各子節點的吻合度X1和X2;
(五)、計算子節點各參數相對于目標節點的權重,具體包括以下子步驟:
(1)、構造判斷矩陣:
在模型的遞階層次結構中,目標節點元素作為判斷矩陣的第一個元素,隸屬于它的各子節點的元素依次排列在其后的第一行和第1列,針對判斷矩陣的準則,對各個元素的重要性程度按1-9賦值;
(2)、判斷矩陣一致性檢驗:
a、由|λI-R|=0計算判斷矩陣R的最大特征根λmax,其中I為單位矩陣;
b、由得一致性指標C.I.;
c、查表確定相應的平均隨機一致性指標R.I.;
d、計算一致性比例C.R.并進行判斷:
當C.R.<0.1時,判斷矩陣的一致性可以接收;
當C.R.≥0.1時,判斷矩陣不符合一致性要求,需要對該判斷矩陣進行重新修正;
(3)、計算權重向量:
對滿足一致性的判斷矩陣,先進行列向量歸一化,再求行和歸一化,獲得每個指標的相對權重W1和W2;
(六)、計算目標節點的吻合度:
根據步驟(四)獲得的子節點各參數的吻合度X1和X2,以及步驟(五)獲得的各參數的相對目標節點的權重W1和W2,計算得到目標節點的吻合度D;
(七)、通過吻合度D評價蒙皮天線力電耦合模型的正確性:
吻合度D值越大,該模型的正確性程度越高,蒙皮天線的性能越好;反之,該模型的正確性程度越低,蒙皮天線的性能越差。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于西安電子科技大學,未經西安電子科技大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410305053.4/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類
G06F 電數字數據處理
G06F19-00 專門適用于特定應用的數字計算或數據處理的設備或方法
G06F19-10 .生物信息學,即計算分子生物學中的遺傳或蛋白質相關的數據處理方法或系統
G06F19-12 ..用于系統生物學的建?;蚍抡妫纾焊怕誓P突騽討B模型,遺傳基因管理網絡,蛋白質交互作用網絡或新陳代謝作用網絡
G06F19-14 ..用于發展或進化的,例如:進化的保存區域決定或進化樹結構
G06F19-16 ..用于分子結構的,例如:結構排序,結構或功能關系,蛋白質折疊,結構域拓撲,用結構數據的藥靶,涉及二維或三維結構的
G06F19-18 ..用于功能性基因組學或蛋白質組學的,例如:基因型–表型關聯,不均衡連接,種群遺傳學,結合位置鑒定,變異發生,基因型或染色體組的注釋,蛋白質相互作用或蛋白質核酸的相互作用





