[發(fā)明專利]一種電子鼓檢測(cè)裝置及電子鼓檢測(cè)方法

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410271749.X
• 申請(qǐng)日: 2014-06-18
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN104019883A
• 公開(kāi)（公告）日: 2014-09-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 趙哲
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市蔚科電子科技開(kāi)發(fā)有限公司
• 主分類號(hào): G01H9/00
• 分類號(hào): G01H9/00
• 代理公司: 廣東廣和律師事務(wù)所 44298
• 代理人: 王峰

1.一種電子鼓檢測(cè)裝置，其特征在于，包括殼體、設(shè)置在該殼體內(nèi)的信號(hào)放大電路、采樣檢波電路、帶通濾波放大器、整形電路、MCU、驅(qū)動(dòng)電路和電源、設(shè)置在該殼體上的檢測(cè)光發(fā)射裝置和檢測(cè)光接收裝置、設(shè)置在該殼體上或殼體內(nèi)的檢測(cè)信號(hào)輸出裝置；該電源分別與該信號(hào)放大電路、采樣檢波電路、帶通濾波放大器、整形電路、MCU、驅(qū)動(dòng)電路、檢測(cè)光發(fā)射裝置、檢測(cè)光接收裝置和檢測(cè)信號(hào)輸出裝置連接供電；

該采樣檢波電路為能夠從調(diào)幅波中取出包絡(luò)信號(hào)的檢波電路；

該整形電路輸出波形為尖波；

該檢測(cè)光發(fā)射裝置、檢測(cè)光接收裝置的光路夾角大于等于0°小于等于50°；

所述檢測(cè)光接收裝置、信號(hào)放大電路、采樣檢波電路、帶通濾波放大器、整形電路、MCU、驅(qū)動(dòng)電路、檢測(cè)光發(fā)射裝置依次連接；

該MCU與該采樣檢波電路連接，驅(qū)動(dòng)該采樣檢波電路進(jìn)行檢波；該MCU與該檢測(cè)信號(hào)輸出裝置連接，輸出鼓皮振動(dòng)的相關(guān)信息；該MCU控制該驅(qū)動(dòng)電路驅(qū)動(dòng)所述檢測(cè)光發(fā)射裝置發(fā)射檢測(cè)光。

2.如權(quán)利要求1所述的電子鼓檢測(cè)裝置，其特征在于，所述采樣檢波電路包括電子模擬開(kāi)關(guān)一、電子模擬開(kāi)關(guān)二、積分電容一、積分電容二和運(yùn)算放大器，該電子模擬開(kāi)關(guān)一、電子模擬開(kāi)關(guān)二分別連接該運(yùn)算放大器的正負(fù)輸入端，該積分電容一的一端接地、另一端連接該電子模擬開(kāi)關(guān)一與該運(yùn)算放大器的連接端，該積分電容二的一端接地、另一端連接該電子模擬開(kāi)關(guān)二與該運(yùn)算放大器的連接端；該電子模擬開(kāi)關(guān)一、電子模擬開(kāi)關(guān)二的輸入端為采樣檢波電路的輸入端，該運(yùn)算放大器的輸出端為采樣檢波電路的輸出端。

3.如權(quán)利要求1所述的電子鼓檢測(cè)裝置，其特征在于，所述采樣檢波電路包括檢波二極管、檢波電容和檢波電阻，該檢波二極管的正極串聯(lián)在采樣檢波電路的第一輸入端，該檢波電容和檢波電阻分別連接在該檢波二極管的負(fù)極與該采樣檢波電路的第二輸入端之間，該檢波電阻的兩端為該采樣檢波電路的輸出端。

4.如權(quán)利要求1所述的電子鼓檢測(cè)裝置，其特征在于，所述檢測(cè)光發(fā)射裝置與檢測(cè)光接收裝置分別為紅外光發(fā)射裝置與紅外光接收裝置，或所述檢測(cè)光發(fā)射裝置與檢測(cè)光接收裝置分別為紫外光發(fā)射裝置與紫外光接收裝置。

5.如權(quán)利要求1至4之一所述的電子鼓檢測(cè)裝置，其特征在于，所述檢測(cè)信號(hào)輸出裝置為顯示器或音頻輸出裝置。

6.一種電子鼓檢測(cè)方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1、對(duì)振動(dòng)的被測(cè)鼓膜的檢測(cè)位置發(fā)射檢測(cè)光，接收被測(cè)鼓膜反射的檢測(cè)光；

S2、對(duì)接收到的檢測(cè)光反射信號(hào)依次進(jìn)行信號(hào)放大、采樣檢波、濾波放大和整形處理；

S3、檢測(cè)經(jīng)整形處理信號(hào)的振幅；

S4、輸出鼓皮振動(dòng)信息。

7.如權(quán)利要求6所述的電子鼓檢測(cè)方法，其特征在于，所述檢測(cè)光為紅外線或紫外線。