[發明專利]一種基于先驗概率模型的紅外圖像去條紋方法

有效

• 申請號: 201410271368.1
• 申請日: 2014-06-17
• 公開（公告）號: CN104008532B
• 公開（公告）日: 2017-01-04
• 發明（設計）人: 董文德;楊新民;顏如祥;張翠俠;呂志遠;王連山;張平;劉赟
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第二十八研究所
• 主分類號: G06T5/00
• 分類號: G06T5/00
• 代理公司: 江蘇圣典律師事務所32237
• 代理人: 胡建華

1.一種基于先驗概率模型的紅外圖像去條紋方法，其特征在于，包括如下步驟：

1)用高斯概率模型對復原圖像和已知帶條紋圖像的縱向一階和二階梯度差異分布進行建模；

2)用先驗概率模型對復原圖像的橫向一階和二階梯度分布進行建模；

3)將步驟1)和步驟2)所得的模型進行相乘得到完整的貝葉斯后驗概率模型；

4)對所得的完整的貝葉斯后驗概率模型求負自然對數，并將其轉化為最大后驗估計問題；

5)采用迭代優化方法對步驟4)所得的問題進行求解。

2.根據權利要求1所述的基于先驗概率模型的紅外圖像去條紋方法，其特征在于，所述步驟1)中，用于對復原圖像和已知帶條紋圖像的縱向一階和二階梯度差異分布進行建模的高斯概率模型的表達式為：

P(g|u)∝exp(-Σi=1N[(∂yg)i-(∂yu)i]2-Σi=1N[(∂yyg)i-(∂yyu)i]2),]]>

其中，g和u分別表示帶條紋紅外圖像和復原圖像；P(g|u)表示在u已知的條件下，g發生的后驗概率；i表示像素索引，表示逐項求和運算，N表示復原圖像的像素總數；表示縱向一階梯度算子，表示縱向二階梯度算子，表示將與g做卷積運算所得的g的縱向一階梯度，(表示的第i個像素；表示將與g做卷積運算所得的g的縱向二階梯度，(表示的第i個像素；表示將與u做卷積運算所得的u的縱向一階梯度，(表示的第i個像素；表示將與u做卷積運算所得的u的縱向二階梯度，(表示的第i個像素。