[發明專利]X射線對鈦合金高密度夾雜物檢測靈敏度的測試方法無效
| 申請號： | 201410304664.7 | 申請日： | 2014-06-30 |
| 公開（公告）號： | CN104089965A | 公開（公告）日： | 2014-10-08 |
| 發明（設計）人： | 范興義;羅順明;吳昊;朱玉;畢志偉;李雪;晏燕;張振 | 申請（專利權）人： | 貴州安大航空鍛造有限責任公司 |
| 主分類號： | G01N23/04 | 分類號： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 561005 貴州省*** | 國省代碼： | 貴州;52 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 射線 鈦合金 高密度 夾雜 檢測 靈敏度 測試 方法 | ||
1.一種X射線對鈦合金高密度夾雜物檢測靈敏度的測試方法，其特征在于，包括以下步驟：
(1)將鈦合金材料制成相同厚度的鈦合金板塊；
(2)選擇高密度金屬材料制成形狀、大小備不相同的金屬顆粒；
(3)將高密度金屬顆粒嵌入到鈦合金板塊的上表面，形成高密度夾雜物；
(4)再將嵌入高密度夾雜物的鈦合金板塊與沒有嵌入高密度夾雜物的鈦合金板塊疊起來形成模擬工件，并將模擬工件放入X射線檢測儀下，在模擬工件的下面放有一成像底片，設定合適的X射線檢測參數對其進行X射線檢測，當X射線照射到模擬工件并穿過高密度夾雜物時會將高密度夾雜物反映在成像底片上；
(5)根據高密度夾雜物在成像底片上的成像情況可以判斷X射線對鈦合金高密度夾雜物檢測靈敏度。
2.根據權利要求1所述的X射線對鈦合金高密度夾雜物檢測靈敏度的測試方法，其特征在于，所屬鈦合金板塊共8塊，每塊鈦合金板塊的厚度為10mm。
3.根據權利要求1所述的X射線對鈦合金高密度夾雜物檢測靈敏度的測試方法，其特征在于，所述高密度金屬材料為鉭、鎢、鉬、鈮。
4.根據權利要求1所述的X射線對鈦合金高密度夾雜物檢測靈敏度的測試方法，其特征在于，所述金屬顆粒的尺寸如下表所示：
5.根據權利要求1所述的X射線對鈦合金高密度夾雜物檢測靈敏度的測試方法，其特征在于，所述的高密度夾雜物與成像底片之間距離，通過有高密度夾雜物的鈦合金板塊與沒有高密度夾雜物的鈦合金板塊的疊放位置來確定。
6.根據權利要求1所述的X射線對鈦合金高密度夾雜物檢測靈敏度的測試方法，其特征在于，所述的模擬工件的厚度通過有高密度夾雜物的鈦合金板塊與沒有高密度夾雜物的鈦合金板塊的總個數來確定。
7.根據權利要求1所述的X射線對鈦合金高密度夾雜物檢測靈敏度的測試方法，其特征在于，所述X射線對鈦合金高密度夾雜物檢測靈敏度的確定方法：
其中，高密度夾雜物在模擬工件中的位置關系，包括垂直方向上的位置關系和水平方向上的位置關系，水平方向上的位置可以根據其在成像底片上的成像位置來確定，垂直方向上的位置關系如下：
式中：
d為高密度夾雜物到成像底片的距離，單位mm；
f為X射線檢測儀的成像焦距，單位mm；
r為高密度夾雜物在成像底片上的放大倍數，是高密度夾雜物在成像底片上所成“影像”的面積與高密度夾雜物在豎直方向上的實際投影面積的比值。
其中，X射線能夠識別的最小高密度夾雜物尺寸以及X射線識別點狀和線狀高密度夾雜物的難易程度可以根據成像底片上的所顯示的高密度夾雜物的數量來確定。
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