[發明專利]一種基于穿戴式設備的抗壓、減壓能力檢測方法及裝置

有效

• 申請號: 201410284233.9
• 申請日: 2014-06-23
• 公開（公告）號: CN104042204A
• 公開（公告）日: 2014-09-17
• 發明（設計）人: 龔浩文
• 申請（專利權）人: 深圳市宏電技術股份有限公司
• 主分類號: A61B5/04
• 分類號: A61B5/04;A61B5/16
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所 44237
• 代理人: 張全文

1.一種基于穿戴式設備的抗壓、減壓能力檢測方法，其特征在于，包括：

通過所述穿戴式設備的兩塊電極片采集人體的皮電反應GSR數據，所述GSR數據包括皮膚電導反應SCR波形；

截取所述SCR波形中SCR值大于預設值的波段；

根據所述波段的上升沿和下降沿，判斷所述人體的抗壓能力和減壓能力。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述波段的上升沿和下降沿，判斷所述人體的抗壓能力和減壓能力包括：

獲取所述波段的上升沿的第一時間跨度和所述下降沿的第二時間跨度；

計算所述第一時間跨度和所述第二時間跨度的第一比值，所述人體的抗壓能力與所述第一比值負相關；

計算所述第二時間跨度與所述第一時間跨度的第二比值，所述人體的減壓能力與所述第二比值負相關。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述波段的上升沿和下降沿，判斷所述人體的抗壓能力和減壓能力包括：

分析所述波段的上升沿的SCR值與時間的關系，得到第一回歸函數；

若所述第一回歸函數為凹函數，則所述人體的抗壓能力與所述第一回歸函數凹的程度負相關；

若所述第一回歸函數為凸函數，則所述人體的抗壓能力與所述第一回歸函數凸的程度正相關。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述波段的上升沿和下降沿，判斷所述人體的抗壓能力和減壓能力包括：

分析所述波段的下降沿的SCR值與時間的關系，得到第二回歸函數；

若所述第二回歸函數為凹函數，則所述人體的減壓能力與所述第二回歸函數凹的程度正相關；

若所述第二回歸函數為凸函數，則所述人體的減壓能力與所述第二回歸函數凸的程度負相關。

5.如權利要求1至4任一項所述的方法，其特征在于，所述GSR數據還包括皮膚電導水平SCL波形；

在所述截取所述SCR波形中SCR值大于預設值的波段之前，所述方法還包括：

根據所述SCL波形確定所述預設值。

6.一種基于穿戴式設備的抗壓、減壓能力檢測裝置，其特征在于，包括：

GSR數據采集模塊，用于通過所述穿戴式設備的兩塊電極片采集人體的皮電反應GSR數據，所述GSR數據包括皮膚電導反應SCR波形；

波段截取模塊，用于截取所述SCR波形中SCR值大于預設值的波段；

抗壓、減壓能力判斷模塊，用于根據所述波段的上升沿和下降沿，判斷所述人體的抗壓能力和減壓能力。

7.如權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述抗壓、減壓能力判斷模塊包括：

時間跨度獲取子模塊，用于獲取所述波段的上升沿的第一時間跨度和所述下降沿的第二時間跨度；

抗壓能力判斷子模塊，用于計算所述第一時間跨度和所述第二時間跨度的第一比值，所述人體的抗壓能力與所述第一比值負相關；

減壓能力判斷子模塊，用于計算所述第二時間跨度與所述第一時間跨度的第二比值，所述人體的減壓能力與所述第二比值負相關。

8.如權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述抗壓、減壓能力判斷模塊包括：

第一回歸函數獲取子模塊，用于分析所述波段的上升沿的SCR值與時間的關系，得到第一回歸函數；

第一凹函數判定子模塊，用于若所述第一回歸函數為凹函數，則所述人體的抗壓能力與所述第一回歸函數凹的程度負相關；

第一凸函數判定子模塊，用于若所述第一回歸函數為凸函數，則所述人體的抗壓能力與所述第一回歸函數凸的程度正相關。

9.如權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述抗壓、減壓能力判斷模塊包括：

第二回歸函數獲取子模塊，用于分析所述波段的下降沿的SCR值與時間的關系，得到第二回歸函數；

第二凹函數判定子模塊，用于若所述第二回歸函數為凹函數，則所述人體的減壓能力與所述第二回歸函數凹的程度正相關；

第二凸函數判定子模塊，用于若所述第二回歸函數為凸函數，則所述人體的減壓能力與所述第二回歸函數凸的程度負相關。

10.如權利要求6至9任一項所述的裝置，其特征在于，所述GSR數據還包括皮膚電導水平SCL波形；

所述裝置還包括：

預設值確定模塊，用于根據所述SCL波形確定所述預設值。