[發明專利]半導體裝置

有效

• 申請號: 201410277787.6
• 申請日: 2006-01-27
• 公開（公告）號: CN104022797A
• 公開（公告）日: 2014-09-03
• 發明（設計）人: 岐津俊樹;下條義滿;繁田良則;正畑康郎
• 申請（專利權）人: 株式會社東芝
• 主分類號: H04B1/715
• 分類號: H04B1/715;H04L1/20
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 曲瑞

1.一種半導體裝置，包括：

跳頻確定單元(44)，從多個頻道中選擇1個頻道；

發送單元(41)，使用被選擇出的所述頻道進行分組數據的發送；

接收單元(42)，進行被選擇出的所述頻道的分組數據的接收；

錯誤檢測單元(48)，測量每個被選擇出的所述頻道的接收操作次數，對同步檢測錯誤和分組同步錯誤進行檢測，針對每個頻道將所述同步檢測錯誤的次數和分組同步錯誤的次數相加，作為錯誤信息次數；以及

控制單元(43)，使用所述接收操作次數和所述錯誤信息次數計算每個所述頻道的分組錯誤率，使用所述分組錯誤率來估計信道質量。

2.根據權利要求1所述的半導體裝置，其特征在于：

所述控制單元根據所述估計的結果來控制所述跳頻確定單元的選擇操作。

3.根據權利要求2所述的半導體裝置，其特征在于：

所述控制單元根據所述估計的結果來判斷各個頻道是否能夠使用，

控制所述跳頻確定單元的選擇操作，以便避開判斷為不能使用的頻道。

4.根據權利要求2所述的半導體裝置，其特征在于：

在所述控制單元計算了錯誤率之后，所述錯誤檢測單元清除所述接收操作次數和所述同步檢測錯誤。

5.根據權利要求2所述的半導體裝置，其特征在于：

所述控制單元在所述接收操作次數比預先確定的值少的情況下不進行分組錯誤率的計算，所述錯誤檢測單元不清除所述接收操作次數和所述同步檢測錯誤。

6.根據權利要求2所述的半導體裝置，其特征在于：

所述同步檢測錯誤是無法在規定時間內檢測出預定模式的同步字的情況。

7.根據權利要求6所述的半導體裝置，其特征在于：

所述分組同步錯誤是報頭錯誤和數據部分錯誤。

8.根據權利要求7所述的半導體裝置，其特征在于：

所述報頭錯誤是在報頭錯誤檢查中檢測到錯誤，并且該錯誤超過糾正代碼的能力的情況，

所述數據部分錯誤是在數據部分錯誤檢查中檢測到錯誤，并且該錯誤超出糾正代碼的能力的情況。