[發明專利]半導體器件

有效

• 申請號: 201410295589.2
• 申請日: 2014-06-26
• 公開（公告）號: CN104253601B
• 公開（公告）日: 2018-12-14
• 發明（設計）人: 荒木雅宏
• 申請（專利權）人: 瑞薩電子株式會社
• 主分類號: H03K17/687
• 分類號: H03K17/687
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 王茂華

一種半導體器件，包括：端子、生成恒定電壓的電源電壓降低電路、響應于第一時鐘向端子定期地施加恒定電壓的開關電路、電流控制的振蕩器電路、以及計數器，其中，電源電壓降低電路向開關電路供應第一電流，電流控制的振蕩器電路生成其頻率響應于第一電流的值而改變的第二時鐘，并且計數器在計數時間內對第二時鐘的數目進行計數。

有關申請的交叉引用

包括說明書、說明書附圖和說明書摘要、提交于2013年6月27日的日本專利申請第2013-135092號的公開內容通過完全引用而結合于此。

技術領域

本發明涉及一種半導體器件，并且例如涉及一種包含電容觸摸傳感器電路的半導體器件。

背景技術

電容觸摸傳感器電路常用于觸鍵和觸屏技術領域。美國專利第8089289號公開一種用于通過使用西格瑪-德爾塔調制器電路將從切換電容電路輸出的信號調制成數字信號的結構。美國專利第7312616號公開一種結構，該結構通過在比較器上比較參考電壓與用于目標測量電容的端子電壓來測量目標測量電容的值，該目標測量電容在指定的頻率被反復地充電和放電。日本待審專利申請公開文本第2008-199408號公開一種其頻率通過由操作部觸摸或未由操作部觸摸而改變的振蕩器、以及一種用于檢測該振蕩器輸出的頻率信號的頻率改變的結構。

發明內容

如在美國專利第8089289號中公開的那樣，一種用于通過利用比較器以將參考電壓與基于周期充電-放電電流生成的檢測電壓比較來測量電容值的技術是一種普遍使用的技術。比較器是用于判斷在檢測電壓與參考電壓之間的微小電壓差值并且將該判斷結果轉換成數字信號的電路。在包含西格瑪-德爾塔調制器電路的系統上疊加的噪聲對微小電壓差值施加影響，從而引起比較器中的判決誤差。

西格瑪-德爾塔調制器電路包含如下結構，該結構通過時鐘對來自比較器的輸出進行采樣，因此噪聲引起的在采樣結果中的偏差將表現為比較器輸入中的偏移，并且引起測量準確度下降。其它問題和新特征將由說明書中的描述和附圖中變得顯而易見。

根據本發明的一個方面，一種半導體器件包括端子、生成恒定電壓的電源電壓降低電路、用于響應于第一時鐘而向端子定期地施加恒定電壓的開關電路、第一電流控制的振蕩器電路、和第一計數器；并且其中電源電壓降低電路向開關電路供應第一電流，第一電流控制器的振蕩器電路生成其頻率響應于第一電流的值而改變的第二時鐘，并且第一計數器在計數時間內對第二時鐘的數目進行計數。

根據本發明的各個方面，去除在檢測來自觸摸電極的電容波動期間由于噪聲所致的影響，并且無論觸摸電極是否被觸摸都維持判決的準確性。

附圖說明

圖1是第一實施例的半導體器件的結構框圖；

圖2是在第一實施例的半導體器件中包含的電流控制的振蕩器電路的電路圖；

圖3是第一實施例的半導體器件的開關電路的電路圖；

圖4是在第一實施例的半導體器件中包含的電流控制的振蕩器電路的特征曲線圖；

圖5是第一實施例的第一修改的半導體器件的框圖；

圖6是用于描述在第一實施例的第一修改的半導體器件中包含的恒定電流電路的功能的附圖；

圖7是用于描述在第一實施例的修改的半導體器件中包含的恒定電流電路的影響的附圖；

圖8是第一實施例的第二修改的半導體器件的框圖；