[發明專利]非均質古巖溶碳酸鹽巖儲層產能預測方法在審
| 申請號: | 201410285705.2 | 申請日: | 2014-06-24 |
| 公開(公告)號: | CN104047598A | 公開(公告)日: | 2014-09-17 |
| 發明(設計)人: | 賀洪舉;齊寶權;胡振平;張樹東;周政英;屈玲;趙中明;姜艷玲 | 申請(專利權)人: | 中國石油集團川慶鉆探工程有限公司 |
| 主分類號: | E21B49/00 | 分類號: | E21B49/00 |
| 代理公司: | 成都天嘉專利事務所(普通合伙) 51211 | 代理人: | 毛光軍 |
| 地址: | 610051 四川省成都市成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 非均質古 巖溶 碳酸鹽 巖儲層 產能 預測 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種非均質古巖溶碳酸鹽巖儲層產能預測方法,屬于地質勘探技術領域。
背景技術
四川盆地川中地區震旦系燈影組和寒武系龍王廟組作為最古老的油氣勘探層系,儲層具有多期溶蝕、多重介質、孔隙結構復雜、巖溶發育、硅質等充填作用強以及非均質、似均質儲集體相互重疊的特點,造成了復雜的空隙空間結構,其產能評價更是一道難題。
通常利用常規測井資料計算儲層的孔隙度、滲透率和含油氣飽和度,并借助于神經網絡法來評價儲層和預測產能。當孔隙或溶蝕孔的大小和分布較均一時,這種方法評價儲層和預測產能是較為有效的。但是在各向異性較強,特別是孔洞大小的差異較大或分布不均,即溶蝕孔洞的非均質性較強時,該方法的偏差較大。為了解決此問題,:《西南石油大學學報(自然科學版)》2008年第01期提出了非均質碳酸鹽巖儲層及產能評價方法探索:非均質碳酸鹽巖儲層的定量評價以及產能預測一直是測井分析中難以解決的問題,利用成像測井、核磁共振測井和偶極聲波測井等資料分析了非均質儲層特征,通過核磁共振測井分析了孔徑大小及其與滲透率的關系,介紹了如何利用POROSPECT計算結果來描述原生、次生孔隙度,并研究了成像測井和核磁共振測井定量描述非均質儲層的方法,較好地探索了孔洞縫發育程度、總孔隙度、次生孔隙度、滲透率、孔徑大小與產能的關系以及利用核磁共振、成像測井評價產能的適應性。
但在實際應用中,上述技術還存在如下不足:
1、完全忽視了基質孔隙度對產能的貢獻。
2、滲透率是根據核磁共振測井和斯通利波時差計算的滲透率,但斯通利波時差受泥餅影響較大,因此不利于提高滲透性評價的準確性。
3、沒有考慮面洞率參數對產能的影響,導致產能預測精度較低。
4、現有技術主要分析了成像計算的次生孔隙度、儲層厚度以及核磁滲透率、儲層厚度與產能的相關性,都是單一因素的分析,并未形成綜合信息的產能預測模型。
發明內容
本發明的目的在于克服現有非均質碳酸鹽巖儲層產能評價存在的上述問題,提供一種非均質古巖溶碳酸鹽巖儲層產能預測方法。本發明解決了非均質巖溶儲層的精細刻畫和表征問題,解決了非均質古巖溶儲層滲透性的問題,解決了非均質古巖溶儲層產能的主控因素問題,解決了這些主控因素的定量計算問題,從而進行產能預測。
為實現上述目的,本發明采用的技術方案如下:
一種非均質古巖溶碳酸鹽巖儲層產能預測方法,其特征在于:通過儲層參數處理,對儲層進行分類,按分類儲層進行儲層厚度統計;再確定與產能相關的關鍵參數:基質孔隙度、斯通利波能量衰減、面洞率和儲層厚度;根據確定的關鍵參數,計算得出儲層品質綜合評價指數(RQ),并根據儲層品質綜合評價指數(RQ)建立產能預測模型,根據建立的產能預測模型對非均質古巖溶碳酸鹽巖儲層進行產能預測。
所述方法具體包括如下步驟:
a、采用最優化算法計算基質孔隙度;
b、通過陣列聲波能量歸一化處理、井眼校正之后的能量損失,計算斯通利波能量衰減;
c、通過電成像圖像處理,計算面洞率參數;
d、按分類儲層進行儲層厚度統計;
e、確定與產能密切相關的關鍵參數;
f、根據確定的關鍵參數,計算儲層品質綜合評價指數RQ;
g、根據計算得到的儲層品質綜合評價指數RQ建立產能預測模型,根據產能預測模型對非均質古巖溶碳酸鹽巖儲層進行產能預測。
所述步驟a具體包括如下過程:
a1、通過最優化算法計算硅質含量,計算巖性剖面,消除硅質的影響,再根據巖性剖面計算聲波和中子及密度加權平均孔隙度;
a2、按孔隙度Ф≥7%為Ⅰ類,7%>孔隙度Ф≥4%為Ⅱ類,2%≤孔隙度Ф<4%為Ⅲ類對儲層厚度和孔隙度進行分類。
所述步驟b具體包括如下過程:
b1、首先進行聲波能量值的歸一化:將該井斯通利波能量做直方圖統計分析,選取最大值作為斯通利波能量的基值,將目的層段的斯通利波能量值分別除以基值,將得到的數值作為歸一化后的斯通利波能量值,將斯通利波能量值統一到0~1;
b2、通過能量值的歸一化處理,再作井眼校正,消除非儲層因素的影響;
b3、定量計算斯通利波能量衰減:
AST=(1-AMPST/AMPSTM)*100%-(1-AMPST/AMPSTM)*100%*VSH
其中:
AST為作歸一化和巖性校正的斯通利波能量衰減;
AMPST為斯通利波能量;
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國石油集團川慶鉆探工程有限公司,未經中國石油集團川慶鉆探工程有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410285705.2/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





