[發(fā)明專利]一種衰減系數(shù)檢測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410303025.9 | 申請(qǐng)日: | 2014-06-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104142326A | 公開(公告)日: | 2014-11-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周楓;劉衛(wèi)華;李呈呈;趙群;周中彪 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)石油化工股份有限公司;中國(guó)石油化工股份有限公司石油物探技術(shù)研究院 |
| 主分類號(hào): | G01N21/84 | 分類號(hào): | G01N21/84;G01H9/00 |
| 代理公司: | 北京聿宏知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11372 | 代理人: | 吳大建;劉華聯(lián) |
| 地址: | 100728 北*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 衰減系數(shù) 檢測(cè) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及地球物理技術(shù)領(lǐng)域,具體地說(shuō),涉及一種衰減系數(shù)檢測(cè)方法。?
背景技術(shù)
當(dāng)電磁波進(jìn)入巖石時(shí),由于渦流的熱能損耗,將使電磁波的振幅隨進(jìn)入距離的增加而衰減,這種現(xiàn)象又稱為巖石對(duì)電磁波的吸收作用。巖石衰減系數(shù)則用于衡量巖石對(duì)電磁波的衰減程度,它也可以叫做巖石吸收系數(shù)。?
隨著油氣勘探的深入,地震資料的處理和解釋也隨著越來(lái)越精細(xì)。作為用于表示巖石特性的重要參數(shù),巖石的衰減系數(shù)對(duì)巖石所處環(huán)境變化的反應(yīng)要比波速靈敏得多。所以巖石衰減系數(shù)的檢測(cè)對(duì)于油氣勘探的進(jìn)一步發(fā)展有著重要作用。?
現(xiàn)有的巖石衰減系數(shù)檢測(cè)方法是利用超聲波探頭來(lái)分別測(cè)量巖石各平面的平面振幅和與待測(cè)巖石具有相同幾何形狀的標(biāo)準(zhǔn)樣品各平面的平面振幅。超聲波探頭在進(jìn)行測(cè)量的時(shí)候需要進(jìn)行接觸式測(cè)量。為了排除超聲波探頭與被測(cè)物體之間的空氣,以使超聲波能夠有效地傳入被測(cè)物體從而達(dá)到檢測(cè)目的,就需要用到耦合劑。而在檢測(cè)的過(guò)程中,耦合劑在被測(cè)物體表面所形成的耦合層會(huì)產(chǎn)生變化,這會(huì)使得檢測(cè)到的超聲波幅值及頻率響應(yīng)產(chǎn)生畸變,從而導(dǎo)致最終檢測(cè)結(jié)果的不準(zhǔn)確。?
基于上述情況,亟需一種能夠準(zhǔn)確檢測(cè)衰減系數(shù)的方法。?
發(fā)明內(nèi)容
為解決上述問(wèn)題,本發(fā)明提供了一種衰減系數(shù)檢測(cè)方法,所述方法包括:?
振幅檢測(cè)步驟,基于激光測(cè)振原理,分別檢測(cè)具有預(yù)設(shè)幾何形狀的被測(cè)樣品和衰減系數(shù)已知的標(biāo)準(zhǔn)樣品的樣品振幅數(shù)據(jù);?
衰減系數(shù)確定步驟,根據(jù)所述被測(cè)樣品和標(biāo)準(zhǔn)樣品的樣品振幅數(shù)據(jù),計(jì)算所述被測(cè)樣品的衰減系數(shù)。?
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例,所述振幅檢測(cè)步驟包括:?
利用電磁脈沖發(fā)生器分別向標(biāo)準(zhǔn)樣品和待測(cè)樣品發(fā)射預(yù)設(shè)電磁脈沖,以使所述標(biāo)準(zhǔn)樣品和待測(cè)樣品產(chǎn)生振動(dòng);?
利用激光測(cè)振儀分別對(duì)所述標(biāo)準(zhǔn)樣品和待測(cè)樣品的振動(dòng)進(jìn)行檢測(cè),得到所述標(biāo)準(zhǔn)樣品和待測(cè)樣品的樣品振幅數(shù)據(jù)。?
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例,利用激光測(cè)振儀根據(jù)預(yù)設(shè)掃描網(wǎng)格參數(shù)檢測(cè)所述標(biāo)準(zhǔn)樣品和待測(cè)樣品的樣品振幅數(shù)據(jù)。?
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例,所述預(yù)設(shè)掃描網(wǎng)格參數(shù)包括以下所列項(xiàng)中的至少一項(xiàng):?
網(wǎng)格形狀、網(wǎng)格點(diǎn)間隔、掃描次數(shù)。?
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例,在所述振幅檢測(cè)步驟中,?
利用激光測(cè)振儀分別獲取網(wǎng)格點(diǎn)位置處所述標(biāo)準(zhǔn)樣品和待測(cè)樣品的網(wǎng)格振幅數(shù)據(jù);?
根據(jù)所述網(wǎng)格振幅數(shù)據(jù),確定所述標(biāo)準(zhǔn)樣品和待測(cè)樣品的樣品振幅數(shù)據(jù)。?
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例,將所述標(biāo)準(zhǔn)樣品和待測(cè)樣品的在網(wǎng)格點(diǎn)的中心點(diǎn)位置處的網(wǎng)格振幅數(shù)據(jù),分別作為所述標(biāo)準(zhǔn)樣品和待測(cè)樣品的樣品振幅數(shù)據(jù)。?
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例,所述衰減系數(shù)確定步驟包括:?
根據(jù)所述標(biāo)準(zhǔn)樣品和待測(cè)樣品的樣品振幅數(shù)據(jù),分別獲取所述標(biāo)準(zhǔn)樣品和待測(cè)樣品的初至波數(shù)據(jù);?
分別對(duì)所述標(biāo)準(zhǔn)樣品和待測(cè)樣品的初至波數(shù)據(jù)進(jìn)行傅里葉變換,得到所述標(biāo)準(zhǔn)樣品和待測(cè)樣品的頻譜振幅數(shù)據(jù);?
根據(jù)所述標(biāo)準(zhǔn)樣品和待測(cè)樣品的頻譜振幅數(shù)據(jù),采用頻譜振幅比法計(jì)算所述待測(cè)樣品的衰減系數(shù)。?
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例,所述標(biāo)準(zhǔn)樣品和待測(cè)樣品的頻譜振幅數(shù)據(jù)分別以如下公式表示:?
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)石油化工股份有限公司;中國(guó)石油化工股份有限公司石油物探技術(shù)研究院,未經(jīng)中國(guó)石油化工股份有限公司;中國(guó)石油化工股份有限公司石油物探技術(shù)研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410303025.9/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 去除語(yǔ)音信號(hào)中背景噪聲的方法
- 確定射線段衰減系數(shù)的方法及裝置、計(jì)算射線衰減的方法
- 一種基于超聲的肝臟脂肪檢測(cè)系統(tǒng)
- 一種超聲衰減系數(shù)補(bǔ)償系統(tǒng)及肝臟脂肪檢測(cè)系統(tǒng)
- 基于超聲的超聲衰減系數(shù)補(bǔ)償系統(tǒng)及肝臟脂肪檢測(cè)系統(tǒng)
- 衰減系數(shù)的確定方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種評(píng)價(jià)二次供水水箱清潔狀況的方法
- 一種二次供水儲(chǔ)水設(shè)備清潔狀況的評(píng)判方法
- 一種確定錨桿衰減系數(shù)的方法
- 顯示畫面的功耗控制方法及裝置
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





