[發明專利]一種適用于多種引腳微小間距的芯片測試探針在審
| 申請號: | 201410294352.2 | 申請日: | 2014-06-26 |
| 公開(公告)號: | CN104090135A | 公開(公告)日: | 2014-10-08 |
| 發明(設計)人: | 李鑫;朱天成;楊陽 | 申請(專利權)人: | 中國航天科工集團第三研究院第八三五七研究所 |
| 主分類號: | G01R1/073 | 分類號: | G01R1/073 |
| 代理公司: | 天津翰林知識產權代理事務所(普通合伙) 12210 | 代理人: | 李濟群 |
| 地址: | 300308 天津*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 適用于 多種 引腳 微小 間距 芯片 測試 探針 | ||
技術領域
本發明屬于硬件設計測試技術領域,具體是一種適用于多種引腳微小間距的芯片測試探針。該探針能夠對多種不同封裝、不同引腳間距的芯片進行測試,并且具備了獨特的可調節探針間距功能,可以有效地解決由于傳統示波器探針過粗無法測量引腳間距過小的芯片問題。
背景技術
隨著集成電路產業的迅速發展,芯片的尺寸越來越小,集成規模越來越大,實現的功能也越來越復雜,廣泛的應用于各個行業,成為人類生活中不可或缺的一部分。但是與芯片產業的快速發展不同的是,芯片的測試手段和測量工具的發展并沒有隨著芯片的復雜度的提升而得到應有的進步。面對功能不斷增加、引腳數目日益增多的芯片,如何針對芯片所具有的功能進行全面的、準確的測試已經成為業界日益關注的問題。
在硬件電路的調試過程中,如果芯片出現異常,需要對芯片的某些信號進行監測和故障定位,傳統的也是最常用的方法是采用示波器對芯片的引腳上的信號進行采集,觀察芯片引腳上的信號的波形,進而對故障進行定位排除。然而,隨著芯片的功能和復雜程度的增加,芯片在面積不變的趨勢下引腳數目越來越多,導致了芯片引腳間的間距越來越小。傳統的示波器的探針由于探針過粗而無法對芯片引腳進行有效的測量,而且過密的引腳數目使得測試人員在對故障區域引腳進行定位也變得十分困難。
發明內容
針對現有技術的不足,本發明擬解決的技術問題是:提供一種適用于多種引腳微小間距的芯片測試探針。該測試探針能夠自由變換測量探針之間的間距,不僅可以對標準引腳間距的芯片進行測量,而且可以對非標引腳間距的芯片進行測量;該測試探針還具有引腳定位功能,測量者只需要根據芯片引腳間距調整好金屬探針位置,即可根據引腳定位孔直接進行測量,節省了時間,提高了效率,且結構簡單,適于工業化實施。
本發明解決所述技術問題的技術方案是:設計一種適用于多種引腳微小間距的芯片測試探針。其特征在于該測試探針由測量電路板、金屬探針、連接器、支架和測試端點組成;所述測量電路板上一端有用于連接連接器的PAD點,另一端有用于測量信號的測試端點,PAD點與測試端點以印制線的形式直接相連;所述金屬探針的根數根據應用場合定制,安裝在連接器上,間距固定,且呈一直線排列;金屬探針可以在連接器上伸縮,與連接器靠二者之間的摩擦阻力連接,伸縮時,用手將金屬探針推至合適位置即可;所述連接器其金屬探針連接端為一排孔槽,用于安裝金屬探針,孔槽的個數與金屬探針的根數相同;所述連接器上的孔槽采用標準圓形孔槽結構,金屬探針的根部與孔槽以可插拔的方式連接,在對非標準間距的芯片引腳進行測量時,可將多余的金屬探針拔出,不會影響測量效果;所述連接器的電路連接端與測量電路板上的PAD點相連接,測量電路板上的測試端點的個數與連接器上孔槽的個數相同,所述孔槽與測試端點經過PAD點直線電連通,并與測試端點以相同數字編號的形式一一對應;所述測量電路板四角安裝有支架,用于對測試探針進行支撐。
與現有技術相比,本發明的有益效果是:
1.本發明有效解決了芯片間距過小時,示波器探頭無法有效對芯片進行測量的問題,使得測量人員在不用更換示波器探頭的情況下,能夠對小間距芯片進行測量。
2.本發明通過采用可插拔探針設計,使其在不用更換其他測量工具的情況下,就可以測量不同引腳間距的芯片,具有極高的靈活性和通用性。
3.本發明采用了L型探針和測量板四周配有塑料支架設計,使得探針與芯片引腳之間的接觸更加可靠,提高了測量的準確性。
附圖說明
圖1為本發明適用于多種引腳微小間距的芯片測試探針一種實施例的俯視示意圖。
圖2為本發明適用于多種引腳微小間距的芯片測試探針一種實施例的仰視示意圖。
圖3為本發明適用于多種引腳微小間距的芯片測試探針一種實施例的側視示意圖。
具體實施方式
下面結合具體實施例及附圖詳細敘述本發明。
本發明設計的適用于多種引腳微小間距的芯片測試探針(簡稱測試探針,參見圖1-3),其特征在于:該測試探針由測量電路板1、金屬探針2、連接器3、支架4和測試端點5組成;所述測量電路板1上一端有用于安裝連接器3的PAD點11,另一端有用于測量信號的測試端點5,PAD點11與測試端點5以印制線的形式直接相連;
所述金屬探針2的根數根據應用場合定制,安裝在連接器3上,間距固定,且呈一直線排列;金屬探針2可以在連接器3上伸縮,與連接器3靠二者之間的摩擦阻力連接,伸縮時,用手將金屬探針2推直合適位置即可;
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