[發明專利]基于雙邊帶調制的光器件測量方法及測量裝置

有效

• 申請號: 201410291393.6
• 申請日: 2014-06-25
• 公開（公告）號: CN104101484A
• 公開（公告）日: 2014-10-15
• 發明（設計）人: 潘時龍;卿婷;薛敏;黃夢昊
• 申請（專利權）人: 南京航空航天大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 南京經緯專利商標代理有限公司 32200
• 代理人: 楊楠

1.基于雙邊帶調制的光器件測量方法，其特征在于，首先利用光雙邊帶調制方法將頻率為的射頻信號調制于頻率為的第一光載波信號上，生成雙邊帶調制信號；然后令雙邊帶調制信號通過待測光器件后與第二光載波信號合束，所述第二光載波信號與第一光載波信號之間存在頻率差；利用光電探測器對合束后的信號進行拍頻，然后提取拍頻信號中+1階邊帶信號及-1階邊帶信號的幅度信息，該+1階邊帶信號的幅度信息和-1階邊帶信號的幅度信息分別為待測光器件在頻率和頻率處的幅頻響應；掃描所述射頻信號的頻率，即得到待測光器件的寬帶幅頻響應。

2.基于雙邊帶調制的光器件測量裝置，其特征在于，包括：光載波生成單元、光合束器、光雙邊帶調制器、微波掃頻源、光電探測器、頻譜分析單元、主控單元；所述光載波生成單元可輸出兩路相互之間存在頻率差的光載波信號；光雙邊帶調制器將微波掃頻源輸出的微波掃頻信號調制于光載波生成單元輸出的其中一路光載波信號，生成光雙邊帶調制信號；光雙邊帶調制信號經過待測光器件后與光載波生成單元輸出的另外一路光載波信號經光合束器進行合束，然后送入光電探測器進行拍頻；頻譜分析單元提取拍頻信號中+1階邊帶信號和-1階邊帶信號的幅度信息，該+1階邊帶信號的幅度信息和-1階邊帶信號的幅度信息分別為待測光器件在頻率和頻率處的幅頻響應，其中為輸入光雙邊帶調制器的光載波信號的頻率，為微波掃頻源輸出的射頻信號頻率；主控單元控制微波掃頻源掃頻，并根據頻譜分析單元所提取的幅度信息，得到待測光器件的寬帶幅頻響應。

3.如權利要求2所述基于雙邊帶調制的光器件測量裝置，其特征在于，所述光載波生成單元包括：光源、光分束器、光移頻器；光分束器將光源輸出的光信號分為兩路，其中一路經由所述光移頻器移頻后輸出，另外一路直接輸出。

4.如權利要求2所述基于雙邊帶調制的光器件測量裝置，其特征在于，所述光載波生成單元包括兩個并聯的光源，且兩個光源所輸出光信號之間存在頻率差。