[發明專利]一種基于聚類分析的3MAD-MMMD過失誤差偵破方法在審
| 申請號: | 201410294117.5 | 申請日: | 2014-06-27 |
| 公開(公告)號: | CN104050277A | 公開(公告)日: | 2014-09-17 |
| 發明(設計)人: | 肖冬;包晶晶;高旭陽 | 申請(專利權)人: | 東北大學 |
| 主分類號: | G06F17/30 | 分類號: | G06F17/30 |
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| 地址: | 110819 遼寧省沈陽市*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 聚類分析 mad mmmd 過失 誤差 偵破 方法 | ||
技術領域
本發明涉及了一種基于聚類分析的3MAD-MMMD過失誤差偵破方法,精度高,可靠性好,經濟實用。?
背景技術
目前,我國工業企業的產品質量檢測工作大部分依賴定時、離線地采樣分析。生產操作幾乎是完全依靠經驗和感官知覺,從而造成產品質量不穩定,收益較低。軟測量技術被認為是解決這一問題的卓有成效的方法。軟測量技術的核心在于建立工業對象的模型,而初始模型是對過程變量的歷史數據進行辨識而來的。因此建模所需數據精確與否,在很大程度上決定了軟測量建模模型的有效性和準確性。因此,為了保障模型的精度,在建立軟測量模型之前,通過某種方法,將真實信號從受誤差影響的混合信號中分離出來。這個過程被稱之為過失誤差偵破.?在實際工業過程中,數據采集過程無法精確到足以發現所有誤差。其中,誤差分為兩種:隨機誤差和過失誤差。通常,隨機誤差對建模的影響較小且不能避免,只能盡量減小;而過失誤差往往對軟測量建模的影響很大,需要我們予以剔除。引起過失誤差的原因主要有:儀器的零點漂移,儀器操作故障,操作不穩定等。過失誤差會對建模帶來嚴重的干擾,因此在建立軟測量模型之前,需要將過失誤差數據從模型數據中偵測并且分離出來,這對成功建立精確的軟測量模型不可或缺。?
發明內容
本發明的目的,是提供一種有效的過失誤差偵破方法,能夠剔除用于建模的數據集中的過失誤差數據,從而提高數據精度,保證軟測量建模的準確性和可靠性.?
針對嚴重影響數據品質的過失誤差,本發明提出了基于聚類分析的3MAD-MMMD過失誤差偵破方法。該方法在原有的MMMD方法的基礎上加入3MAD單變量偵破方法,既能有效剔除多變量的過失數據,又能在此之前進行單變量偵破,從而使MMMD偵破效果免受單變量大誤差的影響。實驗表明,基于聚類分析的3MAD-MMMD過失誤差偵破方法比單一的3MAD方法和傳統的MMMD方法具有更高的偵破精度,為軟測量建模提供更加準確可靠的數據信息.
1、3MAD方法介紹:
在數據集x中,滿足下式的x(i)為發生過失誤差的數據點.
式中,x(i)——數據集中的數據點
??????xmedian——數據的中位數
??????median——求取數據的中位值
方法中,數據集x服從正態分布時,SMAD是標準差的無偏估計。當大誤差存在時,xmedian相比于平均值更能反映數據的中心位置.
2、MMMD方法介紹:
基于平均最小距離的聚類算法是一種行之有效的過失誤差偵破方法。該方法根據相似性的度量方法,把原始數據聚類成不同的數據類,這樣就能方便地把異類點和主體數據分開,從而實現過失誤差偵破。MMMD方法將數據集中的數據均考慮進來,使用數據集中的數據與其臨近點的距離的中位值作為準則.
在d維空間中,給定具有N個數據對象的集合,X1,X2,。。。,XN,Xi=(xi1,xi2,。。。,xid)。數據集中每個數據點距離其臨近點距離用xdi表示:
xid——任意兩個數據點間的距離
xik、xjk——不同數據集中的任意兩個數據
各數據點到其最近點的距離用di來表示,距離的中位值用MMMD來表示。若di>2MMMD,則視為過失誤差數據;若di<2MMMD,則視為正常數據。本文將此聚類算法稱為MMMD算法.
3、3MAD-MMMD過失誤差偵破方法
(1)具體步驟:
????假設軟測量建模原始數據矩陣為X(nxm),n代表測量采樣次數,m代表測量變量個數。
首先采用3MAD方法,利用主元分析式對X的每一列進行單變量的過失誤差偵破,只要有一個變量在t時刻發生了過失誤差,就把t時刻的數據從建模樣本中剔除,即?xij?的第i個元素超出了誤差邊界,將其整行剔除掉,最后得X'(n1×m)。
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